Nano Skan Tekhnologiya

L'unité de commande électronique EG 5000 est la Dernière modification de la série de contrôleurs EG. Conçu pour contrôler les microscopes à sonde à balayage, les dispositifs de positionnement nano, toutes les modifications. Les principales caractéristiques distinctives sont: Utilisation du puissant FPGA Cyclone V, permettant un traitement plus rapide des données et des signaux de commande. Un PC intégré avec un système d'exploitation Linux installé PERMET d'unifier le système et d'éviter les complications lors de l'installation et de la mise à jour du LOGICIEL.

Microscope à sonde à balayage (SPM) d'entrée de gamme La numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Light sur des microscopes optiques traditionnels (directs ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers des modifications

Le complexe Certus Optic I est conçu pour fonctionner avec des techniques de microsocopie optique et à force atomique dans l'étude d'objets biologiques et de films polymères. tête de balayage XYZ SPM Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou le positionnement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique inversé classique pour afficher un objet d'étude et pointer la sonde sur un objet d'étude ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; caméra vidéo numérique pour visualiser l'image observée sur un ordinateur et capturer des images; un seul contrôleur EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Microscope À Sonde À Balayage Automatisé Certus Standard V est une version améliorée de la série SPM Standard. La principale différence qualitative est l'automatisation complète du microscope, l'utilisation de composants mécaniques plus avancés, la présence d'un scanner plus avancé pour numériser l'échantillon, la possibilité de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.

Spectromètre Raman confocal à balayage avec option SPM Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé à la fois dans les laboratoires industriels et dans les universités de recherche.

Piezostolic à balayage plan parallèle. Le dispositif est un corps métallique monolithique (en alliage de haute qualité, généralement en aluminium), dans lequel l'électroérosion et d'autres méthodes d'usinage de précision sont formés des canaux pour les actuateurs piézocéramiques, des éléments mobiles de la table, etc. cette conception offre une excellente linéarité et une planéité du mouvement, contrairement aux scanners classiques basés sur des piézotubes, dont la surface de balayage est une sphère. En outre, les scanners à plan parallèle présentent une résistance mécanique élevée par rapport aux piézotubes fragiles.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.). microsocopies). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur U permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Microscope à sonde à balayage (SPM) équipé de porte-sondes spécialisés et du matériel optique nécessaire pour effectuer des études en champ proche. La microscopie optique en champ proche est basée sur l'utilisation des propriétés du champ proche (evanescent), ce qui permet de surmonter la limite de diffraction de la microscopie optique classique. Tous les microscopes à champ proche comprennent plusieurs éléments de conception de base: sonde; système de déplacement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon selon les 2ème (x-Y) ou 3ème (x-y-Z) coordonnées (système de balayage); système d'enregistrement; système optique.

Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Conçu pour contrôler le fonctionnement des positionneurs piézoélectriques, tels que la table de balayage Ratis et le mouvement à axe unique Vectis., ou un autre dispositif piézo-électrique. Caractéristique générale: Unité centrale de traitement 32 bits; RISC Interface avec PC USB 2.0 Autres interfaces RS 232, RS485, SYNC I / O Sorties haute tension Tension -10..150 V Bruit < 5 ppm Nombre de canaux 3 Bit DAC (convertisseurs numérique-analogique)18 bits

Le transmetteur piézoélectrique à axe unique est conçu pour déplacer et positionner différents dispositifs le long d'un axe. En particulier, pour déplacer les lentilles le long de l'axe optique afin de changer la position de mise au point par rapport à la surface des échantillons ou des objets dans le volume de l'échantillon. En outre, ces progrès sont un élément essentiel des microscopes confocaux 3D. En combinaison avec les mouvements à deux coordonnées travaillant dans le plan XY, de tels systèmes permettent d'obtenir une image confocale tridimensionnelle complète de divers objets.