Совместно с оптическим прибором приставка ФЭП-10 используется для качественного и количественного анализа различных материалов на основании градуировочных характеристик, построенных по стандартным образцам.
Технические характеристики:
Тип фотоприемников линейные CMOS-приемники с высоким динамическим диапазоном.
Количество фотоприемников 3...12
Размеры фоточувствительного элемента (пикселя) , мкм. 7х200
Количество пикселей на одной ПЗС-линейке 4096
Длина спектра, регистрируемого одной ПЗС-линейкой, мм. 29
Общая длина регистрируемого спектра, мм. до 340.

Технологическая приставка без воды 1200x250x850 мм, раб. поверхность - НЕРЖАВЕЮЩАЯ СТАЛЬ

от 16 845 ₽

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности. Состоит из металлического каркаса и столешницы. Крепится к столам лабораторным и приборным. Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: нержавеющая сталь Цвет каркаса: белый Масса: 15 кг.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Приставка зеркального отражения ПЗО80

Применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Подставка для кювет типа Specord

Данная подставка позволяет использовать в спектрометрах ФСМ кюветы типа Specord и имеет соответствующие присоединительные размеры.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Приставка МНПВО36 горизонтального типа

Предназначена для исследования химического состава жидких сред, мелкодисперсных неабразивных порошков и полимерных пленок. Метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения позволяет существенно упростить подготовку образцов и может использоваться для реализации экспресс-методик контроля качества продукции.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Приставка зеркального отражения ПЗО10

Предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Фокусирующая приставка МКФ

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)

Новосибирск

Произведено в: Новосибирск

Технологическая приставка

Два варианта конструкции: - в основе – сварной металлический каркас; - в основе – сборно-разборной металлический каркас. Каркас из профильной трубы, панели из листовой стали. Покрытие металлических поверхностей: химическистойкая порошковая краска; фактура покрытия – глянец/матовое, шагрень/гладкое; стандартные цвета светло-серый, серый, белый. Возможно использование других цветов по согласованию с Заказчиком. Имеет регулируемые опоры для компенсации неровностей пола. Высота рабочей поверхности: 750 мм или 900 мм. Технологическая приставка может быть дополнительно оборудована сливной раковиной, лабораторными кранами для воды и газов, экраном, электрикой и прочими дополнительными комплектующими.

Уфа

Произведено в: Уфа

Держатель кювет ДК КФК

Для установки кварцевых кювет типа КФК в спектрометр ФСМ используется держатель ДК КФК, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Подставка для кювет ПК 50-75

Подставка для кювет ПК 50-75 предназначена для установки: кварцевой кюветы типа СФ в держателе ДК 10-10; кварцевой кюветы типа КФК в держателе ДК КФК; разборной кюветы КР1, разборной кюветы КР20, держателя пленок, держателя таблеток, держателя твердых образцов.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Приставка отражения ПО-45 В

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Новосибирск

Произведено в: Новосибирск

Приставки для пластин кремния

Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Фокусирующая приставка МКФ-Ю

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Новосибирск

Произведено в: Новосибирск

Приставка отражения ПО-15 В

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Новосибирск

Произведено в: Новосибирск

Технологическая приставка с водой 1200x250x850 мм, раб. поверхность - НЕРЖАВЕЮЩАЯ СТАЛЬ

от 31 870 ₽

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности и функциональных возможностей стола (подвод воды, газа и т.п.). Конструкция приставки предусматривает последовательное соединение двух приставок, а также установку до двух дополнительных полок, двух кранов (для сжатого воздуха, подачи вакуума или газа). Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: нержавеющая сталь Кран для воды с фильтром: 1шт Кран для воды без филтра: 1 шт Материал раковины: полипропилен Цвет каркаса: белый Масса: 16 кг.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Держатель кювет ДК 10-10

Есть у 1 прод.

Для установки кварцевой кюветы типа СФ в спектрометр ФСМ используется держатель ДК 10-10, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Технологическая приставка с водой 1200x250x850 мм, раб. поверхность - LABGRADE

от 41 875.2 ₽

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности и функциональных возможностей стола (подвод воды, газа и т.п.). Конструкция приставки предусматривает последовательное соединение двух приставок, а также установку до двух дополнительных полок, двух кранов (для сжатого воздуха, подачи вакуума или газа). Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: Labgrade Кран для воды с фильтром: 1шт Кран для воды без филтра: 1 шт Материал раковины: полипропилен Цвет каркаса: белый Масса: 17 кг.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Технологическая приставка без воды 1200x250x850 мм, раб. поверхность - ЛАМИНАТ СЕРЫЙ

от 11 619.84 ₽

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности. Состоит из металлического каркаса и столешницы. Крепится к столам лабораторным и приборным. Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: ламинат серый Цвет каркаса: белый Масса: 11 кг

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Возможно вас заинтересует

Оптико-эмиссионный спектрометр для анализа черных и цветных металлов ДФС-100H

Этот малогабаритный спектрометр является отличным инструментом для решения задач входного контроля и разбраковки металлов и сплавов, а также может быть использован в учебном процессе в высших и средних специальных учебных заведениях. Технические характеристики: Оптическая система на базе неклассической вогнутой решетки с плоским полем, с продувкой аргоном (расход аргона около 0,05 л/мин). Спектральный диапазон 178-410 нм. Приемники излучения 4 многоэлементных линейных детектора. Диапазон измеряемых концентраций 0,01% - десятки % Относительная погрешность (в зависимости от концентрации) 5%...30% Время анализа 10…40 с Вес 24 кг Габариты 625х420х260 мм Требования к электропитанию напряжение 220±22 В, 50 Гц, однофазное с заземлением. Мощность не более 1 кВА Требования к аргону содержание аргона не менее 99,998%.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Мобильный оптико-эмиссионный спектрометр для анализа металлов ДФС-100М

Технические характеристики: Диапазон измеряемых концентраций 0,005% - десятки % Спектральный диапазон 178-410 нм Приемники излучения 4 многоэлементных детектора Относительная погрешность (в зависимости от концентрации) 1%...20% Время анализа 10...40 с Требования к аргону 99,998% Электропитание Сеть 2208 50 Гц, аккумулятор Потребляемая мощность в режиме анализа дот кВт Вес консоли ТГ Вес оптического модуля 2.5 кг.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург

Оптико-эмиссионный спектрометр для анализа металлов ДФС-500

Технические характеристики: Оптическая система и фонусное расстояние оптическая схема Пашена-Рунге с кругом Роуланда 500 мм Полихроматор продуваемый аргоном (расход аргона около 0,05 л/мин) 175-425 нм с возможностью установки дополнительного канала Спектральный диапазон: натрия 589 нм (по специальному заказу возможно расширение диапазона в пределах 175-850 нм) лотив продуваемый аргоном. Отнрытая нонструнция, Имеются специальные адаптеры для анализа прутков и проволоки Одатчик (выносной штатив)по специальному заказу вес выносного датчика 1,2 нг, длина кабеля 2,5 м Дополнительный воздушный штатив по специальному заказу Источник возбуждения генератор СПАРК-500 Условия эксплуатации температура 15...30°С, относительная влажность < 80% Требования к электропитанию мощность 1 НВА, напряжение 220-22 В 50 ГЦ, однофазное с заземлением Требования к аргону 99,998% чистоты. У спектрометра предусмотрен фильтр дополнитель- ной очистни аргона. При необходимости в номплект поставки может быть включен стенд очистки аргона СОАР-1 Габариты, мм (длина, ширина, высота) 810х525 х 975 - напольное исполнение, 810х525 х 430 - настольное исполнение Вес, кг. 80 - напольное исполнение, 50 - настольное исполнение. Диапазон измеряемых концентраций 0,0001% ... десятки % Относительная погрешность (® зависимости от концентрации) 0,5%...5% Время анализа 10...40 сен.

Санкт-Петербург

Произведено в: Санкт-Петербург