Complexe d'analyse des émissions atomiques des métaux et alliages "Grand Expert"

Le complexe Certus Optic I est conçu pour fonctionner avec des techniques de microsocopie optique et à force atomique dans l'étude d'objets biologiques et de films polymères. tête de balayage XYZ SPM Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou le positionnement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique inversé classique pour afficher un objet d'étude et pointer la sonde sur un objet d'étude ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; caméra vidéo numérique pour visualiser l'image observée sur un ordinateur et capturer des images; un seul contrôleur EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Le complexe d'émission atomique Grand Potok est conçu pour la détermination expresse de la composition d'échantillons de poudres d'origine naturelle et industrielle ; il comprend un spectromètre Grand, une installation Potok et des équipements auxiliaires pour la préparation des échantillons.

Le spectromètre est conçu pour effectuer une analyse spectrale quantitative et qualitative de diverses substances et matériaux (poudres, métaux, solutions) dans les usines et les laboratoires de recherche. Le spectromètre est compact en raison de la disposition verticale du système optique Paschen-Runge. Il se compose de deux analyseurs MAES avec 10 rangées de photodiodes installées dans un cercle d'un rayon de 520 mm, d'un réseau de diffraction concave non classique, d'une table spéciale avec un ordinateur intégré et d'une source d'excitation spectrale.

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Ce spectromètre de petite taille est un excellent outil pour résoudre les problèmes de contrôle d'entrée et de démontage des métaux et des alliages, et peut également être utilisé dans le processus éducatif dans les établissements d'enseignement supérieur et secondaire. Caractéristiques techniques: Système optique basé sur un réseau concave non classique à champ plat, avec purge à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l/min). Gamme spectrale 178-410 nm. Récepteurs d'émission 4 détecteurs linéaires multi-éléments. Gamme de concentrations mesurées 0,01% - dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 5%...30% Temps d'analyse 10...40 s Poids 24 kg Dimensions 625x420x260 mm Exigences d'alimentation tension 220±22 V, 50 Hz, monophasé avec mise à la terre. Puissance ne dépassant pas 1 kVA Exigences relatives à l'argon teneur en argon au moins 99,998%

Spectromètre Raman confocal à balayage avec option SPM Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé à la fois dans les laboratoires industriels et dans les universités de recherche.

Le principal avantage d'un spectromètre mobile est la possibilité de mesurer la composition des alliages non seulement en laboratoire sur des échantillons spécialement préparés, mais également directement dans un atelier ou un entrepôt sans couper le produit ou la pièce.

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E-C combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la dispersion d'énergie (EDX), ainsi que l'échantillonnage adapté à l'analyse d'images de grande taille. La collimation du rayonnement primaire du tube à rayons x et la conception spéciale de l'alimentation en échantillons permettent d'analyser l'échantillon sur une surface de 1 cm2 par incréments de 1 mm et d'étudier ainsi la distribution des éléments sur la surface. Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes, il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Avec l'aide de cette modification du spectromètre, des examens médico-légaux et douaniers, des examens médico-légaux et médico-légaux, ainsi que des examens artistiques sont effectués.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Le spectromètre a été créé selon le schéma Cherny-Turner basé sur un réseau de diffraction plat et un analyseur MAES avec une ligne de photodétecteurs. Il a une précision photométrique accrue grâce au refroidissement et à la stabilisation de la température de la ligne photodétecteur, ainsi qu'à sa conception non emballée, dans laquelle il n'y a pas de réflexion du rayonnement sur le verre de protection et le niveau de fond dans le spectre enregistré est réduit. La conception optique et la conception du spectromètre sont optimisées pour obtenir un spectre de haute qualité avec un faible niveau de rayonnement de fond dans l'une des régions situées dans la plage spectrale de 190 à 1 100 nm.La sélection de la zone de travail s'effectue en changeant et en tournant les réseaux de diffraction. Le boîtier scellé du spectromètre est rempli d'un gaz inerte. Le rayonnement est introduit dans le spectromètre à l'aide d'un condenseur à quartz ou d'un câble à fibre optique avec un connecteur SMA-905. La conception optique et la conception du spectromètre sont protégées par des brevets.