بازگشت به نتایج جستجو

اسپکترومتر اسپکتروسکان حداکثر-G

بازگشت به نتایج جستجو
اسپکترومتر اسپکتروسکان حداکثر-G
شرکت:
طیف NPO
تولید:
سن پترزبورگ
علاوه بر این:
اسپکترومتر برای تعیین محتوای عناصر در محدوده Ca تا U در مواد در حالت های جامد ، پودری ، محلول و همچنین رسوب بر روی سطح یا رسوب بر روی فیلترها طراحی شده است.

اصل عملکرد طیف سنج بر اساس تابش نمونه با تابش اولیه از یک لوله اشعه ایکس ، اندازه گیری شدت تابش فلورسنت ثانویه از نمونه در طول موج های مربوط به عناصر تعیین شده و محاسبه بعدی کسر جرم این عناصر با توجه به یک ویژگی کالیبراسیون از پیش ساخته شده است که وابستگی محتوای عنصر تعیین شده به شدت اندازه گیری شده است.

تابش فلورسنت ثانویه با استفاده از یک تحلیلگر کریستال به یک طیف تجزیه می شود. به همین دلیل ، طیف سنج دارای وضوح بالا است و بنابراین توانایی تجزیه و تحلیل دقیق مواد چند جزء پیچیده را دارد.