Source laser à double impulsion pour l'excitation de spectres d'émission atomique

La source laser est conçue pour exciter les spectres d'émission atomique lors de l'analyse spectrale de haute qualité de roches solides - métaux, minéraux, verres et autres.
La source est basée sur un laser YAG:Nd à deux impulsions avec commutation Q électro-optique, fonctionnant à une longueur d'onde principale de 1064 nm. La durée de chaque impulsion ne dépasse pas 10 ns et le délai entre elles est réglable de 0 à 60 ms.
La capacité d'un faisceau laser à se concentrer sur une zone de 300 à 1000 microns permet de réaliser une microanalyse d'inclusions, d'effectuer un balayage bidimensionnel d'une surface ou d'analyser localement des échantillons sans pratiquement aucun dommage à la surface. Un avantage significatif d’une source laser est sa rapidité et l’absence de préparation spéciale d’échantillons pour une large gamme de matériaux conducteurs et non conducteurs.
L'observation visuelle et le pointage du faisceau sur l'échantillon sont effectués à l'aide d'un microscope stéréoscopique intégré au système, ainsi que d'une caméra vidéo numérique haute résolution avec transfert d'image vers un ordinateur.
Le déplacement de la platine de l'instrument avec un échantillon fixe est possible à la fois manuellement pour le réglage et à l'aide de moteurs pas à pas en deux coordonnées pendant l'analyse, ce qui permet un balayage de la surface et un enregistrement du spectre lié à une image vidéo. L'installation peut être utilisée avec tous les appareils spectraux - "Grand", "Aspect", "Express", "Kolibri-2", STE-1, DFS-458, MFS-8, PGS-2 et autres. La source laser est conçue pour exciter les spectres d'émission atomique lors de l'analyse spectrale de haute qualité de roches solides - métaux, minéraux, verres et autres.
La source est basée sur un laser YAG:Nd à deux impulsions avec commutation Q électro-optique, fonctionnant à une longueur d'onde principale de 1064 nm. La durée de chaque impulsion ne dépasse pas 10 ns et le délai entre elles est réglable de 0 à 60 mks.
La capacité d'un faisceau laser à se concentrer sur une zone de 300 à 1000 microns permet de réaliser une microanalyse d'inclusions, d'effectuer un balayage bidimensionnel d'une surface ou d'analyser localement des échantillons sans pratiquement aucun dommage à la surface. Un avantage significatif d’une source laser est sa rapidité et l’absence de préparation spéciale d’échantillons pour une large gamme de matériaux conducteurs et non conducteurs.
L'observation visuelle et le pointage du faisceau sur l'échantillon sont effectués à l'aide d'un microscope stéréoscopique intégré au système, ainsi que d'une caméra vidéo numérique haute résolution avec transfert d'image vers un ordinateur.
Le déplacement de la platine de l'instrument avec un échantillon fixe est possible à la fois manuellement pour le réglage et à l'aide de moteurs pas à pas en deux coordonnées pendant l'analyse, ce qui permet un balayage de la surface et un enregistrement du spectre lié à une image vidéo. L'installation peut être utilisée avec tous les appareils spectraux - "Grand", "Aspect", "Express", "Kolibri-2", STE-1, DFS-458, MFS-8, PGS-2 et autres.