ИК фурье-спектрометр «ФТ-801»

Технические характеристики: Спектральный диапазон, см-1 370-7800 Спектральное разрешение, см-1 1,0 (ФСМ 2201) и 0,5(ФСМ 2202) Отношение сигнал/шум (время измерения 1 мин в интервале 2100-2200 см-1 и разрешении 4 см-1) >60 000 Минимальное время получения одного полного спектра менее, с 1 Светоделитель KBr с покрытием на основе Ge Источник излучения Высокотемпературный металлокерамический Детектор Пироприемник DLATGS Размеры кюветного отделения, мм 150х190х170 Габаритные размеры, мм 520х370х250 Масса, кг. 28

Прибор работает в средней ИК-области спектра, имеет оптический порт для ввода излучения от внешнего источника, оснащен системой продувки инертным газом. Технические характеристики: Спектральный диапазон, см-1 370-7800 Спектральное разрешение, см-1 0,1 Отношение сигнал/шум (время измерения 1 мин в интервале 2100-2200 см-1 и разрешении 4 см-1) >60 000 Минимальное время получения одного полного спектра менее, с 1 Количество каналов измерения 2 Светоделитель KBr с покрытием на основе Ge Источник излучения Высокотемпературный металлокерамический или внешний Детектор DLATGS, охлаждаемое фотосопротивление PbSe Размеры кюветного отделения, мм 200х190х170 Габаритные размеры, мм 540х490х250 Масса, кг. 36

Малогабаритный ИК фурье-спектрометр с интегрированными приставками и двумя детекторами, включая высокочувствительный охлаждаемый МСТ. Режимы работы: пропускание и отражение, НПВО, измерения с помощью оптоволоконных зондов (возможны варианты исполнения с одной или двумя парами встроенных коннекторов). Доступно подключение ИК микроскопа, телескопа для регистрации спектров внешнего излучения. Спектрометр может использоваться как переносной, и применяется, в том числе, для экспресс-мониторинга технологических процессов, контроля качества жидкостей в резервуарах и магистралях, при проведении поточных анализов биологических объектов, дистанционном газовом анализе. Установка предназначена для создания высококачественных изображений на различных материалах и обеспечивает изготовление резиновых клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.

Описание

Создана на базе инновационной платформы «Штрих», в основу которой заложена уникальная система управления, аппаратное и программное обеспечение которой целиком разработано специалистами нашей компании.
Установка предназначена для создания высококачественных изображений на таких материалах как резина, металл, пластик и обеспечивает изготовление клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.
Применяемый в установке волоконный лазер в сочетании с системой гальванометрических сканаторов обеспечивает высокое качество гравировки в статическом режиме, не требует водяного охлаждения и специального обслуживания.
При сборке системы используются только проверенные и сертифицированные детали, что гарантирует особенно длительный срок эксплуатации без дополнительных вложений.

Особенности:

Двухкоординатная высокоточная система позиционирования образцов, с помощью которой осуществляется перемещение предметного стола вдоль осей Х, Y. В результате работы системы позиционирования и последовательного гравирования фрагментов изображения, можно обрабатывать с высокой точностью заготовки с размерами до 200 × 300 мм в автоматическом режиме по заданной оператором программе обработки;
Алгоритм автоматической послойной гравировки с использованием высокоточного механизма перемещения сканирующей головы по Z-координате позволяет формировать высокодетализированные 3D-изображения глубиной до 5 мм в металлических заготовках (сталь, латунь, алюминий, титан и др.);
Длительный процесс послойной гравировки глубоких 3D-изображений (возможно десятки часов) обеспечивается без участия оператора благодаря автоматическому алгоритму;
Установка снабжена встроенной системой удаления продуктов горения из зоны воздействия лазерного излучения, в результате чего, обеспечивается отсутствие запахов и защита сканирующего объектива от продуктов выработки, что особенно важно при гравировке резины и пластиков;
Корпус установки полностью закрывает зоны обработки и распространения лазерного излучения, а гравировка производится по заданной оператором программе в автоматическом режиме при закрытых кожухах установки. Такая конструкция установки позволяет ее отнести к лазерным приборам 1 класса опасности.

Универсальные лабораторные ИК фурье-спектрометры ФСМ 2201 и ФСМ 2202 предназначены для проведения научных исследований и аналитических измерений в средней инфракрасной области спектра. Качественный и количественный анализ образцов органических и неорганических веществ в газообразном, жидком и твердом состоянии, в том числе, пленок и порошков. В основе фурье-спектрометров ФСМ 2201/2202 – интерферометр Майкельсона с самокомпенсацией, не требующий динамической юстировки. Спектрометры оснащены системой продувки сухим воздухом или азотом для минимизации спектральных помех от паров воды и углекислого газа и имеют влагозащитное покрытие оптических окон и светоделителя. Операции управления прибором, самотестирования, регистрации, анализа и обработки спектров автоматизированы и осуществляются с помощью персонального компьютера и установленного базового программного обеспечения FSpec, разработанного специалистами компании для среды Windows XP/Vista/7/8/10. Программа имеет интуитивно понятный пользовательский интерфейс, позволяет создавать собственные библиотеки спектров, полученных на спектрометрах ФСМ, а также пользоваться стандартными библиотеками и работает со спектрами в форматах *.spe, *.spc, *.dx, *.asc. Обработка спектров включает основные математические операции и преобразования, поиск спектральных линий и определение их параметров. Для работы по стандартным методикам: ГОСТ, ASTM, EN, SEMI или проведения измерений в режиме анализатора к платформе FSpec подгружаются дополнительные программные модули с «кнопочным» управлением прибора, дополнительного оборудования, встроенными алгоритмами измерений и градуировками. Универсальность прибора обеспечивается возможностью установки в его кюветное отделение различных газовых и жидкостных кювет, оптических приставок и приспособлений, позволяющих проводить исследование жидких, твердых и газообразных образцов. ИК фурье-спектрометры моделей ФСМ 2201/2202 отличаются от выпускавшихся ранее моделей (ФСМ 1201/1202) повышенным отношением сигнал/шум и большеразмерным кюветным отделением.

Лабораторный инфракрасный фурье-спектрометр ФСМ 2211 предназначен для проведения количественных и качественных исследований в ближнем ИК-диапазоне. Обладает всеми преимуществами метода спектрального БИК-анализа: высокой информативностью получаемых данных, быстротой и точностью измерений, не требует предварительной подготовки образцов и специального обучения персонала. Местоположение полос в инфракрасном спектре поглощения несет информацию о качественном составе образца, а интенсивность полос позволяет производить его количественный анализ, т.е. определять концентрацию (или другое свойство) соответствующего компонента. Это делается с помощью градуировочной модели, представляющей собой зависимость между показателем поглощения (пропускания) и концентрацией компонента (свойством образца). Градуировочная модель рассчитывается заранее по результатам проведения градуировки, которая заключается в регистрации спектров партии образцов с известными (установленными стандартными химическими методами) концентрациями компонентов или другими известными свойствами.

Тестер для контроля параметров полупроводниковых пластин ФСМ 1201П позволяет в соответствии с заданной оператором программой проводить автоматическое измерение плоскопараллельных полированных пластин кремния диаметром 76, 100, 125, 150 и 200 мм, размещаемых на измерительном столе. Время стандартного измерения в одной точке не более 20 с. Основные контролируемые параметры: концентрация междуузельного кислорода (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах (5×1015–2×1018)±5×1015 см-3 (SEMI MF1188); концентрация углерода замещения (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах: (1016–5×1017)±1016 см-3 (SEMI MF1391); радиальная неоднородность распределения кислорода в кремниевых пластинах (SEMI MF951); толщина эпитаксиальных слоев кремниевых структур типа n-n+ и p-p+ в пределах (0,5–10,0)±0,1 мкм, (10–200)±1% мкм (SEMI MF95); толщина эпитаксиальных слоев кремния в структурах КНС в пределах (0,1–10,0)±1% мкм; концентрация фосфора в слоях ФСС и бора/фосфора в слоях БФСС в пределах (1–10)±0,2 % вес.