Зондовая нанолаборатория NTEGRA Vita

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Разработан для проведения комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Он позволяет получать полные спектры рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ изображения. Конструкция комплекса Centaur I HR позволяет работать как с отдельными методиками (например, с атомно-силовой-микроскопией), так и проводить совмещение методик (АСМ-Раман, конфокальная лазерная и АСМ).

NTEGRA Spectra II - это уже второе поколение измерительной системы, успешно демонстрирующей объединение двух миров: АСМ и Рамановскую спектроскопию. От рельефного картирования до 2D спектрального анализа, от исследований электрических и механических свойств до оптических измерений с разрешением ниже дифракционного предела. Теперь ученые могут проводить единовременно полный физико-химический анализ поверхностных свойств образца. В результате исследователи получают неограниченные возможности для развития своих лабораторных методик.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Сканирующая Зондовая Микроскопия/методики На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/

Сканирующий Зондовый Микроскоп в основе каждой модели NTEGRA предназначен для изучения свойств поверхности в нанометровом масштабе. Он позволяет визуализировать и выполнять количественные измерения механических (твердость, эластичность, вязкость), электрических (проводимость, емкость, распределение поверхностного заряда) и магнитных свойств образца на областях от сотен микрон до ангстрем. На базе NTEGRA доступно более 40 СЗМ методов исследований, которые могут проводиться как на воздухе, так и в контролируемой атмосфере, вакууме, жидкостях, электрохимических ячейках. Особенностью прибора NTEGRA MFM является то, что большая часть деталей измерительной МСМ–головки и сменного основания выполнены из немагнитных материалов, что позволяет избежать изменения положения зонда при изменении магнитного поля. Для получения магнитного поля в NTEGRA MFM используется постоянный магнит. Изменение величины магнитного поля осуществляется за счет поворота магнита. Такая конструкция с вращающимся постоянным магнитом выгодно отличается от электромагнита и соленоида отсутствием выделения тепла, термодрейфа образца и механической вибрации вследствие прохождения охлаждающей жидкости. Кроме того, такая конструкция имеет малые габариты и вес. В качестве магнита, генерирующего магнитное поле используется сплав NdFeB, а магнитопроводы выполнены из перемендюра. Конструкция генератора магнитного поля разработана таким образом, что в пределах одного держателя образца существуют области с продольным и поперечным магнитным полем. Таким образом, в зависимости от расположения образца на подложке можно проводить измерения либо в продольном, либо в поперечном магнитном поле. Датчик Холла расположен непосредственно под образцом, между магнитопроводами.

NTEGRA Spectra поддерживает большинство существующих режимов АСМ (более 40), и СТМ, предоставляя исчерпывающую информацию о физических свойствах образца с нанометровым разрешением: локальной топографии, жесткости, упругости, проводимости, емкости, намагниченности, поверхностном потенциале, трении, пьезоотклике и т.д. В измерительную головку могут быть установлены различные типы зондовых датчиков. Проведенные одновременно с СЗМ на одном и том же участке образца конфокальные фотолюминесцентные и рамановские измерения позволяют получить информацию о химическом составе образца, кристаллической структуре, ее ориентации и деформации, наличии примесей и дефектов, конформации макромолекул и т.д. Реализованные в NTEGRA Spectra три канала системы ввода/вывода излучения позволяют заводить на образец инициирующее лазерное излучение и собирать сигнал эмиссии сверху, сбоку, а также снизу. Все три оптических канала системы могут быть установлены как по отдельности, так и одновременно.

Встроенная оптическая видеосистема с разрешением до 1 мкм позволяет упростить процедуру наведения луча лазера на зонд и выбрать участок поверхности для исследования, а также контролировать процесс сканирования в режиме реального времени. Система NTEGRA Prima поддерживает все типы сканирования, необходимые для различных образцов. Доступно сканирование образцом, зондом или одновременное сканирование образцом и зондом. При этом диапазон сканирования увеличивается до 200 мкм в плоскости XY и до 20 мкм вдоль оси Z.