Поиск

NTEGRA Spectra II - это уже второе поколение измерительной системы, успешно демонстрирующей объединение двух миров: АСМ и Рамановскую спектроскопию. От рельефного картирования до 2D спектрального анализа, от исследований электрических и механических свойств до оптических измерений с разрешением ниже дифракционного предела. Теперь ученые могут проводить единовременно полный физико-химический анализ поверхностных свойств образца. В результате исследователи получают неограниченные возможности для развития своих лабораторных методик.

НТ-МДТ Спектрум Инструментс представляет ИНТЕГРА Нано ИК – рассеивающий сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (р‑СБОМ), предназначенный для инфракрасного спектрального диапазона. АСМ зонд располагается в фокусе оптической системы, направляющей излучение ИК лазера на образец и собирающей оптический отклик. Собранное излучение направляется в интерферометр Майкельсона для оптического анализа. Дальнепольная компонента собранного сигнала подавляется синхронным детектированием. Система ИНТЕГРА Нано ИК позволяет детектировать амплитуду и фазу ближнепольного сигнала. Пространственное разрешение получаемых контрастов отражения и поглощения составляет примерно 10 нм и определяется только размерами острия зонда.