Поиск

42 тов.
Вид:
  • Выбрано: 0
    Применение
  • Выбрано: 1
    Название
  • Выбрано: 0
    Компания
  • Выбрано: 0
    Производство
  • Выбрано: 0
    Дополнительно
Все фильтры
  • 15
    Применение
  • Название
  • 5
    Компания
  • 2
    Производство
  • 8
    Дополнительно
Вид:
42 тов.
Приставка МНПВО36 горизонтального типа
Приставка МНПВО36 горизонтального типа
Предназначена для исследования химического состава жидких сред, мелкодисперсных неабразивных порошков и полимерных пленок. Метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения позволяет существенно упростить подготовку образцов и может использоваться для реализации экспресс-методик контроля качества продукции.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка зеркального отражения ПЗО80
Приставка зеркального отражения ПЗО80
Применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Держатель кювет ДК КФК
Держатель кювет ДК КФК
Для установки кварцевых кювет типа КФК в спектрометр ФСМ используется держатель ДК КФК, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка диффузного отражения ПДО
Приставка диффузного отражения ПДО
Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Держатель пленок ДП
Держатель пленок ДП
Держатель пленок ДП предназначен для фиксации образцов полимерных пленок.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставки для пластин кремния
Приставки для пластин кремния
Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Держатель таблеток ДТ13
Держатель таблеток ДТ13
Держатель ДТ13 предназначен для фиксации с помощью механического прижима таблетки диаметром 13 мм, спрессованной из смеси перемолотого в порошок твердого образца и кристаллов KBr.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка зеркального отражения ПЗО10
Приставка зеркального отражения ПЗО10
Предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
ИК фурье-спектрометр ФСМ 2201 и ФСМ 2202
ИК фурье-спектрометр ФСМ 2201 и ФСМ 2202
Универсальные лабораторные ИК фурье-спектрометры ФСМ 2201 и ФСМ 2202 предназначены для проведения научных исследований и аналитических измерений в средней инфракрасной области спектра. Качественный и количественный анализ образцов органических и неорганических веществ в газообразном, жидком и твердом состоянии, в том числе, пленок и порошков. В основе фурье-спектрометров ФСМ 2201/2202 – интерферометр Майкельсона с самокомпенсацией, не требующий динамической юстировки. Спектрометры оснащены системой продувки сухим воздухом или азотом для минимизации спектральных помех от паров воды и углекислого газа и имеют влагозащитное покрытие оптических окон и светоделителя. Операции управления прибором, самотестирования, регистрации, анализа и обработки спектров автоматизированы и осуществляются с помощью персонального компьютера и установленного базового программного обеспечения FSpec, разработанного специалистами компании для среды Windows XP/Vista/7/8/10. Программа имеет интуитивно понятный пользовательский интерфейс, позволяет создавать собственные библиотеки спектров, полученных на спектрометрах ФСМ, а также пользоваться стандартными библиотеками и работает со спектрами в форматах *.spe, *.spc, *.dx, *.asc. Обработка спектров включает основные математические операции и преобразования, поиск спектральных линий и определение их параметров. Для работы по стандартным методикам: ГОСТ, ASTM, EN, SEMI или проведения измерений в режиме анализатора к платформе FSpec подгружаются дополнительные программные модули с «кнопочным» управлением прибора, дополнительного оборудования, встроенными алгоритмами измерений и градуировками. Универсальность прибора обеспечивается возможностью установки в его кюветное отделение различных газовых и жидкостных кювет, оптических приставок и приспособлений, позволяющих проводить исследование жидких, твердых и газообразных образцов. ИК фурье-спектрометры моделей ФСМ 2201/2202 отличаются от выпускавшихся ранее моделей (ФСМ 1201/1202) повышенным отношением сигнал/шум и большеразмерным кюветным отделением.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка для БИК-анализа
Приставка для БИК-анализа
Приставка предназначена для измерения спектров поглощения образцов в ближней инфракрасной области спектра в диапазоне 4 000 — 12 500 см-1 совместно с ИК фурье-спектрометром ФСМ 1211. Используя ближнюю ИК-область, можно проводить идентификацию и количественный анализ фармацевтических препаратов, продукции химической, полимерной, текстильной, пищевой, сельскохозяйственной и других отраслей промышленности. Метод БИК-анализа позволяет исследовать порошки, измельченные и волокнистые материалы и т.п.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка-автосамплер для анализа бензинов
Приставка-автосамплер для анализа бензинов
Предназначена для установки в универсальный ИК фурье-спектрометр ФСМ для проведения анализа бензинов, включающего: определение концентрации бензола по ГОСТ Р 51930 (ASTM D4053, EN 238); определение концентрации оксигенатов по ГОСТ Р 52256 (ASTM D 5845).
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45
Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45
Предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне: для идентификации покрытий и определения их толщины.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург