Поиск

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. cканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

14 высокоточных шаговых двигателей управляют всеми подвижными частями микроскопа, а интеллектуальное программное обеспечение стирает грань между оптическим и СЗМ изображением. НЕКСТ обеспечивает непрерывное увеличение от миллиметровых панорамных оптических изображений до атомарного разрешения, а такие промежуточные операции, как наведение лазера на кантилевер, позиционирование образца, «мягкий» подвод и конфигурация продвинутых СЗМ методик происходит автоматически.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Разработан для проведения комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Он позволяет получать полные спектры рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ изображения. Конструкция комплекса Centaur I HR позволяет работать как с отдельными методиками (например, с атомно-силовой-микроскопией), так и проводить совмещение методик (АСМ-Раман, конфокальная лазерная и АСМ).

Предельное качество отображения обеспечивается использованием встроенной акусто- и виброизоляции, термостабилизации, лучшей в индустрии чувствительностью оптической системы регистрации и уникальной конструкцией системы сканирования зондом, позволяющей достигать атомного разрешения в рутинных измерениях. В базовой конфигурации доступны 50+ АСМ методик, включая метод HybriD, что позволяет проводить все ультрасовременные наномеханические, электрические и магнитные исследования. Интеллектуальный алгоритм ScanTronic™ для оптимизации одним кликом мыши параметров сканирования, позволяющий проводить совершенные измерения рельефа с использованием амплитудно-модуляционного метода независимо от опыта оператора. Автоматизированное исследование множественных образцов с использованием простого пользовательского интерфейса для создания сценария поточечного сканирования и базы данных для храненных полученных изображений. Контроль образцов с размерами до 200×200 мм и толщиной до 40 мм в любой точке поверхности с точностью позиционирования 1 мкм. Широкая возможность кастомизации: установка дополнительного оптического оборудования, разработка специализированных держателей образцов, совмещение с транспортной системой, автоматизация измерений и анализа данных в соответствие с требованием заказчика.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Базовая конфигурация сканирующего зондового микроскопа Certus, предназначенная для решения широкого класса исследовательских и аналитических задач. плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; Сканирования как зондом (обычный сканер внутри сканирующей головки Certus), так и сверхбыстрым XYZ сканером образца. плоскопараллельный подвод зонда к образцу решает проблему трудоемкого ручного подвода зонда к образцу. Подвод осуществляется тремя моторизированными опорами; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Standard на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций Certus Optic и Centaur; реализованы основные СЗМ методики. Для изменения режима работы сканирующего зондового микроскопа (например, переход от работы в режиме атомно-силового микроскопа в режим сканирующего туннельного микроскопа) достаточно сменить держатель зондов.

Блок электронного управления EG 5000 является последней модификацией серии контроллеров EG. Предназначен для управления сканирующих зондовых микроскопов, устройств нано позиционирования, всех модификаций. Главными отличительными особенностями являются: Использование мощного FPGA Cyclone V, позволяющего с большей скоростью обрабатывать данные и выдавать управляющие сигнал. Встроенный ПК с операционной системой Linux, установленным ПО, позволяет унифицировать систему и избежать сложностей при установке и обновлении ПО.

NT-MDT S.I. представляет NTEGRA II, второе поколение самого популярного в мире АСМ. Благодаря дополнительным возможностям и расширенным функциям он обеспечивает беспрецедентный уровень модульности и гибкости, становясь настоящим партнером исследователя. Интеллектуальным, быстрым, надежным, точным и, несомненно, простым в использовании. Чтобы исключить влияние шумной среды, NTEGRA II поставляется в стандартном шкафу, обеспечивающем контроль температуры, акустическую и виброизоляцию. Такое сочетание раскрывает истинную природу NTEGRA II как самого стабильного АСМ в мире, обеспечивающего температурный дрейф на уровне менее 0,2 нм/мин.