Reactor CR-1B del fabricante Tetraquant

El difractómetro de rayos X multifuncional DRON-8 (8N) con un goniómetro theta-theta vertical y una posición de muestra horizontal permite el análisis por difracción de rayos X de la composición de fases, el estado estructural y la orientación de una amplia gama de objetos de diversas formas y tamaños.

El analizador Raman portátil Express "Inspectr" RaPort® proporciona la calidad del análisis molecular de laboratorio y la identificación precisa de materiales con la máxima movilidad. Un dispositivo completamente portátil, liviano, equipado con batería incorporada y transmisión de datos inalámbrica, obtiene fácilmente espectros de materiales prohibidos y sus compuestos.

Utilice RaPort con su tableta/teléfono inteligente Android o Windows y disfrute de la facilidad de análisis con el software móvil EnSpectr. Cree su propia base de datos, trabaje con espectros y administre parámetros de medición en una interfaz conveniente. Identifique partes de una sustancia en concentraciones de hasta el 1% gracias a un algoritmo de reconocimiento y calidad de medición únicos.

La principal ventaja de un espectrómetro móvil es la capacidad de medir la composición de aleaciones no solo en el laboratorio en muestras especialmente preparadas, sino también directamente en el taller o almacén sin cortar el producto o la pieza de trabajo.

El microscopio Raman M532® combina las capacidades del analizador Raman portátil Express "Inspectr" R532® y el microscopio U300M, adaptándolo tanto para mediciones de transmisión como de reflexión. La amplia funcionalidad del microscopio M532 le permite encontrar y analizar partículas individuales de 2 a 3 µm de tamaño entre muchas similares con propiedades físicas y químicas similares, lo que abre nuevas oportunidades de investigación dentro del mismo sistema Raman.
Una resolución espacial de 1 µm y una resolución espectral de 4-6 cm-1 proporcionan una excelente precisión y reproducibilidad de las mediciones. El diseño compacto y la portabilidad del instrumento permiten un análisis instantáneo y de alta calidad de sustancias sin preparación de muestras, lo que convierte al microscopio M532 en un instrumento indispensable para una amplia gama de estudios.
Equipado con un portaobjetos motorizado (opcional) en incrementos de 0,36 µm, el microscopio M532 escanea la superficie de la muestra, reconoce sustancias en mezclas heterogéneas de múltiples componentes y crea una representación gráfica de las intensidades de las líneas características de dispersión Raman en varios puntos de la superficie. superficie (mapeo 2D), lo que convierte al microscopio M532 en el más ventajoso en términos de relación precio-calidad con un microscopio de barrido Raman en el mercado mundial.

El dispositivo está diseñado para el análisis cuantitativo de fase de rayos X de sustancias cristalinas en modo automático. Puede utilizarse para un control exprés eficaz en fábrica de procesos tecnológicos y pruebas no destructivas de productos terminados, materias primas y productos semiacabados.

Microscopía De Sonda De Barrido Aire y líquido: AFM (contacto + semi-contacto + sin contacto) / microscopía de Fuerza Lateral / Mapeo de Fase/ modulación de Fuerza / Mapeo de fuerza Adhesiva / Litografía: AFM(Fuerza) Solo en el aire: STM/ MSM/ ESM/ SEM/ método de sonda Kelvin/ Pantalla de Resistencia de Propagación/AFAM (bajo demanda)/Litografía: AFM (Actual), STM/.

Diseñado para estudios integrales de las propiedades físicas de superficies utilizando microscopía óptica clásica, microscopía láser confocal, espectroscopia confocal y microscopía de sonda de barrido (microscopía de fuerza atómica).
Permite obtener espectros completos de dispersión y/o fluorescencia Raman (Raman o Raman), láser confocal e imágenes espectrales confocales (mapeo de superficie), imágenes SPM (AFM). El diseño del complejo Centaur I permite el uso de técnicas individuales (por ejemplo, microscopía/espectroscopia confocal) y una combinación de técnicas (incluida la combinación de campos de escaneo, estudios AFM/Raman, etc.)

La tecnología de filtración acústica óptica de la radiación óptica se utiliza para crear una amplia clase de dispositivos ópticos, que se utilizan con éxito, por ejemplo, en biomedicina para el diagnóstico de diversas enfermedades (incluida la Oncología), en la agricultura para el diagnóstico del estado de las plantas, en la realización de pruebas no destructivas de objetos técnicos complejos y en la solución de otras tareas. La acústica óptica tiene una serie de ventajas importantes sobre otras tecnologías para obtener información espectral: - la capacidad de crear dispositivos de imagen sin escaneo espacial, ya que el filtro acústico óptico es un filtro de luz sintonizable controlado por software; - el diseño modular compacto permite la integración de un filtro acústico-óptico en el circuito óptico de la mayoría de los instrumentos de imagen, lo que amplía sus capacidades analíticas; - el escaneo de espectro se realiza mediante una señal eléctrica, sin escaneo mecánico; - el direccionamiento espectral aleatorio rápido permite una alta velocidad de disparo y no hay información redundante; - mando de programa. El elemento clave del dispositivo presentado – el filtro acústico-óptico, se desarrolla en el NTC up RAS sobre la base de los métodos de cálculo originales. La fabricación de filtros acústico-ópticos, componentes ópticos y mecánicos, así como el montaje, el ajuste y la calibración de tales dispositivos también se llevan a cabo en el NTC UPR RAS.

14 motores paso a paso de alta precisión controlan todas las partes móviles del microscopio y el software inteligente difumina la línea entre las imágenes ópticas y SPM. NEXT proporciona una ampliación continua desde imágenes ópticas panorámicas a escala milimétrica hasta resolución atómica, y operaciones intermedias como el apuntamiento láser al voladizo, el posicionamiento de la muestra, el acercamiento suave y la configuración de técnicas SPM avanzadas se realizan automáticamente.

El difractómetro de rayos X en polvo POWDIX 600 dispone de un sistema óptico vertical θ-θ Bragg-Brentano con una posición horizontal fija de la muestra que hace más práctico y cómodo el trabajo con materiales en polvo, geles y otras sustancias viscosas. La alta resolución del detector y el posicionamiento preciso del goniómetro difractómetro de rayos X POWDIX 600 logran una precisión mejor que +/- 0,02° (2θ) en todo el rango angular. El difractómetro de rayos X POWDIX 600 es refrigerado por un sistema de refrigeración integrado que comprende un circuito cerrado de agua, que puede ser mantenido por cualquier persona en el laboratorio. La gran variedad de portamuestras (portamuestras para muestras a granel, portamuestras giratorio, cubetas phoneless) amplía las capacidades del POWDIX 600 y lo convierte en una herramienta inestimable para la investigación en física del estado sólido, ciencia de materiales, química, geología y otros campos de la ciencia. El difractómetro está inscrito en el Registro de instrumentos de medida de la Federación Rusa.