Технологическая приставка без воды 1200x250x850 мм, раб. поверхность - НЕРЖАВЕЮЩАЯ СТАЛЬ

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Для достижения предельной чувствительности при измерениях применяется специальная приставка к фурье-спектрометру ФТ-801, представляющая собой оптический блок со встроенным высокочувствительным МСТ детектором, охлаждаемым жидким азотом. Приставка устанавливается в кюветный отсек спектрометра и подключается к соответствующему внешнему электрическому порту, детектор включается программно. Чувствительность метода при этом повышается во много раз (до 20) – в зависимости от типа штатного неохлаждаемого детектора в спектрометре). Увеличивается также скорость регистрации спектров. Время работы после заполнения криостата (емкостью 200 мл) жидким азотом - не менее 6 часов. Повышение чувствительности спектрометра с помощью приставки с МСТ детектором может потребоваться для многих применений: в волоконной спектроскопии, при регистрации спектров эмиссии маломощных излучателей, при трассовом газовом анализе с высоким спектральным разрешением, при определении наличия в пробах примесей в сверхмалых концентрациях, при использовании многоходовых газовых кювет и т.п. На рисунке: слева в кюветном отсеке - каплер с волокном фирмы Art photonics GmbH, Berlin, Germany, справа - приставка с МСТ детектором. Технические характеристики Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 50 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Емкость криостата, мл 200 Время работы после заполнения криостата, часов 6 Габаритные размеры, мм 225×175×75 Масса, кг 1,45

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности и функциональных возможностей стола (подвод воды, газа и т.п.). Конструкция приставки предусматривает последовательное соединение двух приставок, а также установку до двух дополнительных полок, двух кранов (для сжатого воздуха, подачи вакуума или газа). Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: нержавеющая сталь Кран для воды с фильтром: 1шт Кран для воды без филтра: 1 шт Материал раковины: полипропилен Цвет каркаса: белый Масса: 16 кг

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности. Состоит из металлического каркаса и столешницы. Крепится к столам лабораторным и приборным. Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: ламинат серый Цвет каркаса: белый Масса: 11 кг

Для установки кварцевых кювет типа КФК в спектрометр ФСМ используется держатель ДК КФК, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности и функциональных возможностей стола (подвод воды, газа и т.п.). Конструкция приставки предусматривает последовательное соединение двух приставок, а также установку до двух дополнительных полок, двух кранов (для сжатого воздуха, подачи вакуума или газа). Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: Labgrade Кран для воды с фильтром: 1шт Кран для воды без филтра: 1 шт Материал раковины: полипропилен Цвет каркаса: белый Масса: 17 кг

Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ.

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых и жидких образцов, в том числе полимерных частиц, пленок и волокон, порошкообразных веществ, фрагментов лакокрасочных покрытий, горюче-смазочных материалов. Наличие оптической системы визуального контроля исследуемой поверхности с увеличением 75Х обеспечивает высокую эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) используется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45°. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, кристаллов, тонких пленок на поверхности, а также при регистрации спектров поглощения крупных цельных объектов. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 30 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 Минимальная площадь твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл 1 Минимальные размеры образца волокна: диаметр сечения/длина, мм 0.1/1 Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge Диаметр пятна фокусировки, мм 1 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива /общее увеличение визуального канала 4Х/75Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 Габаритные размеры, мм 150×150×260 Масса, кг 2,15 • Позволяет исследовать объекты малых размеров (от 200 мкм - в зависимости от геометрии, качества поверхности и физико-химических свойств материала) • Приставка позволяет работать без пробоподготовки, имеет фиксируемую регулировку давления на образец с помощью прижима, снабженного цветовыми индикаторами • Благодаря съемному фланцу с элементом НПВО обеспечивается быстрая и удобная смена образцов и очистка поверхности кристалла • При заданном оптимальном усилии контакта метод обеспечивает высокое качество и повторяемость результатов благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения • Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами

Основное отличие данной приставки от универсальной приставки НПВО и ЗДО состоит в том, что в качестве рабочего элемента МНПВО используется призма, позволяющая получить несколько отражений от области контакта с исследуемым образцом, что приводит к улучшению качества спектра и повышению чувствительности метода (полосы поглощения становятся более выраженными). Регистрация спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) на данной приставке не предусмотрена. Приставка МНПВО эффективна при регистрации спектров поглощения образцов, размеры (количество) которых достаточны для обеспечения контакта со всей площадью рабочей грани призмы: * жидкостей любой степени вязкости (растворов,суспензий, масел и т.д.); * твердых эластичных образцов (полимерных фрагментов достаточно большого размера, резин, пластиков и т. д.); * порошкообразных образцов в количествах, достаточных для нанесения на всю поверхность и образцов в виде тонких пленок; Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Примечание: приставка МНПВО не исключает возможности регистрировать спектры образцов, размеры которых меньше площади рабочей грани призмы (наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности повышает удобство при работе с малоразмерными объектами), но общая эффективность метода при этом существенно ниже, чем при использовании универсальной приставки НПВО и ЗДО. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 25 · Рекомендуемое число сканирований при регистрации спектров 25 · Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 · Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 · Минимальная площадь твердого образца, мм2 1 · Минимальный объем исследуемой жидкости, мл 0. 3 · Допустимый диапазон рН анализируемых объектов от 5 до 9 · Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge · Диаметр пятна фокусировки, мм 3 · Количество отражений 3 · Размер рабочей грани призмы, мм 21 Х 6 · Увеличение микрообъектива 4Х · Общее увеличение визуального канала 75Х · Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 · Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 · Габаритные размеры,мм 145×125×240 · Масса, кг 2

Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

ИК фурье-спектрометры "ФТ-801" могут дополнительно оснащаться специальной оптической приставкой, позволяющей эффективно использовать световодные системы. 4 типа световодных зондов позволяют измерять спектры пропускания и отражения (НПВО) в твердых, жидких и газообразных средах Современные ИК световоды обладают высоким собственным пропусканием и достаточной механической прочностью, что позволяют перенести измерения из лаборатории непосредственно на производство - для контроля протекания техпроцессов, проверки качества сырья и готовой продукции. Области применения: · Химическая и микробиологическая промышленность · Фармацевтическая промышленность · Медицина и косметология · Пищевая промышленность · Нефтепродукты, ГСМ · Криминалистика

Подставка для кювет ПК 50-75 предназначена для установки: кварцевой кюветы типа СФ в держателе ДК 10-10; кварцевой кюветы типа КФК в держателе ДК КФК; разборной кюветы КР1, разборной кюветы КР20, держателя пленок, держателя таблеток, держателя твердых образцов.

Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности и функциональных возможностей стола (подвод воды, газа и т.п.). Конструкция приставки предусматривает последовательное соединение двух приставок, а также установку до двух дополнительных полок, двух кранов (для сжатого воздуха, подачи вакуума или газа). Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: Durcon Кран для воды химически стойкий: 2шт Материал раковины: полипропилен Цвет каркаса: белый Масса: 26 кг

Совместно с оптическим прибором приставка ФЭП-10 используется для качественного и количественного анализа различных материалов на основании градуировочных характеристик, построенных по стандартным образцам. Технические характеристики: Тип фотоприемников линейные CMOS-приемники с высоким динамическим диапазоном. Количество фотоприемников 3...12 Размеры фоточувствительного элемента (пикселя) , мкм. 7х200 Количество пикселей на одной ПЗС-линейке 4096 Длина спектра, регистрируемого одной ПЗС-линейкой, мм. 29 Общая длина регистрируемого спектра, мм. до 340