Сократитель рифельный СР 5-48 (943РМ)

МД-10 - рентгеновский дифрактометр, обеспечивающий неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ. Метод основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Измеряя углы и интенсивности дифракционных пиков можно определить параметры кристаллической решетки, провести качественный и количественный фазовый состав вещества, уточнить модификацию (фазу) конкретного соединения, например по базе данных типа JCPDS-ICDD.

Технические характеристики: Оптическая схема: оригинальная с вычитанием дисперсии Рабочий диапазон длин волн (эффективность решетки > 40%): 190 — 560 нм Относительное отверстие (по входу): 1/3.6 Фокусное расстояние (выходное): 160 мм Рассеянный свет (20 нм от лазера): 10-7 Спектральное разрешение (ширина входной и промежуточной щели 0.22 мм): 1.3 нм

Техническая характеристика: Диапазон перестройки: 414 — 2300 нм Вариант перестройки: ручная Max эффективность преобразования: 40% Ширина линии: от 0.15 нм Частота следования импульсов: 1 — 20 Гц Расходимость: < 12 мрад

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Технические характеристики СЖ 5-16 (мини) Ширина желобков, мм 5 Количество желобков, шт 16 Объем деления, л 0,3 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 130/126/150 Масса, кг 2,7

Прибор обеспечивает шесть степеней свободы перемещения в кювете зерен сыпучих (гранулярных) материалов. Устройство может использоваться, например, для перемешивания малых проб порошков для аддитивных технологий, усреднения проб измельченных минеральных продуктов перед химическим анализом или перед замером реологических свойств гранулярных материалов – текучести, угла естественного откоса. Технические характеристики 954РМ Объём контейнера для проб, мл 120 Частота вращения обоймы для проб, мин-1 52 Мощность привода, Вт 18 Крутящий момент на валу обоймы, Нм до 5 Напряжение питающей сети, В 220 Масса, кг 4,6

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

NTEGRA Spectra II - это уже второе поколение измерительной системы, успешно демонстрирующей объединение двух миров: АСМ и Рамановскую спектроскопию. От рельефного картирования до 2D спектрального анализа, от исследований электрических и механических свойств до оптических измерений с разрешением ниже дифракционного предела. Теперь ученые могут проводить единовременно полный физико-химический анализ поверхностных свойств образца. В результате исследователи получают неограниченные возможности для развития своих лабораторных методик.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения. Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов.

Техническая характеристика: Оптическая схема: горизонтально-симметричная с двумя объективами Компенсация астигматизма: есть Независимые спектральные каналы: 1 Относительное отверстие (по входу): 1/3.3 Фокусное расстояние: 99.3 мм Рассеянный свет (20 нм от лазера): 9 х 10-4 Горизонтальное увеличение: 1.2 нм Отличительные особенности прибора: простота, компактность и малый вес

НТ-МДТ Спектрум Инструментс представляет ИНТЕГРА Нано ИК – рассеивающий сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (р‑СБОМ), предназначенный для инфракрасного спектрального диапазона. АСМ зонд располагается в фокусе оптической системы, направляющей излучение ИК лазера на образец и собирающей оптический отклик. Собранное излучение направляется в интерферометр Майкельсона для оптического анализа. Дальнепольная компонента собранного сигнала подавляется синхронным детектированием. Система ИНТЕГРА Нано ИК позволяет детектировать амплитуду и фазу ближнепольного сигнала. Пространственное разрешение получаемых контрастов отражения и поглощения составляет примерно 10 нм и определяется только размерами острия зонда.

Климатостат предназначен для проведения анализа по биотестированию и проверки изменения свойств биологических сред, материалов и изделий под воздействием света и температуры, определение токсичности вод, водных вытяжек из почв и осадков сточных вод по смертности и изменению плодовитости цереодафний, а также по изменению уровня флуоресценции хлорофилла и численности клеток водорослей.

Фильтр лабораторный предназначен для фильтрации суспензий плотностью до 5г/см3 в лабораторных условиях в периодическом режиме. Техническая характеристика 55ФТ Максимальное давление используемого сжатого воздуха, кг/см2 6 Количество сменных фильтровальных стаканов 3 Объем стаканов, л 2; 1; 0,5 Габаритные размеры, мм Длина 560 Ширина 390 Высота 530 Масса, кг 26*

Технические характеристики: Фокусное расстояние: 1000 (2*500) мм Относительное отверстие: 1/5,9 Спектральное разрешение: 0,013 нм (ФЭУ), 0.017 нм (цифровая камера (12 мкм пиксел)) Обратная линейная дисперсия: 0.78 нм/мм Отличие: высокое спектральное разрешение и низкий уровень рассеянного света.

Cпектрометр МС-1104Е характеризуется высокой производительностью и точностью мессбауэровских измерений, достигаемых за счет использования “сжатой” геометрии, а также применения высокоэффективных и селективных резонансных сцинтилляционных блоков детектирования, позволяющих улучшить энергетическое разрешение линий резонансного поглощения до 30%. Разработанная и используемая в спектрометре методика программно-аппаратной стабилизации спектрометрического тракта позволяет проводить длительные мессбауэровские измерения без ручной подстройки. Метод модуляции в заданных интервалах скоростей позволяет существенно повысить чувствительность и экспрессность измерений и в десятки раз сократить время определения величин эффектов резонансного поглощения при исследовании температурных фазовых переходов с малой концентрацией резонансных элементов. Электронные блоки спектрометра разработаны на основе современной элементной базы с использованием программируемых логических матриц и микропроцессоров. Регулируемые спектрометрические тракты и высоковольтные источники питания ФЭУ встроены в блоки детектирования, модули драйвера модулятора и много-канального накопителя выполнены в стандарте ISA и расположены в процессорном блоке компьютера. Задание и контроль всех параметров спектрометра и обработка измеренных спектров осу-ществляется из рабочих окон управляющей и обрабатывающей программ. За период с 2000 г более десяти спектрометров данного типа поставлено в ведущие научные организации России и ближнего зарубежья. Следует отметить одно из немногочисленных промышленных применений мессбауэровской спектроскопии - разработку и поставку на Волгодонскую АЭС аттестованных методики и спектрометра МС-1104Ем для контроля коррозионных процессов в теплообменных контурах реактора ВВЭР-1000.