СИМЕКС

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Одно- и многопроходные кюветы применяются для качественного и количественного спектрального анализа газовых смесей. Использование многопроходных кювет позволяет уверенно детектировать предельно малые концентрации компонентов исследуемого газа (менее единиц ppm). • Поставляются кюветы трех типов: 1. однопроходные, имеющие длину хода 100 мм, со стеклянным корпусом и окнами из ZnSe, KBr, NaCl 2. многопроходные, с длиной хода лучей до нескольких десятков метров 3. многопроходные, с длиной хода лучей до нескольких десятков метров, оснащенные системой нагрева рабочей камеры до 200о С и термоконтроллером Многопроходные кюветы имеют прозрачную рабочую камеру, выполненную из кварцевого стекла; зеркала с золотым (99.999) покрытием обеспечивают коэффициент отражения в ИК области не менее 98%; дополнительно кюветы могут укомплектовываться датчиками давления и температуры, арматурой для управления потоком газа и т.п.

Малогабаритный ИК фурье-спектрометр с интегрированными приставками и двумя детекторами, включая высокочувствительный охлаждаемый МСТ. Режимы работы: пропускание и отражение, НПВО, измерения с помощью оптоволоконных зондов (возможны варианты исполнения с одной или двумя парами встроенных коннекторов). Доступно подключение ИК микроскопа, телескопа для регистрации спектров внешнего излучения. Спектрометр может использоваться как переносной, и применяется, в том числе, для экспресс-мониторинга технологических процессов, контроля качества жидкостей в резервуарах и магистралях, при проведении поточных анализов биологических объектов, дистанционном газовом анализе. Установка предназначена для создания высококачественных изображений на различных материалах и обеспечивает изготовление резиновых клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.

Описание

Создана на базе инновационной платформы «Штрих», в основу которой заложена уникальная система управления, аппаратное и программное обеспечение которой целиком разработано специалистами нашей компании.
Установка предназначена для создания высококачественных изображений на таких материалах как резина, металл, пластик и обеспечивает изготовление клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.
Применяемый в установке волоконный лазер в сочетании с системой гальванометрических сканаторов обеспечивает высокое качество гравировки в статическом режиме, не требует водяного охлаждения и специального обслуживания.
При сборке системы используются только проверенные и сертифицированные детали, что гарантирует особенно длительный срок эксплуатации без дополнительных вложений.

Особенности:

Двухкоординатная высокоточная система позиционирования образцов, с помощью которой осуществляется перемещение предметного стола вдоль осей Х, Y. В результате работы системы позиционирования и последовательного гравирования фрагментов изображения, можно обрабатывать с высокой точностью заготовки с размерами до 200 × 300 мм в автоматическом режиме по заданной оператором программе обработки;
Алгоритм автоматической послойной гравировки с использованием высокоточного механизма перемещения сканирующей головы по Z-координате позволяет формировать высокодетализированные 3D-изображения глубиной до 5 мм в металлических заготовках (сталь, латунь, алюминий, титан и др.);
Длительный процесс послойной гравировки глубоких 3D-изображений (возможно десятки часов) обеспечивается без участия оператора благодаря автоматическому алгоритму;
Установка снабжена встроенной системой удаления продуктов горения из зоны воздействия лазерного излучения, в результате чего, обеспечивается отсутствие запахов и защита сканирующего объектива от продуктов выработки, что особенно важно при гравировке резины и пластиков;
Корпус установки полностью закрывает зоны обработки и распространения лазерного излучения, а гравировка производится по заданной оператором программе в автоматическом режиме при закрытых кожухах установки. Такая конструкция установки позволяет ее отнести к лазерным приборам 1 класса опасности.

Применяется для регистрации спектров пропускания твердых образцов среднего размера и произвольной формы – полимерных пленок различной толщины, оптических деталей, полупроводниковых пластин, крупных кристаллов и т.п. • Благодаря быстросъемным гайкам обеспечивает удобное закрепление образцов

Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.

• Состоит из сопряженного с фурье-спектрометром зеркального телескопа и прожектора с ИК излучателем • Используется для регистрации спектров газовых и аэрозольно-газовых смесей на трассах длиной до 100 метров • Диаметр главного зеркала телескопа 170 мм • Угловое поле зрения +/- 3 град. • В комплект может быть включен дополнительный отражатель

Предназначена для подготовки проб в виде спрессованныхтаблеток, состоящих из исследуемого вещества в смеси с микрокристаллическим бромидом калия (KBr). Пресс-форма используется в комплекте с гидравлическим прессом ГП 200-13. - пресс-форма выполнена из высококачественной легированной закаленной стали - для получения более качественных спрессованных таблеток с KBr пресс-форму можно откачивать при помощи форвакуумного насоса. Заказчик может приобрести насос самостоятельно, либо заказать его в НПФ “СИМЕКС”. Откачивание пресс-формы для большинства исследований не обязательно. - в комплекте есть специальный дозатор для размещения в пресс-форме оптимального количества прессуемой смеси - для установки готовых проб в спектрометр используется держатель KBr таблеток и окон-подложек D13мм

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых и жидких образцов, в том числе полимерных частиц, пленок и волокон, порошкообразных веществ, фрагментов лакокрасочных покрытий, горюче-смазочных материалов. Наличие оптической системы визуального контроля исследуемой поверхности с увеличением 75Х обеспечивает высокую эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) используется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45°. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, кристаллов, тонких пленок на поверхности, а также при регистрации спектров поглощения крупных цельных объектов. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 30 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 Минимальная площадь твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл 1 Минимальные размеры образца волокна: диаметр сечения/длина, мм 0.1/1 Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge Диаметр пятна фокусировки, мм 1 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива /общее увеличение визуального канала 4Х/75Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 Габаритные размеры, мм 150×150×260 Масса, кг 2,15 • Позволяет исследовать объекты малых размеров (от 200 мкм - в зависимости от геометрии, качества поверхности и физико-химических свойств материала) • Приставка позволяет работать без пробоподготовки, имеет фиксируемую регулировку давления на образец с помощью прижима, снабженного цветовыми индикаторами • Благодаря съемному фланцу с элементом НПВО обеспечивается быстрая и удобная смена образцов и очистка поверхности кристалла • При заданном оптимальном усилии контакта метод обеспечивает высокое качество и повторяемость результатов благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения • Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами

ИК фурье-спектрометры "ФТ-801" могут дополнительно оснащаться специальной оптической приставкой, позволяющей эффективно использовать световодные системы. 4 типа световодных зондов позволяют измерять спектры пропускания и отражения (НПВО) в твердых, жидких и газообразных средах Современные ИК световоды обладают высоким собственным пропусканием и достаточной механической прочностью, что позволяют перенести измерения из лаборатории непосредственно на производство - для контроля протекания техпроцессов, проверки качества сырья и готовой продукции. Области применения: · Химическая и микробиологическая промышленность · Фармацевтическая промышленность · Медицина и косметология · Пищевая промышленность · Нефтепродукты, ГСМ · Криминалистика

Предназначен для закрепления и установки в образцовый отсек спектрометра вкладышей пресс-форм для таблеток с бромидом калия диаметром 13 мм, получаемых с помощью гидравлического пресса. Также может использоваться при исследованиях жидких и пастообразных образцов на окнах-подложках из селенида цинка (ZnSe) и кремния (Si).

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Для достижения предельной чувствительности при измерениях применяется специальная приставка к фурье-спектрометру ФТ-801, представляющая собой оптический блок со встроенным высокочувствительным МСТ детектором, охлаждаемым жидким азотом. Приставка устанавливается в кюветный отсек спектрометра и подключается к соответствующему внешнему электрическому порту, детектор включается программно. Чувствительность метода при этом повышается во много раз (до 20) – в зависимости от типа штатного неохлаждаемого детектора в спектрометре). Увеличивается также скорость регистрации спектров. Время работы после заполнения криостата (емкостью 200 мл) жидким азотом - не менее 6 часов. Повышение чувствительности спектрометра с помощью приставки с МСТ детектором может потребоваться для многих применений: в волоконной спектроскопии, при регистрации спектров эмиссии маломощных излучателей, при трассовом газовом анализе с высоким спектральным разрешением, при определении наличия в пробах примесей в сверхмалых концентрациях, при использовании многоходовых газовых кювет и т.п. На рисунке: слева в кюветном отсеке - каплер с волокном фирмы Art photonics GmbH, Berlin, Germany, справа - приставка с МСТ детектором. Технические характеристики Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 50 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Емкость криостата, мл 200 Время работы после заполнения криостата, часов 6 Габаритные размеры, мм 225×175×75 Масса, кг 1,45