Поиск

Представляют собой новое поколение микроскопов с оптико-цифровым каналом наблюдения, регистрацией и обработкой микроизображений. Технические характеристики: Комплект объективов, увеличение/ числовая апертура 5x/0,10; 20x/0,45; 63x/0,85; 100x/1,25 МИ Диапазон линейного увеличения: в режиме цифрового масштаба «х1» в режиме цифрового масштаба «х2» в режиме цифрового масштаба «х4» 63 – 1250 125 – 2500 250 – 5000 Диапазон линейных полей зрения в плоскости объекта, мм: в режиме цифрового масштаба «х1» в режиме цифрового масштаба «х2» в режиме цифрового масштаба «х4» 2,54 – 0,13 1,27 – 0,07 0,63 – 0,04 Видеосистема: матрица и монитор CMOS 3,2 Мпкс; VGA 6,5´´, 1024x768 пкс Регулируемые параметры яркость, контрастность, резкость, насыщенность, фон, множитель, оттенок, фильтр, режим ч/б изображения, поворот изображения Сохранение данных с помощью виртуальной клавиатуры карта памяти, «Внутренний диск» (встроенная карта памяти), flash- накопитель USB Разъемы для подключения внешних устройств USB – компьютер, flash- накопитель, HDMI - монитор, видеопроектор, Ethernet – проводная компьютерная сеть, 3,5 мм TRS – гарнитура. Управление видеонасадкой Манипулятор «мышь» Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц через сетевой адаптер постоянного тока напряжением 12В Полная потребляемая мощность, не более, В·А 35 Габаритные размеры, не более, мм 220х260х490 Масса, не более, кг 10

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Предназначен для исследования объектов с применением методов флуоресцентного контрастирования (при освещении сверху через объектив) и окрашенных препаратов в проходящем свете (классическое освещение по Келлеру). Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 100 – 1500 Спектральный диапазон возбуждения люминесценции, нм 450 – 550, (360* – 550) Спектральный диапазон исследуемой люминесценции, нм 520* – 700, (400* – 700) Направляющие со светоделительными пластинами Зеленая-2, Красная, Голубая*, Зеленая* Визуальная насадка тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 55-75 Окуляры: видимое увеличение, крат/поле, мм Широкопольные 10х/18 или 10х/20 15х/12 или 15х/15 Револьверное устройство крепления объективов Четырехгнездное, вращение в любом направлении Тип коррекции объективов Микрофлюары, стигмахроматы Объективы: (увеличение), крат/ числовая апертура Микрофлюары: 10/0,50Л ∞/0,17 ОФ-10Л-0 100/ 1,30Л МИ ∞/0,17 ОФ-100Л-0-1** Стигмахроматы: 20/0,45Л ∞/0,17 ОСХ-20Л-0 40/0,65Л ∞/0,17 ОСХ-40Л-0 для объектов без покровного стекла 40/0,65Л ∞/0 ОСХ-40ЛБ-0 Двухкоординатный предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения препарата, мм 76х26

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля. Оптическая микроскопия ближнего поля основана на использовании свойств ближнего (эванесцентного) поля, что позволяет преодолеть дифракционный предел классической оптической микроскопии. Все ближнепольные микроскопы включают несколько базовых элементов конструкции: зонд; система перемещения зонда относительно поверхности образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам (система развертки); регистрирующая система; оптическая система.

Предназначен: для фотометрических исследований в проходящем, отраженном свете и в свете люминесценции, а также для исследований в поляризованном свете микрообъектов и микроучастков макрообъектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 50 – 1000 Спектральный диапазон регистрации, нм Зеркального отражения Диффузного отражения Пропускания (оптической плотности) Люминесценции 350 – 900 380 – 760 350 – 900 400 – 700 Минимальный размер фотометрируемого участка, мкм 1 Количество фотометрических диафрагм, шт. 6 Визуальная насадка бинокулярная Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Увеличение насадки, крат 1 Регулируемое межзрачковое расстояние 55-75 Окуляры, крат 10 Освещение - проходящий свет - классическое по Келлеру, - сверху - свет, падающий через объектив, - от наклонного осветителя Тип коррекции объективов Микрофлюары, стигмахроматы Объективы (увеличение) 5/0,1 ∞/- 10/0,25Л∞/ - 20/0,45Л ∞/0,17 40/0,65Л ∞/0,17 100/1,30Л МИ ∞/0,17 (ирис) Револьверное устройство крепления объективов Четырехгнездное, вращение в любом направлении Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 76х26 Конденсор числовая апертура 0,9 Источник света лампа галогенная 9 В 70 Вт, лампа ртутная HBO 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блоки питания настольного типа, для галогенной лампы - регулировка яркости Габаритные размеры: микроскопа, мм 260х550х730 БУСМ-10 320х350х160 Блоков питания ртутной и галогенной лампы 242х125х71 Масса прибора, кг 30

Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения панкратической системы. Технические характеристики: Параметры оптической головки МСП-1 вар. 22М и 23 Увеличение zоом объектива, крат 1,0 – 4,5 Видимое увеличение микроскопа с окуляром 10х (20х), крат с дополнительным объективом 2х* с дополнительным объективом 0,5х* 10 – 45 (20 – 90) 20 – 90 (40 – 180)* 5 – 22,5 (10 – 45)** Рабочее расстояние, мм с дополнительным объективом 2х, мм* с дополнительным объективом 0,5х, мм* 97 30* 180** Насадка тринокулярная включает бинокуляр и вертикальный тубус Наклон тубусов бинокуляра, град 45 Межзрачковое расстояние, мм 55 – 75 Увеличение адаптера для камеры (C-mount), крат 0,5х

С микроскопом ФемтоСкан X возможно получать одновременно несколько изображений с разрешением до 4096х4096 и рекордной скоростью (до 8 секунд на 1 кадр). За счет использования современного процессора FPGA достигается одновременная обработка независимых каналов обратной связи на частоте 1 МГц.

Предназначен для исследования объектов в проходящем и отраженном свете при освещении по методу светлого и темного поля; с применением методов фазового контраста, в поляризованных лучах (по методу простой поляризации) в отраженном свете. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат (50*) 100 – 1000 Визуальная насадка тринокулярная Увеличение насадки, крат 1,0 Угол наклона окулярных тубусов, град 30 Диоптрийная подвижка тубуса, дптр ±5 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 48 -75 Окуляры, видимое увеличение, крат/поле, мм широкопольные 10х/22, работа в очках Револьверное устройство крепления объективов пятигнездное, повернуто к штативу, вращение в любом направлении Тип коррекции объективов планахроматическая Объективы (увеличение), крат/ числовая апертура В комплекте 10 штук: Тубус бесконечность (∞) 10/0,25; 40/0,60; 40/0,65; 50/0,75; 100/1,25 МИ; 100/0,80 Фазовые: 10/0,25; 20/0,40; 40/0,65; 100х/1,25 МИ Двухкоординатный предметный столик, мм 186х138 коаксиальные рукоятки управления справа Диапазон перемещения препарата, мм 74х50, возможна установка двух препаратов Фокусировочный механизм Диапазон перемещения предметного столика, мм Цена деления точной фокусировки, мм коаксиальные рукоятки грубой и точной фокусировки – по обеим сторонам штатива, регулировка тугости хода грубой фокусировки, фиксация положения столика 30 0,001 Конденсор светлого поля с ирисовой диафрагмой; числовая апертура А =0,9/0,25 Конденсор темного поля; числовая апертура А =1,36 – 1,25 МИ Конденсор с диском для наблюдения по методу фазового контраста числовая апертура А = 1,25 МИ Светофильтры синий, зеленый, желтый Осветительная система классическая по Келлеру, центрируемая и фокусируемая полевая диафрагма Источник проходящего (и падающего) света галогенная лампа 24 В 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания встроен в штатив, обеспечивает плавную регулировку яркости источника света Габаритные размеры, не более, мм 280х590х500 Масса, не более, кг 20,0

Модельный ряд микровизоров для металлографии и материаловедения включает инвертированные модели с верхним расположением предметного столика - µVizo® -MET-221 и 222, различающиеся комплектацией и методами контрастирования. Технические характеристики: µVizo®-МЕТ-221 µVizo®-МЕТ-222 Линейное увеличение при цифровом масштабе – "х1" "х2" "х4" 50, 100, 200, 500, 1000 80, 150, 300, 800, 1500 150, 300, 600, 1500, 3000 Эпиобъективы планахроматы (увеличение/числовая апертура/ рабочее расстояние, мм) 5х/0,12/7,2; 10х/0,20/9,1; 20х/0,35/6,1; 50х/0,60/2,4; 100х/0,75/1,3 Наибольшее поле зрения в плоскости объекта, мм 2,6х1,9; диагональ 3,3 Методы исследования Светлое поле Темное поле Поляризованный свет Метод ДИК Светлое поле Темное поле Поляризованный свет Револьвер Четырехгнездный Диапазон перемещения предметного столика, мм 50х70 (в поперечном и продольном направлениях) Видеосистема Матрица 3,2 Мпкс; Монитор 6,5" (диагональ 166 мм); 1024х768 пкс Регулируемые параметры качества изображения Функциональные режимы Яркость, контрастность, резкость, насыщенность, множитель, фон, фильтр, оттенок; Стоп-кадр, масштаб, черно-белое изображение, “Указка” Программное обеспечение Определение площадей, периметров, линейных и угловых размеров; Вывод на экран изображений масштабного отрезка, перекрестия, шкал и др.; Встроенный "Альбом балльных шкал"; Создание собственных "Альбомов" изображений. Автоматические настройки Баланс белого, яркость изображения на экране Сохранение данных Карта памяти стандарта SD, 2Гб; Встроенная карта памяти - "внутренний диск", 4Гб Внешний выход USB - компьютер, принтер; VGA - монитор, видеопроектор Источник света Светодиод белого свечения, мощность 5 Вт Источник питания Сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц Габаритные размеры микроскопа, не более, мм 235х295х515 Масса, не более, кг 10

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.

Принцип действия микроскопа основан на применении фотоэлектрических преобразователей перемещений с линейными шкалами, которые позволяют производить отсчет перемещений координатного стола с выводом результата на устройство цифровое отсчетное. Инструментальные микроскопы могут оснащаться видеосистемой для вывода изображения на монитор компьютера и программным обеспечением для автоматизированной обработки результатов измерения.