ГСО 7822-2000 (НП-Сиб)

Растворы изготовлены из хроматографически чистых препаратов, упакованы в стеклянные ампулы, снабжены этикеткой, паспортом или свидетельством с указанием даты изготовления и инструкцией по применению. Каждая ампула содержит по 1,0±0,1 мл раствора. СОП микотоксинов изготовлены из высококачественного сырья и предназначены для проведения анализов по определению массовой концентрации микотоксинов в продовольственном сырье и продуктах питания методом ТСХ. Ассортимент: Афлатоксин В1 (ОФХ) 10 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Афлатоксин В2 (НФХ) 10 мкг/мл (раствор в бензоле и ацетонитриле); Афлатоксин В2 (ОФХ) 10 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Афлатоксин G1 (НФХ) 10 мкг/мл (раствор в бензоле и ацетонитриле); Афлатоксин G1 (ОФХ) 10 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Афлатоксин G2 (НФХ) 10 мкг/мл (раствор в бензоле и ацетонитриле); Афлатоксин G2 (ОФХ) 10 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Стеригматоцистин (НФХ) 10 мкг/мл (раствор в бензоле); Стеригматоцистин (ОФХ) 10 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Охратоксин А (ОФХ) 50 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Т-2 токсин (ОФХ) 100 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Зеараленон (ОФХ) 100 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); Патулин (ОФХ) 100 мкг/мл (раствор в ацетонитриле); N-Нитрозамины-набор реактивов (4 ампулы СОП и 1 ампула КАЗ).

Применяются при настройке чувствительности и длительности развертки ультразвуковых дефектоскопов при контроле различных изделий (в большинстве случаев плоских (листовых) и трубных). СОП с зарубкой (угловым отражателем) производятся из того же материала, что и контролируемый объект, при этом геометрические размеры, такие как толщина или радиус кривизны поверхности стандартного образца, полностью соответствуют параметрам контролируемого изделия.

Комплекты КОИДЗ-ВД состоят из образцов искусственных дефектов (ОИД) и образцов зазоров (ОЗ). Образцы искусственных дефектов выполнены в виде плоских и изогнутых плаcтин и цилиндров, на рабочих поверхностях которых изготовлены дефекты в виде нарушения сплошности в форме щелей различной глубины, ширины раскрытия и длины. Рабочими поверхностями плоских ОИД являются две противолежащие поверхности, на которых прорезаны электроэрозионным способом продольные щели Рабочими поверхностями ОИД, воспроизводящими положительную криволинейную поверхность, являются образцы с цилиндрической поверхностью. Рабочей поверхностью ОИД, воспроизводящей отрицательную кривизну, является внутренняя поверхность изогнутой пластины — место перегиба. Комплект КОИДЗ-ВД содержит ОИД для определения влияния различных величин. Для определения влияния шероховатости рабочих поверхностей комплект содержит ОИД с различной шероховатостью, на которых изготовлены дефекты одинаковой глубины. Для определения влияния положительной кривизны и шероховатости поверхности комплект содержит цилиндрические образцы с различной шероховатостью рабочих поверхностей, на которых изготовлены дефекты одинаковой глубины. Для определения одновременного влияния отрицательной кривизны и шероховатости поверхности комплект содержит изогнутые пластины, на которых прорезаны два дефекта одинаковой глубины, один из которых расположен на плоской, другой на изогнутой частях образца. Для определения влияния химического состава материала контролируемых изделий комплект содержит образцы из стали 10, стали 20 и стали 45. На каждом образце изготовлены одни и те же дефекты. Для учета влияния удельной электрической проводимости комплект содержит образцы из немагнитных конструкционных материалов: из алюминиевого сплава Д16Т и титанового сплава ВТ-23. На каждом образце изготовлены одни и те же дефекты. Образцы зазоров представляют собой плоские и изогнутые пластины разной толщины, выполненные из диэлектрического материала. Технические характеристики Диапазон номинальных значений глубины дефектов, мм от 0,1 до 10. Пределы допустимой погрешности значения глубины дефектов, мм от ±0,02 до ±0,25. Диапазон номинальных значений ширины раскрытия дефектов, мм от 0,03 до 0,15. Пределы допустимой погрешности значения ширины раскрытия дефектов, мм от ±0,01 до ±0,05. Диапазон номинальных значений длины дефектов, мм от 6 до 100. Пределы допустимой погрешности значения длины дефектов, мм от ±0,5 до ±1. Диапазон номинальных значений толщины образцов диэлектрического зазора, мм от 0,2 до 10. Пределы допустимой погрешности значения толщины образцов, мм от ±0,02 до ±0,5. Диапазон номинальных значений радиуса кривизны криволинейных поверхностей с дефектами, мм - выпуклой от 13 до 510; - вогнутой 10.

Государственные (ГСО), отраслевые (ОСО) и стандартные образцы предприятий СОП. В наличии и на заказ: СО-1, СО-2, СО-3, СО-4, СО-3Р, образцы V1 и V2, отраслевые и Стандартные образцы предприятий по нормативам и пожеланиям Заказчика.

Стандартная пленка полистирола толщиной около 35 мкм предназначена для юстировки (калибровки), поверки, калибровки, квалификации ИК-спектрометров. Подходит для проверки по фармакопейной статье 2.2.24. Применение данного стандартного образца позволяет подтвердить следующие характеристики ИК-Фурье-спектрометров: - точность установки шкалы волновых чисел; - разрешающую способность; - соотношение Сигнал/шум; - тест нуля.