Поиск

31 тов.
Вид:
  • Выбрано: 0
    Применение
  • Выбрано: 1
    Название
  • Выбрано: 0
    Компания
  • Выбрано: 0
    Производство
  • Выбрано: 0
    Дополнительно
Все фильтры
  • 7
    Применение
  • Название
  • 5
    Компания
  • 3
    Производство
  • 5
    Дополнительно
Вид:
31 тов.
Оптическая приставка для работы со световодными ИК зондами
Оптическая приставка для работы со световодными ИК зондами
ИК фурье-спектрометры "ФТ-801" могут дополнительно оснащаться специальной оптической приставкой, позволяющей эффективно использовать световодные системы. 4 типа световодных зондов позволяют измерять спектры пропускания и отражения (НПВО) в твердых, жидких и газообразных средах Современные ИК световоды обладают высоким собственным пропусканием и достаточной механической прочностью, что позволяют перенести измерения из лаборатории непосредственно на производство - для контроля протекания техпроцессов, проверки качества сырья и готовой продукции. Области применения: · Химическая и микробиологическая промышленность · Фармацевтическая промышленность · Медицина и косметология · Пищевая промышленность · Нефтепродукты, ГСМ · Криминалистика
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск
Технологическая приставка с водой 1200x250x850 мм, раб. поверхность - НЕРЖАВЕЮЩАЯ СТАЛЬ
Технологическая приставка с водой 1200x250x850 мм, раб. поверхность - НЕРЖАВЕЮЩАЯ СТАЛЬ
от 31 870 ₽
Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности и функциональных возможностей стола (подвод воды, газа и т.п.). Конструкция приставки предусматривает последовательное соединение двух приставок, а также установку до двух дополнительных полок, двух кранов (для сжатого воздуха, подачи вакуума или газа). Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: нержавеющая сталь Кран для воды с фильтром: 1шт Кран для воды без филтра: 1 шт Материал раковины: полипропилен Цвет каркаса: белый Масса: 16 кг.
ЭКРОСХИМ
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Технологическая приставка без воды 1200x250x850 мм, раб. поверхность - DURCON
Технологическая приставка без воды 1200x250x850 мм, раб. поверхность - DURCON
от 33 523.2 ₽
Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности. Состоит из металлического каркаса и столешницы. Крепится к столам лабораторным и приборным. Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: Durcon Цвет каркаса: белый Масса: 24 кг
ЭКРОСХИМ
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка зеркального отражения ПЗО10
Приставка зеркального отражения ПЗО10
Предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка с охлаждаемым МСТ детектором
Приставка с охлаждаемым МСТ детектором
Для достижения предельной чувствительности при измерениях применяется специальная приставка к фурье-спектрометру ФТ-801, представляющая собой оптический блок со встроенным высокочувствительным МСТ детектором, охлаждаемым жидким азотом. Приставка устанавливается в кюветный отсек спектрометра и подключается к соответствующему внешнему электрическому порту, детектор включается программно. Чувствительность метода при этом повышается во много раз (до 20) – в зависимости от типа штатного неохлаждаемого детектора в спектрометре). Увеличивается также скорость регистрации спектров. Время работы после заполнения криостата (емкостью 200 мл) жидким азотом - не менее 6 часов. Повышение чувствительности спектрометра с помощью приставки с МСТ детектором может потребоваться для многих применений: в волоконной спектроскопии, при регистрации спектров эмиссии маломощных излучателей, при трассовом газовом анализе с высоким спектральным разрешением, при определении наличия в пробах примесей в сверхмалых концентрациях, при использовании многоходовых газовых кювет и т.п. На рисунке: слева в кюветном отсеке - каплер с волокном фирмы Art photonics GmbH, Berlin, Germany, справа - приставка с МСТ детектором. Технические характеристики Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 50 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Емкость криостата, мл 200 Время работы после заполнения криостата, часов 6 Габаритные размеры, мм 225×175×75 Масса, кг 1,45
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск
Приставка отражения ПО-45 В
Приставка отражения ПО-45 В
Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск
Приставка для БИК-анализа
Приставка для БИК-анализа
Приставка предназначена для измерения спектров поглощения образцов в ближней инфракрасной области спектра в диапазоне 4 000 — 12 500 см-1 совместно с ИК фурье-спектрометром ФСМ 1211. Используя ближнюю ИК-область, можно проводить идентификацию и количественный анализ фармацевтических препаратов, продукции химической, полимерной, текстильной, пищевой, сельскохозяйственной и других отраслей промышленности. Метод БИК-анализа позволяет исследовать порошки, измельченные и волокнистые материалы и т.п.
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Приставка-автосамплер для анализа бензинов
Приставка-автосамплер для анализа бензинов
Предназначена для установки в универсальный ИК фурье-спектрометр ФСМ для проведения анализа бензинов, включающего: определение концентрации бензола по ГОСТ Р 51930 (ASTM D4053, EN 238); определение концентрации оксигенатов по ГОСТ Р 52256 (ASTM D 5845).
Инфраспек
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Технологическая приставка без воды 1200x250x850 мм, раб. поверхность - НЕРЖАВЕЮЩАЯ СТАЛЬ
Технологическая приставка без воды 1200x250x850 мм, раб. поверхность - НЕРЖАВЕЮЩАЯ СТАЛЬ
от 16 845 ₽
Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности. Состоит из металлического каркаса и столешницы. Крепится к столам лабораторным и приборным. Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: нержавеющая сталь Цвет каркаса: белый Масса: 15 кг.
ЭКРОСХИМ
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
ПРИЗ – приставка отражения с нижним расположением образца и визуализацией исследуемого объекта на мониторе
ПРИЗ – приставка отражения с нижним расположением образца и визуализацией исследуемого объекта на мониторе
Основное преимущество приставки ПРИЗ – возможность получения хорошо выраженных спектров микрообъектов после придания им формы тонкого слоя на отполированных зеркально металлических пластинах (в режиме так называемого двойного прохождения, когда излучение дважды проникает сквозь слой вещества, отражаясь от зеркала-подложки). Наличие системы визуального контроля со встроенной видеокамерой существенно повышает информативность при настройке и надежность полученных результатов. С помощью приставки можно также регистрировать спектры отражения сыпучих образцов и цельных объектов произвольной геометрии в нативном виде, в том числе, фармпрепаратов в виде таблеток, порошков и гранул, полимерных фрагментов, ЛКП, пленок, нанесенных на поверхности. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 40 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Минимальные исходные размеры твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Максимальная рлощадь твердого образца, мм 20Х20Х10 Диапазон переменной фокусировки, мм 10 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива / общее увеличение визуального канала 4Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640х480 Габаритные размеры, мм 140×105×160 Масса, кг 1.16
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск
Технологическая приставка с водой 1200x250x850 мм, раб. поверхность - LABGRADE
Технологическая приставка с водой 1200x250x850 мм, раб. поверхность - LABGRADE
от 41 875.2 ₽
Приставка предназначена для комплектования стола лабораторного с целью увеличения его рабочей поверхности и функциональных возможностей стола (подвод воды, газа и т.п.). Конструкция приставки предусматривает последовательное соединение двух приставок, а также установку до двух дополнительных полок, двух кранов (для сжатого воздуха, подачи вакуума или газа). Размеры: 1200х250х850 мм Рабочая поверхность: Labgrade Кран для воды с фильтром: 1шт Кран для воды без филтра: 1 шт Материал раковины: полипропилен Цвет каркаса: белый Масса: 17 кг.
ЭКРОСХИМ
Санкт-Петербург
Произведено в: Санкт-Петербург
Универсальная приставка НПВО и ЗДО с алмазным элементом и встроенным мини-монитором
Универсальная приставка НПВО и ЗДО с алмазным элементом и встроенным мини-монитором
Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.
СИМЕКС
Новосибирск
Произведено в: Новосибирск