Фильтр лабораторный 56ФТ

MS200 — полностью автоматизированный и компактный монохроматор-спектрограф изображения с фокусным расстоянием 200 мм, имеющий самое высокое относительное отверстие среди приборов серии MS: 1/3.6. Благодаря отличным техническим характеристикам при небольших размерах, MS200 может применяться как в качестве самостоятельного спектрального прибора, так и в составе спектроскопических систем. Идеален для применений, когда важнейшим требованием является проведение измерений на разных длинах волн в широком спектральном диапазоне за один раз. MS200 – это единственный прибор серии MS, в котором два выходных порта расположены под прямым углом друг к другу, что в ряде случаев важно, например, при проведении поляризационных измерений. Оптическая система Оптическая схема: Черни-Тернера (модели MS2001i и MS2004i – с компенсацией астигматизма) Порты: 1 входной, 2 выходных Диапазон длин волн: 185 нм — 60 мкм (определяется используемыми решетками) Относительное отверстие (по входу): 1/3.6 Фокусное расстояние (выходное): 200 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом разворота решетки*: 0 — 1300 нм Основные зеркала: сферические Рассеянный свет: 3 х 10-5 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Фокальная плоскость: 26 х 10 мм Габаритные размерыые размеры (Д х Ш х В): 300 х 200 х 160 мм Вес: 9 кг (может незначительно отличаться в зависимости от комплектации)

Спектрометр S150 Duo предназначен для анализа спектров оптического излучения, определения длин волн лазеров (в том числе диодных и перестраиваемых). Особенности и преимущества S150 Duo Высокое спектральное разрешение (до 9 пм). Возможность измерение формы и ширины спектральной линии. Высокая точность определения длины волны (до 1 пм). Высокая долговременная стабильность. Малые размеры. Возможность точного поворота дифракционной решетки с последующей перекалибровкой по длине волны. Автоматическая калибровка по длине волны. Высокая точность и воспроизводимость результатов измерений на все время эксплуатации прибора. Удобное для пользователя программное обеспечение, возможность решения нестандартных задач. Оптическая система Оптическая схема: вертикально-симметричная (два спектрометра в одном корпусе) Относительное отверстие: 1/9.3, 1/5 (с внешними конденсорами) Фокусное расстояние: 158 мм Зеркало: сферическое Фокальная плоскость: 28.67 x 0.2 мм Размер дифракционной решетки: 15 x 15 х 3 мм Размер входной щели: 25 x 600 мкм Ввод излучения: с помощью световодов или внешних конденсоров Габаритные размеры: 200 х 143 х 72 мм Вес: 2.5 кг

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Режимы сканирования: ион-проводящая микроскопия атомно-силовая микроскопия силовое картирование литография резистивная микроскопия электростатическая микроскопия магнитная микроскопия cканирующая туннельная микроскопия

MS750 — полностью автоматизированный длиннофокусный монохроматор-спектрограф изображения с фокусным расстоянием 750 мм и относительным отверстием 1/8.9, имеющий лучшее спектральное разрешение среди приборов серии MS при использовании эшелле-решетки. Благодаря идеальному контуру спектральных линий, экстремально высокому пространственному разрешению, широкому плоскому фокальному полю, высокому спектральному разрешению, монохроматор-спектрограф MS750 отвечает самым взыскательным требованиям и может применяться во всех областях спектроскопии, включая спектроскопию высокого разрешения. Оптическая система Оптическая схема: Черни-Тернера (модели MS7501i и MS7504i – с компенсацией астигматизма) Порты: 1 входной, 2 выходных Диапазон длин волн: 185 нм — 60 мкм (определяется используемыми решетками) Относительное отверстие (по входу): 1/8.9 Фокусное расстояние (выходное): 750 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом поворота решетки*: 0 — 1270 нм Основные зеркала: сферические Рассеянный свет: 5.5 х 10-7 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Фокальная плоскость: 28 х 10 мм Используемая оптическая схема оптимизирована для: минимизации комы во всем рабочем спектральном диапазоне; исключения переотражения света от двух основных зеркал; исключения переотражения света между зеркалами прибора и входными окнами детекторов, установленных в фокальной плоскости; обеспечения большого плоского фокального поля для всего рабочего спектрального диапазона; обеспечения компенсации астигматизма для всего рабочего спектрального диапазона с использованием специальной корректирующей оптики (для imaging модификаций прибора — моделей MS7504i и MS7501i). Габаритные размеры (Д х Ш х В): 950 х 361 х 343 мм Вес: 45 кг (может незначительно отличаться в зависимости от комплектации)

Делитель проб ротационный ДПР-10 предназначен для сокращения геологических проб горных пород и руд, при их подготовке к аналитическим исследованиям. Техническая характеристика ДПР-10 Крупность исходного питания, мм, не более 20 Полный объем всех пробоприемников, дм3 10 Степень сокращения 1/2...1/8 Мощность привода, кВт 0,25 Габаритные размеры, мм Длина 550 Ширина 580 Высота 680 Масса, кг 100

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Технические характеристики СЖ 5-32 Ширина желобков, мм 5 Количество желобков, шт 32 Объем деления, л 0,6 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 225/126/150 Масса, кг 4,8.

Сократитель предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части. Техническая характеристика СР 5-48 (943РМ) Ширина планок, мм 5 Количество планок, шт. 48 Общая ширина поверхности рифлей, мм 240 Количество рифлей при ширине: 5 мм 48 10 мм 24 15 мм 16 20 мм 12 30 мм 8 40 мм 6 Размер куска для деления при ширине рифлей (мм): 5 мм 3,5 10 мм 7 15 мм 10,5 20 мм 14 30 мм 21 40 мм 28 Емкость воронки, л 4,5 Применяемые ширины рифлей, мм 5, 10, 15 , 20 Габаритные размеры, мм Длина 320 Ширина 280 Высота 420 Масса, кг 14.

Сканирующая Зондовая Микроскопия На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/.

Техническая характеристика ДПЦ-100А Крупность исходного питания, мм, не более 20 Полный объем всех пробоприемников, дм3 100 Степень сокращения 1/2..1/12 Мощность привода, кВт 0,18 Габаритные размеры, мм Длина 590 Ширина 590 Высота 910 Масса, кг 60.

Приборы нового поколения, автоматизированные станции непрерывного радиационного контроля Застава-1 предназначены для организации непрерывного эффективного контроля радиационной обстановки и оповещения о радиационной опасности. Станции имеют до трёх независимых каналов измерения, что позволяет вести мониторинг одновременно в нескольких зонах. Станции поддерживают удаленный мониторинг - имеют подключение к локальной компьютерной сети, выход в Интернет.

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

MS520 — полностью автоматизированный монохроматор-спектрограф изображения с фокусным расстоянием 520 мм и высоким относительным отверстием для длиннофокусного прибора: 1/5.4. Уникальное сочетание высокой апертуры, воспроизводимости, точности, высокого спектрального разрешения делают этот спектральный прибор многоцелевым. Большой угол поворота решетки позволяет применять эшелле решетку, обеспечивая экстремально высокое спектральное разрешение. Оптическая система Оптическая схема: Асимметричная Черни-Тернера (модели MS5201i, MS5204i – с компенсацией астигматизма) Порты: 1 входной и 2 выходных Диапазон длин волн: 185 нм — 60 мкм (определяется используемыми решетками) Относительное отверстие (по входу): 1/5.4 Фокусное расстояние (выходное): 520 мм Диапазон сканирования, ограниченный углом поворота решетки*: 0 — 1580 нм Основные зеркала: сферические Рассеянный свет: 1 х 10-6 (на расстоянии 20 нм от линии лазера 632.8 нм) Фокальная плоскость: 28 х 10 мм Используемая оптическая схема оптимизирована для: минимизации комы во всем рабочем спектральном диапазоне; исключения переотражения света от двух основных зеркал; исключения переотражения света между зеркалами прибора и входными окнами детекторов, установленных в фокальной плоскости; обеспечения большого плоского фокального поля для всего рабочего спектрального диапазона; обеспечения компенсации астигматизма для всего рабочего спектрального диапазона с использованием специальной корректирующей оптики (для imaging модификаций прибора — моделей MS5204i и MS5201i). Габаритные размеры (Д х Ш х В): 635 х 339 х 270 мм Вес: 25 кг (может незначительно отличается в зависимости от комплектации)

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. cканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Сократитель желобковый СЖ предназначен для деления (сокращения) проб сыпучих материалов на две равновеликие по массе и равноценные по содержанию составляющих компонентов части Технические характеристики СЖ 3-14 (микро) Ширина желобков, мм 3 Количество желобков, шт 14 Объем деления, л 0,18 Габаритные размеры, мм, не более: Длина/ширина/высота 90/126/150 Масса, кг 1,9