Zavod "Proton"

观察和测量材料结构中的晶粒和缺陷，分辨率精确到原子（1986 年诺贝尔奖），替代金相显微镜和电子显微镜： 放大倍数：从 2000 倍到 1000 万倍。 测量范围：0.2 毫微米 至 30 微米 所有基本（STM、接触和振动 AFM）模式，以及超过 25 种附加模式”

IF 25-K2固定工具设计用于固定井室内的抑制阀、气举阀和盲阀。

去除并测量零件的几何形状，获得25个粗糙度参数；在圆度计模式下使用主轴上的旋转体： 走线长度：0.1 毫米 – 220 毫米 高度测量范围：0.1 微米 – 120毫米 Ra 测量范围：0.005 - 500 微米 圆度偏差：最大 4 微米 配备一套探头、一套 10 个校准和参考标准，以及一台现代化计算机。

测量粗糙度参数Ra；Rz；Rmax；Rp；Rv；Rq；Sm；S；la；lq；tp；Lo；D；da；dq等，查看轮廓图并测量不均匀性的大小 走线长度：0.5 毫米 – 40 毫米 Ra 测量范围：0.012 – 50 微米 准确度 1 级（准确度 2%） 在 > 3毫米" 的孔内工作