Analyseur de fluorescence x Portable X-SPEC

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la méthode à dispersion d'énergie (EDX). Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres.À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes,il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Le principe de fonctionnement du spectromètre est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation pré-construite, qui est la dépendance du contenu de l'élément à déterminer sur l'intensité mesurée.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Machine pour la préparation des électrodes en graphite cratère-2. Dans la machine, deux types de coupeurs peuvent être installés simultanément, par exemple sur un cratère et un cône.

Caractéristiques techniques: Gamme de concentrations mesurées 0,005% - dizaines % Gamme spectrale 178-410 nm Récepteurs d'émission de 4 détecteurs multiéléments Erreur relative (en fonction de la concentration) 1%...20% Temps d'analyse 10...40 s Exigences d'argon 99,998% Alimentation Secteur 2208 50 Hz, batterie Consommation électrique en mode analyse dot kW Poids de la console TG Poids du module optique 2.5 kg

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Ce spectromètre de petite taille est un excellent outil pour résoudre les problèmes de contrôle d'entrée et de démontage des métaux et des alliages, et peut également être utilisé dans le processus éducatif dans les établissements d'enseignement supérieur et secondaire. Caractéristiques techniques: Système optique basé sur un réseau concave non classique à champ plat, avec purge à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l/min). Gamme spectrale 178-410 nm. Récepteurs d'émission 4 détecteurs linéaires multi-éléments. Gamme de concentrations mesurées 0,01% - dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 5%...30% Temps d'analyse 10...40 s Poids 24 kg Dimensions 625x420x260 mm Exigences d'alimentation tension 220±22 V, 50 Hz, monophasé avec mise à la terre. Puissance ne dépassant pas 1 kVA Exigences relatives à l'argon teneur en argon au moins 99,998%

Piezostolic à balayage plan parallèle. Le dispositif est un corps métallique monolithique (en alliage de haute qualité, généralement en aluminium), dans lequel l'électroérosion et d'autres méthodes d'usinage de précision sont formés des canaux pour les actuateurs piézocéramiques, des éléments mobiles de la table, etc. cette conception offre une excellente linéarité et une planéité du mouvement, contrairement aux scanners classiques basés sur des piézotubes, dont la surface de balayage est une sphère. En outre, les scanners à plan parallèle présentent une résistance mécanique élevée par rapport aux piézotubes fragiles.

Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Microscope à sonde à balayage (SPM) d'entrée de gamme La numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Light sur des microscopes optiques traditionnels (directs ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers des modifications

Le spectromètre est conçu pour effectuer une analyse spectrale quantitative et qualitative de diverses substances et matériaux (poudres, métaux, solutions) dans les usines et les laboratoires de recherche. Le spectromètre est compact en raison de la disposition verticale du système optique Paschen-Runge. Il se compose de deux analyseurs MAES avec 10 rangées de photodiodes installées dans un cercle d'un rayon de 520 mm, d'un réseau de diffraction concave non classique, d'une table spéciale avec un ordinateur intégré et d'une source d'excitation spectrale.

Le diffractomètre à rayons X multifonctionnel DRON-8 (8N) avec un goniomètre thêta-thêta vertical et une position d'échantillon horizontale permet l'analyse par diffraction des rayons X de la composition de phase, de l'état structurel et de l'orientation d'une large gamme d'objets de formes diverses et tailles.

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.

Caractéristiques techniques: Système optique et distance phonique schéma optique de pashen-Runge avec le cercle de Rowland 500mm Polychromateur soufflé à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l / min) 175-425 nm avec canal supplémentaire Gamme spectrale: sodium 589 nm (sur demande spéciale, l'extension de la gamme peut être comprise entre 175 et 850 nm) lotive soufflé par l'argon. Non-construction, il Existe des adaptateurs spéciaux pour l'analyse des barres et des fils Capteur (trépied à distance)sur demande poids du capteur à distance 1,2 ng, longueur de câble 2,5 m Trépied aérien en option sur commande spéciale Source d'excitation générateur SPARK-500 Conditions de fonctionnement température 15...30°C, humidité relative < 80% Exigences d'alimentation puissance 1 NVA, tension 220-22V 50HZ, monophasé avec mise à la terre Exigences de pureté de 99,998% d'argon. Le spectromètre dispose d'un filtre supplémentaire- Noah nettoie l'argon. Le cas échéant, le numéro de Livraison peut être allumé stand de nettoyage argon SOAR-1 Dimensions, mm (longueur, largeur, hauteur) 810x525 x 975 - version au sol, 810x525 x 430 - version de bureau Poids, kg. 80-version de plancher, 50-version de table. La plage de concentration mesurée est de 0,0001% ... dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 0,5%...5% Temps d'analyse 10...40 sept.