Полярископ - поляриметр ПКС-250М

Применение MZDD350i Спектральные измерения от УФ до ИК диапазона в окнах прозрачности: В качестве перестраиваемого в широком спектральном диапазоне фильтра с заданной полосой пропускания при сильном подавлении рассеянного света. Рамановская спектроскопия: Высокая степень подавления рассеянного света позволяет производить измерения близко от лазерной линии. Спектроскопия импульсных источников света: Практически нулевое уширение световых импульсов после прохождения двойного монохроматора, благодаря точному обратному ходу лучей во втором монохроматоре, по отношению к первому. Одинаковая длина пути для всех длин волн. Определение спектральной чувствительности детекторов и другие измерения, где важна однородность света по выходной щели. В качестве монохроматического осветителя, в котором можно задать выделяемый спектральный интервал. Достоинства MZDD350i Широкая спектральная область: УФ, видимый, ИК спектральные диапазоны Низкий уровень рассеянного света Высокая апертура Высокая точность установки и определения длин волн Полная автоматизация Оптическая система Конфигурация: пара монохроматоров, построенных по схеме Черни-Тернера и расположенных каскадно для вычитания дисперсии Порты*: 1 входной и 1 выходной Диапазон длин волн: 185 нм — 60 мкм (определяется используемыми решетками) Относительное отверстие (по входу): 1/3.8 Фокусное расстояние зеркал: 300 мм и 350 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом разворота дифракционной решётки: 0 — 1270 нм (для решётки 1200 штр/мм) Основные зеркала: сферические Рассеянный свет: 5х10-10 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Требования к питающей сети Напряжение питания: (100…220) В, 50/60 Гц Потребляемая мощность: не более 70 Вт

MS350 — полностью автоматизированный монохроматор-спектрограф изображения с фокусным расстоянием 350 мм и высоким относительным отверстием: 1/3.8. Отличные технические характеристики, высокая апертура, надежность, гибкость в выборе конфигураций, средние размеры — все это делает монохроматор-спектрограф MS350 многоцелевым прибором для выполнения высококачественных измерений. Оптическая схема: Черни-Тернера (модели MS3501i и MS3504i – с компенсацией астигматизма) Порты: 1 входной, 2 выходных Диапазон длин волн: 185 нм — 60 мкм (определяется используемыми решетками) Относительное отверстие (по входу): 1/3.8 Фокусное расстояние (выходное): 350 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом поворота решетки*: 0 — 1280 нм Основные зеркала: сферические Рассеянный свет: 1 х 10-5 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Фокальная плоскость: 28 х 10 мм Габаритные размеры (Д х Ш х В): 510 х 395 х 200 мм Вес: 19 кг (может незначительно отличаться в зависимости от комплектации)

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Рамановский Микроскоп М532/785 предназначен для получения увеличенных изображений мелких деталей структуры образцов, а также для измерения спектральных характеристик образца по спектрам рамановского рассеяния и фотолюминесценции. Функционал прибора М532/785 предназначен для задач спектральной идентификации и анализа состава микрочастиц и прочих микро-структурированных объектов и субстанций, а за счет системы с двумя лазерами 532 нм и 785 нм – идентификация под различные задачи. Особенности Пространственное разрешение 1 μм Измерение в режиме пропускания / отражения Лазер 532 нм и 785 нм в одном микроскопе Профессиональное ПО для автоматического распознавания веществ Расширенный спектральный диапазон позволяет одновременно анализировать Рамановское излучение и люминесценцию, что дает больше важной информации об изучаемом объекте Преимущества Полнофункциональная Рамановская система высокого класса по привлекательному и более эффективному соотношению цены и качества Небольшие размеры и портативность Анализ в сверхмалых дозах, основанный на собственной технологии SERS.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Климатостат предназначен для проведения анализа по биотестированию и проверки изменения свойств биологических сред, материалов и изделий под воздействием света и температуры, определение токсичности вод, водных вытяжек из почв и осадков сточных вод по смертности и изменению плодовитости цереодафний, а также по изменению уровня флуоресценции хлорофилла и численности клеток водорослей.

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Технические характеристики СЖ 5-16 (мини) Ширина желобков, мм 5 Количество желобков, шт 16 Объем деления, л 0,3 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 130/126/150 Масса, кг 2,7.

Интерференционный микроскоп "ФемтоСкан Инлайт" служит для точного измерения топографии отражающих объектов, может использоваться для наблюдения плоскостности динамически изменяющейся поверхности (например, грани растущего кристалла), измерения толщины пленок (высоты выступов, образованных краями пленки и подложки). Микроскоп позволяет исследовать образцы на воздухе и в жидких средах. Принцип действия основан на интерференции лучей отраженных от поверхности исследуемого образца с опорным световым потоком одинаковой интенсивности.

Сократитель предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Техническая характеристика 934РМ Ширина планок, мм 10 Количество планок, шт. 48 Общая ширина поверхности рифлей, мм 480 Количество рифлей при ширине: 10 мм 48 20 мм 24 30 мм 16 40 мм 12 60 мм 8 80 мм 6 Емкость воронки, л 20 Применяемые ширины рифлей, мм 10,20,30,40,60,80 Габаритные размеры, мм Длина 600 Ширина 500 Высота 720 Масса, кг 40.

Сократитель предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Техническая характеристика СР 5-48 (943РМ) Ширина планок, мм 5 Количество планок, шт. 48 Общая ширина поверхности рифлей, мм 240 Количество рифлей при ширине: 5 мм 48 10 мм 24 15 мм 16 20 мм 12 30 мм 8 40 мм 6 Размер куска для деления при ширине рифлей (мм): 5 мм 3,5 10 мм 7 15 мм 10,5 20 мм 14 30 мм 21 40 мм 28 Емкость воронки, л 4,5 Применяемые ширины рифлей, мм 5, 10, 15 , 20 Габаритные размеры, мм Длина 320 Ширина 280 Высота 420 Масса, кг 14.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Приборы нового поколения, автоматизированные станции непрерывного радиационного контроля Застава-1 предназначены для организации непрерывного эффективного контроля радиационной обстановки и оповещения о радиационной опасности. Станции имеют до трёх независимых каналов измерения, что позволяет вести мониторинг одновременно в нескольких зонах. Станции поддерживают удаленный мониторинг - имеют подключение к локальной компьютерной сети, выход в Интернет.

Двухканальный спектрограф NP250-2M производства СОЛ инструментс — это уникальный инструмент с компенсацией астигматизма, ручным управлением, относительным отверстием 1/4.2, фокусным расстоянием 270 мм, а также возможностью смены дифракционных решеток. NP250-2M оптимизирован для работы с детекторами на базе ПЗС-матриц. Отличительные особенности NP250-2M: Параболические зеркала Два независимых спектральных канала Высокое пространственное разрешение по высоте щели Широкий выбор дифракционных решеток Области применения: Многоканальная спектроскопия Измерения в УФ, видимой и ИК спектральных областях Эмиссионная, флуоресцентная и рамановская спектроскопия Измерения коэффициентов поглощения и пропускания Оптическая система: модифицированная оптическая схема Хилла с компенсацией астигматизма: два независимых спектральных канала Диапазон длин волн: 185 нм – 60 мкм (в зависимости от используемой решетки) Общее относительное отверстие по входу: 1/4.2 Относительное отверстие по входу каждого спектрального канала: 1/6.1 Фокусное расстояние: 270 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом разворота решеток: 1280 нм (для решетки 1200 штр/мм) Основные зеркала: внеосевые параболические Рассеянный свет: 2.5*10-5 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Габаритные размеры: Габаритные размеры (Д х Ш х В): 385 х 280 х 215 мм Оптическая высота: 111 — 120 мм Вес: 10 кг

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части Технические характеристики СЖ 3-14 (микро) Ширина желобков, мм 3 Количество желобков, шт 14 Объем деления, л 0,18 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 90/126/150 Масса, кг 1,9

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Отличительные особенности NP250-2: Параболические зеркала Два независимых спектральных канала Высокое пространственное разрешение по высоте щели Широкий выбор дифракционных решеток Области применения: Многоканальная спектроскопия Измерения в УФ, видимой и ИК спектральных областях Эмиссионная, флуоресцентная и рамановская спектроскопия Измерения коэффициентов поглощения и пропускания Оптическая система NP250-2: Оптическая система: модифицированная оптическая схема Хилла с компенсацией астигматизма: два независимых спектральных канала Диапазон длин волн: 185 нм – 60 мкм (в зависимости от используемой решетки) Общее относительное отверстие по входу: 1/4.2 Относительное отверстие по входу каждого спектрального канала: 1/6.1 Фокусное расстояние: 270 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом разворота решеток: 1280 нм (для решетки 1200 штр/мм) Основные зеркала: внеосевые параболические Рассеянный свет: 2.5*10-5 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Габаритные размеры: Габаритные размеры (Д х Ш х В): 510 х 280 х 215 мм Оптическая высота: 111 — 120 мм Вес: 14 кг Напряжение питания: 110 — 230 В 50/60 Гц Потребляемая мощность: не более 35 Вт