Поиск

Интерактивный микроскоп МЦИ-1 представляет собой портативное универсальное устройство для измерения и документирования изображения при помощи компьютера. Обеспечивает получение цифровых изображений различных предметов с высоким разрешением. ВОЗМОЖНОСТИ И ПРЕИМУЩЕСТВА МИКРОСКОПА: 1) Увеличение изучаемых объектов в широком диапазоне от 250 до 2800 крат. 2) Возможность использования широкого ассортимента как прозрачных так и непрозрачных объектов исследования. 3) Возможность просмотра изображения как с помощью окуляра, так и с помощью видеокамеры с выводом изображения на экран монитора компьютера. 4) Программное обеспечение, входящее в комплект, позволяет использовать микроскоп во всех режимах фото и видео съемки, необходимых для полноценного исследования объекта. 5) Микроскоп подключается к компьютеру через интерфейс И5В и не требует дополнительного блока питания и аккумуляторов. 6) Наличие 3-х позиционного переключателя для включения/ выключения светодиодного освещения объектива позволяет использовать либо освещение от светодиодов, либо естественное освещение. 7) Малый вес и габаритные размеры, широкий спектр настроек и высокие технические характеристики микроскопа обеспечивают его высокую мобильность и широкую сферу применения. ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Увеличение, крат 250; 625; 1250; 2800 Цифровое увеличение до 300% Ахроматические объективы 8*; 20*; 40*; 90* Масса, кг, не более 2,8 Габаритные размеры, мм не более 397x213x142

Новый микроскоп Confotec® Duo производства СОЛ инструментс — это компактный прибор, в который встроены два лазера (532 нм и 785 нм с оптическим изолятором) с телескопами и двухканальный спектрометр изображения. Технические характеристики: Чувствительность: детектирование кремниевого пика третьего порядка Пространственное разрешение: латеральное (XY) < 1 мкм аксиальное (Z) < 2 мкм Минимальный шаг сканирования стола для 2D картирования: 100 нм Видеокамера наблюдения: цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере

Высокоскоростная сканирующая микроскопия ионной проводимости Бесконтактное исследование живых клеток в естественной физиологической среде Измерение механических свойств в широком диапазоне жесткостей Patch-clamp измерения с нанометровой локализацией Комбинация с оптическими методиками

Это лабораторное оборудование научно-исследовательского назначения позволяет в автоматическом сканирующем режиме получать флуоресцентные изображения микропрепаратов на предметных стеклах или в 96 луночном планшете. Обладает высокой производительностью и позволяет автоматизировать микроскопные исследования для экономии времени исследователей при рутинном получении большого количества флуоресцентных изображений.

Сканирующая Зондовая Микроскопия/методики На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/.

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Прибор более высокого уровня с предельной чувствительностью и дополнительным набором функций, позволяющих расширить возможности при проведении спектральных исследований: · револьверный механизм с 4 сменными объективами – зеркальный ИК 15Х, НПВО, линзовый 4Х, линзовый 10Х; · регистрация спектров в режимах зеркального и диффузного отражения, пропускания и НПВО; · повышенная чувствительность, позволяющая регистрировать спектры микрообъектов с размерами от 5 мкм; · встроенная панель управления с расширенными функциями; · система автоматизированного картирования; · прямоугольная щелевая диафрагма выполнена из специального стекла – после выделения фрагмента пользователю доступно для просмотра и остальное поле зрения, что значительно упрощает фотометрирование протяженных поверхностей с локальными неоднородностями; · специализированное программное обеспечение для управления микроскопом и обработки результатов. Для работы с ИК микроскопом требуется жидкий азот.

ИК микроскоп «МИКРАН» предназначен для работы с ИК фурье-спектрометрами «Инфралюм ФТ-801». Спектральный диапазон 6000 – 600 см-1 (с микроскопом и детектором МСТ, охлаждаемым жидким азотом). Разрешение 0.5, 1, 2, 4, 8 см-1 (определяется разрешением фурье-спектрометра)

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

● Диапазон увеличений: 50 - 800х ● Объективы сменные планахромат 5х/0,12, 10х/0,25, 20х/0,40, 40х/0,60 (по запросу), 50х/0,70, 80х/0,80 с увеличенным рабочим отрезком ● Окуляр 10х/18 мм ● Осветитель: Светодиодный осветитель со стабилизированным источником и встроенным аккумулятором. Регулировка освещения с линейным изменением интенсивности. Зарядное устройство в комплекте. ● Штатив микроскопа с регулировкой по высоте с ходом 35 мм. Возможность наклона штатива под углом ±20 градусов вперед и назад для съемки криволинейной поверхности без перемещения микроскопа с места крепления ● Перемещение объектива 30х30 мм по осям X-Y ● Рукоятки грубой и точной фокусировки ● Прочное магнитное крепление на 3-х точках с помощью шарнирных опор для крепления на стальных криволинейных выпуклых и вогнутых поверхностях, в том числе на гибах труб диаметром от 60 мм ● Противоскользящие насадки ● Крепление металлическое для немагнитных поверхностей с храповым механизмом ● Основание для закрепления микроскопа при стационарной работе ● Байонетное крепление для фотоаппарата ● Крепление c-mount для видеокамеры ● Заглушка транспортировочная для видеовыхода ● Кейс для переноски микроскопа с фотокамерой.

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов: Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн. Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов