Приставка для БИК-анализа

Для достижения предельной чувствительности при измерениях применяется специальная приставка к фурье-спектрометру ФТ-801, представляющая собой оптический блок со встроенным высокочувствительным МСТ детектором, охлаждаемым жидким азотом. Приставка устанавливается в кюветный отсек спектрометра и подключается к соответствующему внешнему электрическому порту, детектор включается программно. Чувствительность метода при этом повышается во много раз (до 20) – в зависимости от типа штатного неохлаждаемого детектора в спектрометре). Увеличивается также скорость регистрации спектров. Время работы после заполнения криостата (емкостью 200 мл) жидким азотом - не менее 6 часов. Повышение чувствительности спектрометра с помощью приставки с МСТ детектором может потребоваться для многих применений: в волоконной спектроскопии, при регистрации спектров эмиссии маломощных излучателей, при трассовом газовом анализе с высоким спектральным разрешением, при определении наличия в пробах примесей в сверхмалых концентрациях, при использовании многоходовых газовых кювет и т.п. На рисунке: слева в кюветном отсеке - каплер с волокном фирмы Art photonics GmbH, Berlin, Germany, справа - приставка с МСТ детектором. Технические характеристики Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 50 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Емкость криостата, мл 200 Время работы после заполнения криостата, часов 6 Габаритные размеры, мм 225×175×75 Масса, кг 1,45

Основное отличие данной приставки от универсальной приставки НПВО и ЗДО состоит в том, что в качестве рабочего элемента МНПВО используется призма, позволяющая получить несколько отражений от области контакта с исследуемым образцом, что приводит к улучшению качества спектра и повышению чувствительности метода (полосы поглощения становятся более выраженными). Регистрация спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) на данной приставке не предусмотрена. Приставка МНПВО эффективна при регистрации спектров поглощения образцов, размеры (количество) которых достаточны для обеспечения контакта со всей площадью рабочей грани призмы: * жидкостей любой степени вязкости (растворов,суспензий, масел и т.д.); * твердых эластичных образцов (полимерных фрагментов достаточно большого размера, резин, пластиков и т. д.); * порошкообразных образцов в количествах, достаточных для нанесения на всю поверхность и образцов в виде тонких пленок; Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Примечание: приставка МНПВО не исключает возможности регистрировать спектры образцов, размеры которых меньше площади рабочей грани призмы (наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности повышает удобство при работе с малоразмерными объектами), но общая эффективность метода при этом существенно ниже, чем при использовании универсальной приставки НПВО и ЗДО. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 25 · Рекомендуемое число сканирований при регистрации спектров 25 · Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 · Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 · Минимальная площадь твердого образца, мм2 1 · Минимальный объем исследуемой жидкости, мл 0. 3 · Допустимый диапазон рН анализируемых объектов от 5 до 9 · Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge · Диаметр пятна фокусировки, мм 3 · Количество отражений 3 · Размер рабочей грани призмы, мм 21 Х 6 · Увеличение микрообъектива 4Х · Общее увеличение визуального канала 75Х · Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 · Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 · Габаритные размеры,мм 145×125×240 · Масса, кг 2

Для установки кварцевых кювет типа КФК в спектрометр ФСМ используется держатель ДК КФК, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

ИК фурье-спектрометры "ФТ-801" могут дополнительно оснащаться специальной оптической приставкой, позволяющей эффективно использовать световодные системы. 4 типа световодных зондов позволяют измерять спектры пропускания и отражения (НПВО) в твердых, жидких и газообразных средах Современные ИК световоды обладают высоким собственным пропусканием и достаточной механической прочностью, что позволяют перенести измерения из лаборатории непосредственно на производство - для контроля протекания техпроцессов, проверки качества сырья и готовой продукции. Области применения: · Химическая и микробиологическая промышленность · Фармацевтическая промышленность · Медицина и косметология · Пищевая промышленность · Нефтепродукты, ГСМ · Криминалистика

Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Подставка для кювет ПК 50-75 предназначена для установки: кварцевой кюветы типа СФ в держателе ДК 10-10; кварцевой кюветы типа КФК в держателе ДК КФК; разборной кюветы КР1, разборной кюветы КР20, держателя пленок, держателя таблеток, держателя твердых образцов.

Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ.

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.

Для установки кварцевой кюветы типа СФ в спектрометр ФСМ используется держатель ДК 10-10, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.

Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

Основное преимущество приставки ПРИЗ – возможность получения хорошо выраженных спектров микрообъектов после придания им формы тонкого слоя на отполированных зеркально металлических пластинах (в режиме так называемого двойного прохождения, когда излучение дважды проникает сквозь слой вещества, отражаясь от зеркала-подложки). Наличие системы визуального контроля со встроенной видеокамерой существенно повышает информативность при настройке и надежность полученных результатов. С помощью приставки можно также регистрировать спектры отражения сыпучих образцов и цельных объектов произвольной геометрии в нативном виде, в том числе, фармпрепаратов в виде таблеток, порошков и гранул, полимерных фрагментов, ЛКП, пленок, нанесенных на поверхности. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 40 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Минимальные исходные размеры твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Максимальная рлощадь твердого образца, мм 20Х20Х10 Диапазон переменной фокусировки, мм 10 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива / общее увеличение визуального канала 4Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640х480 Габаритные размеры, мм 140×105×160 Масса, кг 1.16