Завод "Протон"

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов: Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн. Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов

Снятие и измерение геометрии деталей с получением 25 параметров шероховатости; работа с телами вращения на шпинделе в режиме кругломера: Длина трассирования: 0.1 мм – 220 мм Диап.измерений по высоте: 0.1 мкм – 120мм Диапазон измерений по Ra: 0.005 - 500 мкм Отклонение от круглости: до 4 мкм Комплектация набором щупов, набором из 10 калибровочных и эталонных мер, а так же современным компьютером.

Измерение параметров шероховатости Ra; Rz; Rmax; Rp; Rv; Rq; Sm; S; la; lq; tp; Lo; D; da; dq и др., просмотр профилограммы и измерение размеров неоднородностей Длина трассирования: 0.5 мм – 40 мм Диапазон измерений по Ra: 0.012 – 50мкм Степень точности 1 (погрешн. 2%) Работа внутри отвестий > 3мм

Инструмент фиксирующий ИФ 25-К2 предназначен для фиксирования внутри скважинной камеры клапана ингибиторного, клапана газлифтного и клапана глухого.