Микроскоп МСФУ-К

Принцип действия микроскопа основан на применении фотоэлектрических преобразователей перемещений с линейными шкалами, которые позволяют производить отсчет перемещений координатного стола с выводом результата на устройство цифровое отсчетное. Инструментальные микроскопы могут оснащаться видеосистемой для вывода изображения на монитор компьютера и программным обеспечением для автоматизированной обработки результатов измерения.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Рамановский Микроскоп М532/785 предназначен для получения увеличенных изображений мелких деталей структуры образцов, а также для измерения спектральных характеристик образца по спектрам рамановского рассеяния и фотолюминесценции. Функционал прибора М532/785 предназначен для задач спектральной идентификации и анализа состава микрочастиц и прочих микро-структурированных объектов и субстанций, а за счет системы с двумя лазерами 532 нм и 785 нм – идентификация под различные задачи. Особенности Пространственное разрешение 1 μм Измерение в режиме пропускания / отражения Лазер 532 нм и 785 нм в одном микроскопе Профессиональное ПО для автоматического распознавания веществ Расширенный спектральный диапазон позволяет одновременно анализировать Рамановское излучение и люминесценцию, что дает больше важной информации об изучаемом объекте Преимущества Полнофункциональная Рамановская система высокого класса по привлекательному и более эффективному соотношению цены и качества Небольшие размеры и портативность Анализ в сверхмалых дозах, основанный на собственной технологии SERS.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Предназначен для наблюдения прозрачных препаратов в проходящем свете в светлом поле. Данный микроскоп широко применяется при изучении естественных наук в школах 11-111 ступени, специальных учебных заведениях. Также его используют больницах, поликлиниках, для различных исследований в лабораторной и врачебной практиках. Особенностью данного вида микроскопа является независимость от внешнего источника питания и возможность работы в полевых условиях. Микроскоп укомплектован панкратическим окуляром, позволяющим плавно изменять увеличение, и револьвером для быстрой смены объективов. Технические характеристики Увеличение,крат 80...800 Ахроматические объективы 8x0,20 20x0.40 40x0,60 Панкратический окуляр 1 О^О’ Масса, кг, не более 1,4 кг Габаритные размеры 350x150х 110

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Предназначен: для наблюдения прямого объемного изображения непрозрачных объектов при плавном изменении увеличения панкратической системой (zоом). Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 6,5 – 180 Увеличение zоом объектива, крат 0,65 – 4,5 Видимое увеличение микроскопа, крат - со сменным объективом 2х - со сменным объективом 0,5х 6,5 – 135 13 – 270 3,25 – 67,5 Видимое увеличение окуляра, крат/ поле, мм 10х/22, 20х/12, 30х/8 Рабочее расстояние микроскопа, мм - со сменным объективом 2х, мм - со сменным объективом 0,5х, мм 100 26 177 Поле зрения в плоскости объекта, мм - со сменным объективом 2х - со сменным объективом 0,5х 34 - 1,7 17 - 0.85 68 - 3,4 Источник света галогенная лампа 12В 15Вт, осветитель с лампой устанавливается на головке микроскопа или на блоке питания Источник питания сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц через настольный блок с регулировкой яркости Габаритные размеры микроскопа, не более, мм 240х310х470 Масса микроскопа, не более, кг 10

Мы разработали прибор для мультиплексной диагностики различных вирусов, бактерий и других патогенных микроорганизмов, которые вызывают опасные заболевания человека или животных. При этом наша новая разработка позволит не только выявлять несколько инфекций за один анализ (в том числе и COVID-19), но и минимизирует ваши трудовые затраты, время и деньги. Преимущества Мультиплексность - диагностика до 30 маркёров в одном образце за один анализ Чувствительность - возможность проведения качественного и количественного анализа Скорость - время анализа 4 секунды Компактность - удобный размер, требующий минимального пространства на рабочем столе Мобильность - возможность использования в различных лабораториях Открытая система - использование любых тест-систем на основе магнитных кодированных микросфер Гибкость - анализ широкого спектра биомаркёров

Интерференционный микроскоп "ФемтоСкан Инлайт" служит для точного измерения топографии отражающих объектов, может использоваться для наблюдения плоскостности динамически изменяющейся поверхности (например, грани растущего кристалла), измерения толщины пленок (высоты выступов, образованных краями пленки и подложки). Микроскоп позволяет исследовать образцы на воздухе и в жидких средах. Принцип действия основан на интерференции лучей отраженных от поверхности исследуемого образца с опорным световым потоком одинаковой интенсивности.

Лазерный модуль (473 нм и 635 нм) Детекторный модуль (для 473 нм и 635 нм) Дополнительный канал для Piezo Control Sustem Объектив Пьезо Настройка конфокального модуля на другую длину волны.

Стереоскопический микроскоп МБС-10М предназначен для наблюдения как объёмных предметов, так и тонких плёночных и прозрачных объектов, а также препарировальных работ.

Высокоскоростная сканирующая микроскопия ионной проводимости Бесконтактное исследование живых клеток в естественной физиологической среде Измерение механических свойств в широком диапазоне жесткостей Patch-clamp измерения с нанометровой локализацией Комбинация с оптическими методиками

Предназначен для исследования объектов в проходящем и отраженном свете при освещении по методу светлого и темного поля; с применением методов фазового контраста, в поляризованных лучах (по методу простой поляризации) в отраженном свете. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат (50*) 100 – 1000 Визуальная насадка тринокулярная Увеличение насадки, крат 1,0 Угол наклона окулярных тубусов, град 30 Диоптрийная подвижка тубуса, дптр ±5 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 48 -75 Окуляры, видимое увеличение, крат/поле, мм широкопольные 10х/22, работа в очках Револьверное устройство крепления объективов пятигнездное, повернуто к штативу, вращение в любом направлении Тип коррекции объективов планахроматическая Объективы (увеличение), крат/ числовая апертура В комплекте 10 штук: Тубус бесконечность (∞) 10/0,25; 40/0,60; 40/0,65; 50/0,75; 100/1,25 МИ; 100/0,80 Фазовые: 10/0,25; 20/0,40; 40/0,65; 100х/1,25 МИ Двухкоординатный предметный столик, мм 186х138 коаксиальные рукоятки управления справа Диапазон перемещения препарата, мм 74х50, возможна установка двух препаратов Фокусировочный механизм Диапазон перемещения предметного столика, мм Цена деления точной фокусировки, мм коаксиальные рукоятки грубой и точной фокусировки – по обеим сторонам штатива, регулировка тугости хода грубой фокусировки, фиксация положения столика 30 0,001 Конденсор светлого поля с ирисовой диафрагмой; числовая апертура А =0,9/0,25 Конденсор темного поля; числовая апертура А =1,36 – 1,25 МИ Конденсор с диском для наблюдения по методу фазового контраста числовая апертура А = 1,25 МИ Светофильтры синий, зеленый, желтый Осветительная система классическая по Келлеру, центрируемая и фокусируемая полевая диафрагма Источник проходящего (и падающего) света галогенная лампа 24 В 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания встроен в штатив, обеспечивает плавную регулировку яркости источника света Габаритные размеры, не более, мм 280х590х500 Масса, не более, кг 20,0

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Техническая зарактеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп с турелью на 6 микро-объективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого/тёмного поля в отраженном свете и цветной видеокамерой. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Спектрометр: Высокоэффективный спектрометр с фиксированным положением решетки. Исходя из типа измеряемых образцов предлагаются два варианта дифракционной решётки для обеспечения оптимального регистрируемого диапазона и спектрального разрешения. Детектор: Высокочувствительный линейный детектор. Диапазон спектральной чувствительности от 200 до 1100 нм. Количество пикселей: 4096, размер пиксела: 7х200 мкм. Лазер: DPSS лазер с длиной волны 532±0.1 нм, мощность 50 мВт. Опционально: диодный лазер с длиной волны 785±0.1 нм, мощность 130 мВт с оптическим изолятором. Чувствительность: Детектирование кремниевого пика третьего порядка. Разрешение: Пространственное: латеральное (XY) < 1 мкм; аксиальное (Z) < 2 мкм. Видеокамера: Цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере. Сканирование образца: Опционально. Прецизионный автоматизированный ХУ столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм.

Новый микроскоп Confotec® Duo производства СОЛ инструментс — это компактный прибор, в который встроены два лазера (532 нм и 785 нм с оптическим изолятором) с телескопами и двухканальный спектрометр изображения. Технические характеристики: Чувствительность: детектирование кремниевого пика третьего порядка Пространственное разрешение: латеральное (XY) < 1 мкм аксиальное (Z) < 2 мкм Минимальный шаг сканирования стола для 2D картирования: 100 нм Видеокамера наблюдения: цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере