Двухимпульсный лазерный источник возбуждения атомно-эмиссионных спектров

Лазерный источник предназначен для возбуждения атомно-эмиссионных спектров при выполнении качественного спектрального анализа твердых пород – металлов, минералов, стекол и других.
Источник выполнен на основе двухимпульсного YAG:Nd лазера с электрооптической модуляцией добротности, работающего на основной длине волны 1064 нм. Длительность каждого импульса составляет не более 10 нс, а задержка между ними регулируется от 0 до 60 мкс.
Способность лазерного луча к фокусировке на участок 300 до 1000 мкм даёт возможность провести микроанализ включений, выполнить двумерное сканирование поверхности или локально проанализировать пробы практически без повреждения поверхности. Существенным достоинством лазерного источника является экспрессность и отсутствие специальной пробоподготовки для широкого круга проводящих и непроводящих материалов.
Визуальное наблюдение и наведение луча на образец осуществляется с помощью интегрированного в систему стереоскопического микроскопа, а также цифровой видеокамеры высокого разрешения с передачей изображения в компьютер.
Перемещение приборного столика с закреплённым образцом возможно как вручную для настройки, так и с помощью шаговых двигателей в двух координатах в ходе анализа, что обеспечивает сканирование поверхности и запись спектра с привязкой к видеоизображению. Установка может применяться совместно с любыми спектральными приборами – «Гранд», «Аспект», «Экспресс», «Колибри-2», СТЭ-1, ДФС-458, МФС-8, PGS-2 и другими. Лазерный источник предназначен для возбуждения атомно-эмиссионных спектров при выполнении качественного спектрального анализа твердых пород – металлов, минералов, стекол и других.
Источник выполнен на основе двухимпульсного YAG:Nd лазера с электрооптической модуляцией добротности, работающего на основной длине волны 1064 нм. Длительность каждого импульса составляет не более 10 нс, а задержка между ними регулируется от 0 до 60 мкс.
Способность лазерного луча к фокусировке на участок 300 до 1000 мкм даёт возможность провести микроанализ включений, выполнить двумерное сканирование поверхности или локально проанализировать пробы практически без повреждения поверхности. Существенным достоинством лазерного источника является экспрессность и отсутствие специальной пробоподготовки для широкого круга проводящих и непроводящих материалов.
Визуальное наблюдение и наведение луча на образец осуществляется с помощью интегрированного в систему стереоскопического микроскопа, а также цифровой видеокамеры высокого разрешения с передачей изображения в компьютер.
Перемещение приборного столика с закреплённым образцом возможно как вручную для настройки, так и с помощью шаговых двигателей в двух координатах в ходе анализа, что обеспечивает сканирование поверхности и запись спектра с привязкой к видеоизображению. Установка может применяться совместно с любыми спектральными приборами – «Гранд», «Аспект», «Экспресс», «Колибри-2», СТЭ-1, ДФС-458, МФС-8, PGS-2 и другими.