Spectromètre spectroscan MAX-G

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la méthode à dispersion d'énergie (EDX). Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres.À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes,il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Le principe de fonctionnement du spectromètre est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation pré-construite, qui est la dépendance du contenu de l'élément à déterminer sur l'intensité mesurée.

Microscope à sonde à balayage (SPM) d'entrée de gamme La numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Light sur des microscopes optiques traditionnels (directs ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers des modifications

Ce spectromètre de petite taille est un excellent outil pour résoudre les problèmes de contrôle d'entrée et de démontage des métaux et des alliages, et peut également être utilisé dans le processus éducatif dans les établissements d'enseignement supérieur et secondaire. Caractéristiques techniques: Système optique basé sur un réseau concave non classique à champ plat, avec purge à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l/min). Gamme spectrale 178-410 nm. Récepteurs d'émission 4 détecteurs linéaires multi-éléments. Gamme de concentrations mesurées 0,01% - dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 5%...30% Temps d'analyse 10...40 s Poids 24 kg Dimensions 625x420x260 mm Exigences d'alimentation tension 220±22 V, 50 Hz, monophasé avec mise à la terre. Puissance ne dépassant pas 1 kVA Exigences relatives à l'argon teneur en argon au moins 99,998%

Les analyseurs AME pour l'enregistrement des spectres d'émission atomique avec une résolution temporelle de 1 MS sont basés sur des photodiodes très sensibles et une carte de commutation spéciale pour la lecture simultanée de plusieurs sections de spectres. L'assemblage des règles est installé sur le spectromètre "grand" . Pour exciter les spectres d'émission atomique des échantillons de poudre, on utilise une installation "Flow" ou un plasmatron à arc à double jet. Le logiciel ATOM enregistre les raies spectrales sélectionnées et assure leur traitement selon des algorithmes donnés en tenant compte du nombre et de la luminosité des éclairs (c'est-à-dire de la grosseur des particules). L'enregistrement des spectres d'échantillons en poudre avec une résolution temporelle élevée permet d'évaluer le nombre et la taille des particules individuelles, d'identifier leur composition et de déterminer les concentrations d'éléments dans chaque particule, d'évaluer rapidement l'homogénéité de la distribution de certains éléments à déterminer et d'améliorer les capacités d'analyse spectrale sans modifier sensiblement la préparation des échantillons. Principaux domaines d'application: analyse de masse d'échantillons géologiques en poudre par scintillation pour déterminer l'or, l'argent, les métaux du groupe du platine, l'Iridium, le rhodium, etc. avec des limites de détection allant jusqu'à 0,01 g / t; détermination qualitative de la composition des inclusions et des particules de minéraux.

Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Le spectromètre à plasma à double vue permet l'enregistrement simultané de toutes les raies spectrales en même temps avec une haute résolution dans la plage de concentrations allant de fractions de ppb à des dizaines de pour cent et offre une large gamme d'options pour résoudre tous les problèmes de recherche. Conçu pour l'analyse de presque tous les types d'échantillons environnementaux : eau, sol, sédiments. Démarrage rapide du travail. Ne nécessite pas un long échauffement. Faible consommation d'argon. Facile à utiliser.

Le complexe Certus Optic I est conçu pour fonctionner avec des techniques de microsocopie optique et à force atomique dans l'étude d'objets biologiques et de films polymères. tête de balayage XYZ SPM Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou le positionnement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique inversé classique pour afficher un objet d'étude et pointer la sonde sur un objet d'étude ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; caméra vidéo numérique pour visualiser l'image observée sur un ordinateur et capturer des images; un seul contrôleur EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Caractéristiques techniques Volume de la chambre de travail, litres 50 Température maximale, °C 1250 Dimensions de la chambre de travail (longueur x largeur x hauteur), mm 500x400x250 Puissance installée, kW 12,0 Paramètres du réseau d'alimentation 380 V / 50 Hz / 3 phases Chargement vertical Poids, kg 260

Le principal avantage d'un spectromètre mobile est la possibilité de mesurer la composition des alliages non seulement en laboratoire sur des échantillons spécialement préparés, mais également directement dans un atelier ou un entrepôt sans couper le produit ou la pièce.