Микроскоп Centaur U

С микроскопом ФемтоСкан X возможно получать одновременно несколько изображений с разрешением до 4096х4096 и рекордной скоростью (до 8 секунд на 1 кадр). За счет использования современного процессора FPGA достигается одновременная обработка независимых каналов обратной связи на частоте 1 МГц.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.

Интерференционный микроскоп "ФемтоСкан Инлайт" служит для точного измерения топографии отражающих объектов, может использоваться для наблюдения плоскостности динамически изменяющейся поверхности (например, грани растущего кристалла), измерения толщины пленок (высоты выступов, образованных краями пленки и подложки). Микроскоп позволяет исследовать образцы на воздухе и в жидких средах. Принцип действия основан на интерференции лучей отраженных от поверхности исследуемого образца с опорным световым потоком одинаковой интенсивности.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Режимы сканирования: ион-проводящая микроскопия атомно-силовая микроскопия силовое картирование литография резистивная микроскопия электростатическая микроскопия магнитная микроскопия cканирующая туннельная микроскопия

Базовая конфигурация сканирующего зондового микроскопа Certus, предназначенная для решения широкого класса исследовательских и аналитических задач. плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; Сканирования как зондом (обычный сканер внутри сканирующей головки Certus), так и сверхбыстрым XYZ сканером образца. плоскопараллельный подвод зонда к образцу решает проблему трудоемкого ручного подвода зонда к образцу. Подвод осуществляется тремя моторизированными опорами; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Standard на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций Certus Optic и Centaur; реализованы основные СЗМ методики. Для изменения режима работы сканирующего зондового микроскопа (например, переход от работы в режиме атомно-силового микроскопа в режим сканирующего туннельного микроскопа) достаточно сменить держатель зондов.

Сканирующий зондовый микроскоп Certus Light V - компактная версия СЗМ с минимальной функциональностью и стоимостью. Основное отличие от основной версии Certus Light - сканирование образцом и более точная система подвода. Прибор состоит из считывающей состояние кантилевера головки, многофункционального плоского сканера, системы подвода и установки головки. Прибор работает с минимальной конфигурацией блока электронного управления, встроенного непосредственно в основной корпус, тоесть прибор является моноблоком. Есть возможностью дистанционного управления прибором через планшетный компьютер с использование специализированного ПО для ОС Android.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. cканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

МД-10 - рентгеновский дифрактометр, обеспечивающий неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ. Метод основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Измеряя углы и интенсивности дифракционных пиков можно определить параметры кристаллической решетки, провести качественный и количественный фазовый состав вещества, уточнить модификацию (фазу) конкретного соединения, например по базе данных типа JCPDS-ICDD.

NanoEducator II, несмотря на свою компактность и простоту эксплуатации, поддерживает все базовые методики атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопий, поэтому он может быть использован для любых рутинных АСМ и СТМ измерений и экспериментов в научных исследованиях. Для примера показаны результаты некоторых экспериментов в различных научных приложениях: Исследование атомных структур; Исследование металлических наноструктур; Исследование магнитных структур; Исследование полимерных объектов; Исследование биологических объектов; Исследование углеродных наноматериалов.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Разработан для проведения комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Он позволяет получать полные спектры рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ изображения. Конструкция комплекса Centaur I HR позволяет работать как с отдельными методиками (например, с атомно-силовой-микроскопией), так и проводить совмещение методик (АСМ-Раман, конфокальная лазерная и АСМ).

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля. Оптическая микроскопия ближнего поля основана на использовании свойств ближнего (эванесцентного) поля, что позволяет преодолеть дифракционный предел классической оптической микроскопии. Все ближнепольные микроскопы включают несколько базовых элементов конструкции: зонд; система перемещения зонда относительно поверхности образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам (система развертки); регистрирующая система; оптическая система.

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Плоскопараллельный сканирующий пьезостолик. Устройство представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно из алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканеры обладают высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.