Устройство для перемешивания малых проб сыпучих материалов 954РМ

МД-10 - рентгеновский дифрактометр, обеспечивающий неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ. Метод основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Измеряя углы и интенсивности дифракционных пиков можно определить параметры кристаллической решетки, провести качественный и количественный фазовый состав вещества, уточнить модификацию (фазу) конкретного соединения, например по базе данных типа JCPDS-ICDD.

Технические характеристики: Оптическая схема: оригинальная с вычитанием дисперсии Рабочий диапазон длин волн (эффективность решетки > 40%): 190 — 560 нм Относительное отверстие (по входу): 1/3.6 Фокусное расстояние (выходное): 160 мм Рассеянный свет (20 нм от лазера): 10-7 Спектральное разрешение (ширина входной и промежуточной щели 0.22 мм): 1.3 нм

Техническая характеристика: Диапазон перестройки: 414 — 2300 нм Вариант перестройки: ручная Max эффективность преобразования: 40% Ширина линии: от 0.15 нм Частота следования импульсов: 1 — 20 Гц Расходимость: < 12 мрад

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Технические характеристики СЖ 5-16 (мини) Ширина желобков, мм 5 Количество желобков, шт 16 Объем деления, л 0,3 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 130/126/150 Масса, кг 2,7

Сократитель предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Техническая характеристика СР 5-48 (943РМ) Ширина планок, мм 5 Количество планок, шт. 48 Общая ширина поверхности рифлей, мм 240 Количество рифлей при ширине: 5 мм 48 10 мм 24 15 мм 16 20 мм 12 30 мм 8 40 мм 6 Размер куска для деления при ширине рифлей (мм): 5 мм 3,5 10 мм 7 15 мм 10,5 20 мм 14 30 мм 21 40 мм 28 Емкость воронки, л 4,5 Применяемые ширины рифлей, мм 5, 10, 15 , 20 Габаритные размеры, мм Длина 320 Ширина 280 Высота 420 Масса, кг 14

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

NTEGRA Spectra II - это уже второе поколение измерительной системы, успешно демонстрирующей объединение двух миров: АСМ и Рамановскую спектроскопию. От рельефного картирования до 2D спектрального анализа, от исследований электрических и механических свойств до оптических измерений с разрешением ниже дифракционного предела. Теперь ученые могут проводить единовременно полный физико-химический анализ поверхностных свойств образца. В результате исследователи получают неограниченные возможности для развития своих лабораторных методик.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения. Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов.

Техническая характеристика: Оптическая схема: горизонтально-симметричная с двумя объективами Компенсация астигматизма: есть Независимые спектральные каналы: 1 Относительное отверстие (по входу): 1/3.3 Фокусное расстояние: 99.3 мм Рассеянный свет (20 нм от лазера): 9 х 10-4 Горизонтальное увеличение: 1.2 нм Отличительные особенности прибора: простота, компактность и малый вес

НТ-МДТ Спектрум Инструментс представляет ИНТЕГРА Нано ИК – рассеивающий сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (р‑СБОМ), предназначенный для инфракрасного спектрального диапазона. АСМ зонд располагается в фокусе оптической системы, направляющей излучение ИК лазера на образец и собирающей оптический отклик. Собранное излучение направляется в интерферометр Майкельсона для оптического анализа. Дальнепольная компонента собранного сигнала подавляется синхронным детектированием. Система ИНТЕГРА Нано ИК позволяет детектировать амплитуду и фазу ближнепольного сигнала. Пространственное разрешение получаемых контрастов отражения и поглощения составляет примерно 10 нм и определяется только размерами острия зонда.

Климатостат предназначен для проведения анализа по биотестированию и проверки изменения свойств биологических сред, материалов и изделий под воздействием света и температуры, определение токсичности вод, водных вытяжек из почв и осадков сточных вод по смертности и изменению плодовитости цереодафний, а также по изменению уровня флуоресценции хлорофилла и численности клеток водорослей.

Фильтр лабораторный предназначен для фильтрации суспензий плотностью до 5г/см3 в лабораторных условиях в периодическом режиме. Техническая характеристика 55ФТ Максимальное давление используемого сжатого воздуха, кг/см2 6 Количество сменных фильтровальных стаканов 3 Объем стаканов, л 2; 1; 0,5 Габаритные размеры, мм Длина 560 Ширина 390 Высота 530 Масса, кг 26*

Технические характеристики: Фокусное расстояние: 1000 (2*500) мм Относительное отверстие: 1/5,9 Спектральное разрешение: 0,013 нм (ФЭУ), 0.017 нм (цифровая камера (12 мкм пиксел)) Обратная линейная дисперсия: 0.78 нм/мм Отличие: высокое спектральное разрешение и низкий уровень рассеянного света.

Cпектрометр МС-1104Е характеризуется высокой производительностью и точностью мессбауэровских измерений, достигаемых за счет использования “сжатой” геометрии, а также применения высокоэффективных и селективных резонансных сцинтилляционных блоков детектирования, позволяющих улучшить энергетическое разрешение линий резонансного поглощения до 30%. Разработанная и используемая в спектрометре методика программно-аппаратной стабилизации спектрометрического тракта позволяет проводить длительные мессбауэровские измерения без ручной подстройки. Метод модуляции в заданных интервалах скоростей позволяет существенно повысить чувствительность и экспрессность измерений и в десятки раз сократить время определения величин эффектов резонансного поглощения при исследовании температурных фазовых переходов с малой концентрацией резонансных элементов. Электронные блоки спектрометра разработаны на основе современной элементной базы с использованием программируемых логических матриц и микропроцессоров. Регулируемые спектрометрические тракты и высоковольтные источники питания ФЭУ встроены в блоки детектирования, модули драйвера модулятора и много-канального накопителя выполнены в стандарте ISA и расположены в процессорном блоке компьютера. Задание и контроль всех параметров спектрометра и обработка измеренных спектров осу-ществляется из рабочих окон управляющей и обрабатывающей программ. За период с 2000 г более десяти спектрометров данного типа поставлено в ведущие научные организации России и ближнего зарубежья. Следует отметить одно из немногочисленных промышленных применений мессбауэровской спектроскопии - разработку и поставку на Волгодонскую АЭС аттестованных методики и спектрометра МС-1104Ем для контроля коррозионных процессов в теплообменных контурах реактора ВВЭР-1000.