Нано Скан Технология

Однокоординатный пьезоперемещатель, предназначена для перемещения и позиционирования различных устройств вдоль одной оси. В частности, для перемещения объективов вдоль оптической оси для изменения положения фокуса относительно поверхности образцов или объектов в объеме образца. Кроме того, такие подвижки являются важнейшим элементом 3D конфокальных микроскопов. В совокупности с двухкоординатными подвижками, работающими в плоскости XY, такие системы позволяют получать полноценное трехмерное конфокальное изображение различных объектов.

Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. cканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Базовая конфигурация сканирующего зондового микроскопа Certus, предназначенная для решения широкого класса исследовательских и аналитических задач. плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; Сканирования как зондом (обычный сканер внутри сканирующей головки Certus), так и сверхбыстрым XYZ сканером образца. плоскопараллельный подвод зонда к образцу решает проблему трудоемкого ручного подвода зонда к образцу. Подвод осуществляется тремя моторизированными опорами; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Standard на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций Certus Optic и Centaur; реализованы основные СЗМ методики. Для изменения режима работы сканирующего зондового микроскопа (например, переход от работы в режиме атомно-силового микроскопа в режим сканирующего туннельного микроскопа) достаточно сменить держатель зондов.

Плоскопараллельный сканирующий пьезостолик. Устройство представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно из алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканеры обладают высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.