СОЛ инструментс

Техническая характеристика: Оптическая схемаоднолучевая с опорным каналом Спектральный диапазон от 190 до 1100 нм Выделяемый спектральный интервал - 3 нм Минимальный шаг спектрального сканирования - 0,1 нм

Техническая характеристика: Оптическая схема: модифицированная схема Хилла с параболическими зеркалами Компенсация астигматизма: есть Независимые спектральные каналы: 2 Относительное отверстие (по входу): 1/4.2 Фокусное расстояние: 270 мм Рассеянный свет (20 нм от лазера): 2.5 х 10-5 Горизонтальное увеличение: 1.09 нм Особенность: автоматизированная перестройка по длинам волн

Технические характеристики: Фокусное расстояние (выходное): 350 мм Относительное отверстие (по входу): 1/3,8 Обратная линейная дисперсия: 2,37 нм/мм

Технические характеристики: Оптическая схема: оригинальная зеркально-линзовая Относительное отверстие: 1/4.9 Фокусное расстояние: 40 мм Обратная линейная дисперсия (средн.): 34.9 нм/мм (диффракционная решетка 600 штр/мм), 17.8 нм/мм (диффракционная решетка 1200 штр/мм) Спектральное разрешение: < 0.8 нм (диффракционная решетка 600 штр/мм), < 0.45 нм (диффракционная решетка 1200 штр/мм)

Технические характеристики: спектральный диапазон регистрации – 175-800 нм; светосильная безабберационная система с фокусным расстоянием 500мм; дисперсия от 0,5 нм/мм (для решетки 3600 шт/мм) до 1,0 нм/мм (для решетки 1800 шт/мм); возможность работы в атмосфере буферных газов (для работы в диапазоне 175 – 193 нм). Предел обнаружения 0,01 ppm и высокую воспроизводимость обеспечивают: двухимпульсный наносекундный лазерный источник с частотой следования сдвоенных импульсов 20 Гц и высокой энергетической и пространственной стабильностью; автоматическое управление энергетическими и пространственными параметрами лазера в широком диапазоне; уникальная система регистрации кратковременных световых импульсов.

Техническая характеристика: Тип, модель (могут быть использованы другие типы инвертированных или прямых микроскопов): инвертированный Nikon Ti-S или прямой Nikon Ni-U Стол: диапазон перемещения точность (1 мм перемещения) XY воспроизводимость минимальный шаг автоматизированный 114 х 75 мм 0.06 мкм ± 1 мкм 0.02 мкм Микрообъективы: 100х NA-0.95 40х NA-0.75 20х NA-0.50 и другие Z-сканер: диапазон перемещения объектива минимальный шаг воспроизводимость пьезосканер 80 мкм 50 нм < 6 нм Видеокамера высокого разрешения: сенсор АЦП цифровая цветная ПЗС-камера 1/2″, 2048 x 1536 пикселей 10 бит, скорость 12 кадров/сек Ввод лазерного излучения: трёхпозиционная автоматизированная турель

Техническая зарактеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп с турелью на 6 микро-объективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого/тёмного поля в отраженном свете и цветной видеокамерой. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Спектрометр: Высокоэффективный спектрометр с фиксированным положением решетки. Исходя из типа измеряемых образцов предлагаются два варианта дифракционной решётки для обеспечения оптимального регистрируемого диапазона и спектрального разрешения. Детектор: Высокочувствительный линейный детектор. Диапазон спектральной чувствительности от 200 до 1100 нм. Количество пикселей: 4096, размер пиксела: 7х200 мкм. Лазер: DPSS лазер с длиной волны 532±0.1 нм, мощность 50 мВт. Опционально: диодный лазер с длиной волны 785±0.1 нм, мощность 130 мВт с оптическим изолятором. Чувствительность: Детектирование кремниевого пика третьего порядка. Разрешение: Пространственное: латеральное (XY) < 1 мкм; аксиальное (Z) < 2 мкм. Видеокамера: Цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере. Сканирование образца: Опционально. Прецизионный автоматизированный ХУ столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм.

Технические характеристики: Фокусное расстояние (выходное): 750 мм Относительное отверстие (по входу): 1/8,9 Спектр. разреш.: 0,015 и 0,0008 (эшелле) нм Обр. лин. дисп.: 1,02 и 0,055 (эшелле) нм/мм Отличие: высокое спектральное разрешение, идеальный контур спектральных линий.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения. Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов.

Техническая характеристика: Входной и выходной разъёмы: BNC Напряжение питания: от (100 ± 10) В до (220 ± 23) В, 50/60 Гц Потребляемая мощность: не более 10 Вт Дополнительный малошумящий источник питания детекторов Выходное напряжение: ± 15 В Выходной ток: ± 100 мА макс. Стабильность выходного напряжения: 0.05 % (сеть и нагрузка) Пульсации выходного напряжения: 0.5 мВ размах макс. Выходной разъём: 9-pin DB-Socket connector

Технические характеристики: Фокусное расстояние: 200 мм Относительное отверстие: 1/3,6 Спектральное разрешение: 0,11 нм (ФЭУ), 0,12 нм (цифровая камера (12 мкм пиксел)) Обратная линейная дисперсия: 4,12 нм/мм Отличительная черта монохроматора-спектрографа MS200: лучшая светосила.

Технические характеристики: Фокусное расстояние: 1000 (2*500) мм Относительное отверстие: 1/5,9 Спектральное разрешение: 0,013 нм (ФЭУ), 0.017 нм (цифровая камера (12 мкм пиксел)) Обратная линейная дисперсия: 0.78 нм/мм Отличие: высокое спектральное разрешение и низкий уровень рассеянного света.