Поиск

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Прибор объединяет в себе преимущества портативного Рамановского экспресс-анализатора «Инспектр» R532® и микроскопа U300M. Особенности Работа с использованием разных методов исследования – на пропускание и отражение. Цифровая камера обеспечивает четкий фокус на образце. Высокое спектральное и пространственное разрешение гарантирует точность результата. Преимущества Микроскоп М532® – инновационное устройство с продвинутым набором возможностей: распознает сложные вещества, микрообъекты, проводит качественный анализ компонентов; измеряет и анализирует образцы по фотолюминесценции и комбинационному рассеянию света; создает детальные графические карты поверхностей образцов. Надежность, адекватная стоимость делает его оптимальным вариантом по соотношению цена/качество. Оптика второго поколения с бесконечным сроком службы. Спецификация микроскопа М532 Оптика UIS2 Лазер Длина волны 532 нм (опционально 785 нм, 1064 нм) Спектральное разрешение 4-6 см-1 Спектральный диапазон 160-4000 см-1 Освещение Встроенный осветитель проходящего света 6 В, 30 Вт Осветитель отраженного света 5 В, 1 Вт с регулируемой яркостью Фокусировка Величина хода на оборот: 36,8 мм Полный диапазон хода: 25 мм Видеокамера 3 Мп Объективы 10x, 20x, 40x (Plan-C) Наблюдение Тринокулярный тубус Наклон на 30°, вращение на 360° Межзрачковое расстояние 50-76 мм Деление светового потока 100:0/50:50 Предметный столик Размер 175 мм x 145 мм Диапазон перемещения 42 мм по горизонтали 76 мм по вертикали Вес ~ 35 кг Размеры 600 мм x 350 мм x 700 мм Электропитание 50-60 Гц, 220 В Требования к ПК Операционная система Windows, USB 2.0.

С помощью "ФемтоСкан Крио" Вы сможете изменять температуру внутри рабочей камеры в диапазоне 4,2-300 K. Точность поддержания температуры – 0,05 K. "ФемтоСкан Крио" регистрирует силы с помощью кварцевого камертона, поэтому в системе отсутствует лазерный луч и источники тепловых помех.

Предназначен для оценки микротвердости структуры непрозрачных объектов методом вдавливания в испытуемый материал алмазных наконечников (Виккерса, Кнуппа, Берковича). Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 130, 500, 800 Диапазон нагрузки, Н (КГС) от 0,0196 до 4,9 (от 0,002 до 0,500) Управление нагрузками ручное Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Увеличение насадки, крат 1 Винтовой окулярный микрометр (МОВ-1-16) увеличение, крат 16 Освещение падающим светом по методам светлого и темного поля Тип коррекции объективов планапохромат Объективы планапохромат F= 4мм А 0,85 эпипланапохромат F = 25мм А 0,17 эпипланапохромат F=6,3мм А 0,60 Предметный столик, габаритные размеры, мм 113 х 113 Диапазон перемещения предметного столика, мм 0 - 10 в двух взаимно перпендикулярных направлениях Цена деления шкал барабанчиков микрометрических винтов столика, мм 0,01 Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением 220 В, частотой 50Гц, блок питания встроен в основание Габаритные размеры, не более, мм 270х290х470 Масса, не более, кг 22 Предназначен для оценки микротвердости структуры непрозрачных объектов методом вдавливания в испытуемый материал алмазных наконечников (Виккерса, Кнуппа, Берковича). Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 130, 500, 800 Диапазон нагрузки, Н (КГС) от 0,0196 до 4,9 (от 0,002 до 0,500) Управление нагрузками ручное Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Увеличение насадки, крат 1 Винтовой окулярный микрометр (МОВ-1-16) увеличение, крат 16 Освещение падающим светом по методам светлого и темного поля Тип коррекции объективов планапохромат Объективы планапохромат F= 4мм А 0,85 эпипланапохромат F = 25мм А 0,17 эпипланапохромат F=6,3мм А 0,60 Предметный столик, габаритные размеры, мм 113 х 113 Диапазон перемещения предметного столика, мм 0 - 10 в двух взаимно перпендикулярных направлениях Цена деления шкал барабанчиков микрометрических винтов столика, мм 0,01 Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением 220 В, частотой 50Гц, блок питания встроен в основание Габаритные размеры, не более, мм 270х290х470 Масса, не более, кг 22

Стереоскопический микроскоп МБС-10М предназначен для наблюдения как объёмных предметов, так и тонких плёночных и прозрачных объектов, а также препарировальных работ.

Микроскоп учебный предназначен для наблюдения прозрачных препаратов в проходящем свете в светлом поле, при изучении естественных наук в школах II-III ступени и других учебных заведениях, а также различных исследованиях в лабораторной практике. Микроскоп обеспечивает высокое качество изображения, очень удобен и прост в обращении. Особенностью этого микроскопа является независимость от внешнего источника питания и возможность работы в полевых условиях. Микроскоп укомплектован панкратическим окуляром, позволяющим плавно изменять увеличение, и револьверной головкой для быстрой смены объективов. Технические характеристики: Увеличение, крат - 80 ….400 Ахроматические объективы - 8 х 0,20 20 х 0,40 Панкратический окуляр - 10х-20х Габаритные размеры, мм - 350 х 150 х 110 Масса, кг - 1,4

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Технические характеристики: Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax, Rz и толщины пленок, мкм 0,1 – 0,8 Видимое увеличение микроскопа, крат 500 Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Видимое увеличение окуляр, крат 15 Линейное поле зрения в пространстве предмета, мм 0,3 Перемещение предметного столика, мм 0 - 10 в продольном и поперечном направлениях, вращение столика Цена деления шкал барабанов микрометрических винтов столика, мм 0,005 Цена деления шкалы барабана микрометрического винта фокусировочного механизма, мм 0,002 Освещение белым или монохроматическим светом Источник света светодиод белого свечения Винтовой окулярный микрометр, крат 16 ( МОВ-1-16) Фотоэлектрический окулярный микрометр ФОМ-2-16х* Источник питания сеть переменного тока напряжением 220В, частотой 50Гц через настольный блок питания Габаритные размеры, не более, мм 300х300х420 Масса, не более, кг 30

Увеличение 8,75 Угловое поле зрения, град. 25 Габаритные размеры, мм 300х172х130 Масса, кг 1.55 кг Гарантийный срок, лет 3 года