Нанолаборатория на базе АСМ NTEGRA ACADEMIA

Делитель проб ротационный ДПР-30 предназначен для сокращения геологических проб горных пород и руд, при их подготовке к аналитическим исследованиям. Техническая характеристика ДПР-30 Крупность исходного питания, мм, не более 20 Полный объем всех пробоприемников, дм3 30 Степень сокращения 1/2...1/8 Мощность привода, кВт 0,25 Габаритные размеры, мм Длина 550 Ширина 580 Высота 800 Масса, кг 110

Технические характеристики: Фокусное расстояние (выходное): 750 мм Относительное отверстие (по входу): 1/8,9 Спектр. разреш.: 0,015 и 0,0008 (эшелле) нм Обр. лин. дисп.: 1,02 и 0,055 (эшелле) нм/мм Отличие: высокое спектральное разрешение, идеальный контур спектральных линий.

Предназначен для равномерной регулируемой подачи сыпучих зернистых и кусковых материалов. Техническая характеристика ПТ-1 (358 ПТ) Ширина лотка, мм 100 Длина лотка, мм 450 Амплитуда колебаний лотка, мм 0,2 Крупность транспортируемого материала, мм до 10 Производительность при исходном материале с насыпной массой от 1,5 до 1,7 т/м3, кг/час 50-1000 Габаритные размеры, мм Длина 660 Ширина 375 Высота 380 Масса, кг 35

Плоскопараллельный сканирующий пьезостолик. Устройство представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно из алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканеры обладают высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.

НТ-МДТ Спектрум Инструментс представляет ИНТЕГРА Нано ИК – рассеивающий сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (р‑СБОМ), предназначенный для инфракрасного спектрального диапазона. АСМ зонд располагается в фокусе оптической системы, направляющей излучение ИК лазера на образец и собирающей оптический отклик. Собранное излучение направляется в интерферометр Майкельсона для оптического анализа. Дальнепольная компонента собранного сигнала подавляется синхронным детектированием. Система ИНТЕГРА Нано ИК позволяет детектировать амплитуду и фазу ближнепольного сигнала. Пространственное разрешение получаемых контрастов отражения и поглощения составляет примерно 10 нм и определяется только размерами острия зонда.

Устройство предназначено для измерения угла естественного откоса сыпучих материалов и для последующего расчета коэффициента внутреннего трения. Устройство состоит из прозрачной кюветы призматической формы, отклоняющего привода, измерительной шкалы и станины. Технические характеристики 952РМ Диапазон изменения угла наклона измерительной пластины: - максимальный, ° 0-90 - рабочий,° 20-50 Объём емкости для сыпучего материала (макс), см3 200 Напряжение питания, В 220 Номинальная полезная мощность на валу мотор-редуктора, Вт 5 Габаритные размеры, мм, не более: длина 260 ширина 260 высота 284 Масса, кг 6,8

Анализатор размеров частиц Микросайзер 201 предназначен для измерения распределений по размерам частиц в жидких средах. Диапазоны размеров частиц: для модели 201А - от 0,2 до 300 мкм для модели 201С - от 0,2 до 600 мкм Характеристики: Детектор - фотодиодная матрица Количество каналов регистрации - 38 Блок пробоподготовки SP-306:  объем камеры - 100 мл  устройство подачи образца - центробежный насос  частота ультразвукогого излучения - 50 кГц  мощность ультразвука - до 200 Вт (регулируемая) Управление - персональный компьютер Габариты (ДхШхВ), масса:  оптический блок:   для модели 201А - 670х335х200 мм, 21 кг   для модели 201С - 670х335х200 мм, 23 кг  блок подготовки пробы:   SP-306 - 420х335х395 мм, 20 кг

Сократитель предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Техническая характеристика 934РМ Ширина планок, мм 10 Количество планок, шт. 48 Общая ширина поверхности рифлей, мм 480 Количество рифлей при ширине: 10 мм 48 20 мм 24 30 мм 16 40 мм 12 60 мм 8 80 мм 6 Емкость воронки, л 20 Применяемые ширины рифлей, мм 10,20,30,40,60,80 Габаритные размеры, мм Длина 600 Ширина 500 Высота 720 Масса, кг 40

NTEGRA Spectra II - это уже второе поколение измерительной системы, успешно демонстрирующей объединение двух миров: АСМ и Рамановскую спектроскопию. От рельефного картирования до 2D спектрального анализа, от исследований электрических и механических свойств до оптических измерений с разрешением ниже дифракционного предела. Теперь ученые могут проводить единовременно полный физико-химический анализ поверхностных свойств образца. В результате исследователи получают неограниченные возможности для развития своих лабораторных методик.

Анализаторы "Микросайзер 201" позволяют проводить гранулометрический анализ быстро и точно, благодаря чему широко применяются для контроля технологических процессов и качества продукции в алюминиевой и пищевой промышленности, в порошковой металлургии, в производстве керамики, абразивных материалов и цементов, а также для проведения исследований в биологии, медицине, экологии и других областях науки. Тех. характеристики: Диапазон размеров частиц: для модели 201А для модели 201С 0.2 - 300 мкм 0.2 - 600 мкм Источник излучения He-Ne Лазер Детектор Фотодиодная матрица Количество каналов регистрации 38 Система управления и обработки данных Персональный компьютер Блоки подготовки пробы SP 305, SP 306 Объем камеры 100 мл Устройство подачи образца Центробежный насос Частота ультразвукового излучения 50 кГц Мощность ультразвукового излучения До 200 Вт (регулируемая) Габариты (ДхШхВ), масса Оптический блок: для модели 201А для модели 201С 670х335х160 мм, 13 кг 670х335х160 мм, 15 кг Блок подготовки пробы: SP 305 Sp 306 310х300х370 мм, 13 кг 310х300х370 мм, 14 кг Условия эксплуатации Температура воздуха 10 - 35 °С Относительная влажность воздуха < 80 % Напряжение питания 220 ± 22 В Частота сетевого напряжения 50 ± 1 Гц

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Сократитель предназначен для отбора и сокращения проб суспензий плотностью до 5г/см3 перед пробирным или химическим анализом и деления их на 1/2, 1/4 и 1/8 частей. Техническая характеристика 928РМ-Б Количество секций 3 Высота подставки под сократитель, мм, не более 548 Ширина подставки под сократитель, мм, не более 500 Объем сокращаемой пробы, л 10 Крупность материала, мм 0-1 Габаритные размеры, мм Длина 1030 Ширина 500 Высота 500 Масса, кг 9,4

Техническая характеристика: Диапазон перестройки: 414 — 2300 нм Вариант перестройки: ручная Max эффективность преобразования: 40% Ширина линии: от 0.15 нм Частота следования импульсов: 1 — 20 Гц Расходимость: < 12 мрад

Технические характеристики: Оптическая схема: вертикально-симметричная двухканальная Относительное отверстие: 1/9.3, 1/5 (с внешними конденсорами) Фокусное расстояние: 158 мм

Особенности Пространственное разрешение 1 μм Измерение в режиме пропускания / отражения Лазер 532 нм и 785 нм в одном микроскопе Профессиональное ПО для автоматического распознавания веществ Расширенный спектральный диапазон позволяет одновременно анализировать Рамановское излучение и люминесценцию, что дает больше важной информации об изучаемом объекте