Поиск

Предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Технические характеристики: Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax, Rz и толщины пленок, мкм 0,1 – 0,8 Видимое увеличение микроскопа, крат 500 Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Видимое увеличение окуляр, крат 15 Линейное поле зрения в пространстве предмета, мм 0,3 Перемещение предметного столика, мм 0 - 10 в продольном и поперечном направлениях, вращение столика Цена деления шкал барабанов микрометрических винтов столика, мм 0,005 Цена деления шкалы барабана микрометрического винта фокусировочного механизма, мм 0,002 Освещение белым или монохроматическим светом Источник света светодиод белого свечения Винтовой окулярный микрометр, крат 16 ( МОВ-1-16) Фотоэлектрический окулярный микрометр ФОМ-2-16х* Источник питания сеть переменного тока напряжением 220В, частотой 50Гц через настольный блок питания Габаритные размеры, не более, мм 300х300х420 Масса, не более, кг 30

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Предназначен для совместной работы с компьютером и обеспечивает возможность наблюдения на дисплее компьютера прозрачных и непрозрачных малоразмерных объектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 10х – 100х (плавное изменение) Поле зрения, мм 20 (при 10х) – 2 (при 100х) Разрешаемый размер, мкм 8 Видеоматрица 1,4 CMOS VGA 640x480 Подсветка Светодиодная (верхняя и нижняя) 11 градаций яркости Функция измерения линейных размеров + Интерфейс USB 1.1 Программное обеспечение µSOFT View™ Системные требования для подключения к компьютеру Windows 98, 2000, XP, Vista и 7 Процессор Pentium IV, Celeron, AMD Athlon или выше RAM 128 Мб и более Свободное пространство на жестком диске не менее 20 Мб Привод CD ROM USB порт Источник питания сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц Габаритные размеры, мм 120х170х250 Масса, не более, кг 0,5

Прибор более высокого уровня с предельной чувствительностью и дополнительным набором функций, позволяющих расширить возможности при проведении спектральных исследований: · револьверный механизм с 4 сменными объективами – зеркальный ИК 15Х, НПВО, линзовый 4Х, линзовый 10Х; · регистрация спектров в режимах зеркального и диффузного отражения, пропускания и НПВО; · повышенная чувствительность, позволяющая регистрировать спектры микрообъектов с размерами от 5 мкм; · встроенная панель управления с расширенными функциями; · система автоматизированного картирования; · прямоугольная щелевая диафрагма выполнена из специального стекла – после выделения фрагмента пользователю доступно для просмотра и остальное поле зрения, что значительно упрощает фотометрирование протяженных поверхностей с локальными неоднородностями; · специализированное программное обеспечение для управления микроскопом и обработки результатов. Для работы с ИК микроскопом требуется жидкий азот.

Рамановский микроскоп М532® сочетает возможности Экспресс-анализатора рамановского портативного «Инспектр»R532® и микроскопа U300M, адаптируя его для измерений как на пропускание, так и на отражение. Широкий функционал микроскопа M532 позволяет находить и анализировать отдельные частицы размером 2-3 µм среди множества подобных, обладающих схожими физическими и химическими свойствами, что открывает новые возможности исследований в рамках одной Рамановской системы. Пространственное разрешение в 1 µм и спектральное разрешение 4-6 cм-1 обеспечивают блестящую точность измерений и воспроизводимость результатов. Компактный дизайн и портативность инструмента позволяют проводить качественный и мгновенный анализ веществ без пробоподготовки, что делает микроскоп M532 незаменимым прибором для широкого спектра исследований. Оснащенный моторизованной подвижкой (опционно) с шагом от 0,36 µм, микроскоп M532 сканирует поверхность образца, распознает вещества в многокомпонентных разнородных смесях и создает графическое изображение интенсивностей характерных линий комбинационного рассеяния в различных точках поверхности (2D mapping), что делает микроскоп M532 наиболее выгодным по соотношению цена-качество сканирующим КР микроскопом на мировом рынке.

Техническая зарактеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп с турелью на 6 микро-объективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого/тёмного поля в отраженном свете и цветной видеокамерой. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Спектрометр: Высокоэффективный спектрометр с фиксированным положением решетки. Исходя из типа измеряемых образцов предлагаются два варианта дифракционной решётки для обеспечения оптимального регистрируемого диапазона и спектрального разрешения. Детектор: Высокочувствительный линейный детектор. Диапазон спектральной чувствительности от 200 до 1100 нм. Количество пикселей: 4096, размер пиксела: 7х200 мкм. Лазер: DPSS лазер с длиной волны 532±0.1 нм, мощность 50 мВт. Опционально: диодный лазер с длиной волны 785±0.1 нм, мощность 130 мВт с оптическим изолятором. Чувствительность: Детектирование кремниевого пика третьего порядка. Разрешение: Пространственное: латеральное (XY) < 1 мкм; аксиальное (Z) < 2 мкм. Видеокамера: Цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере. Сканирование образца: Опционально. Прецизионный автоматизированный ХУ столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм.

Особенности Пространственное разрешение 1 μм Измерение в режиме пропускания / отражения Лазер 532 нм и 785 нм в одном микроскопе Профессиональное ПО для автоматического распознавания веществ Расширенный спектральный диапазон позволяет одновременно анализировать Рамановское излучение и люминесценцию, что дает больше важной информации об изучаемом объекте

Техническая характеристика: Тип, модель: прямой Nikon Eclipse Ni-U Микрообъективы: 100х NA-0.95, 40х NA-0.75, 20х NA-0.50 и др. Окуляры: 10x (опционально 12.5x, 15x) Моторизованный столик: для моделей SRMSp и SRM диапазон перемещения по XY воспроизводимость положения точность позиционирования минимальный шаг X=114 мм, Y=75 мм < 0.5 мкм 0.06 мкм / 1 мм 0.02 мкм Ручная фокусировка по Z: перемещение по оси Z чувствительность фокусирующего механизма 10 мм 0.1 мм/оборот Z-сканер: диапазон перемещения объектива минимальный шаг воспроизводимость 80 мкм 50 нм < 6 нм Цифровая видеокамера высокого разрешения: с Пельтье охлаждением (–20 °С относительно температуры окружающей среды) тип сенсор размер пикселя АЦП охлаждение цифровая цветная ПЗС камера 4/3″, 2048 x 2048 пикселей 7.4 x 7.4 мкм 14 бит, скорость до 16 кадров/с элементом Пельтье Цифровая видеокамера высокого разрешения: без охлаждения тип сенсор размер пикселя АЦП цифровая цветная ПЗС камера 1/2″, 2048 x 1536 пикселей 3.2 x 3.2 мкм 10 бит, скорость 12 кадров/с Ввод лазерного излучения: трёхпозиционная автоматизированная турель

Стереоскопический микроскоп МБС-17 предназначен для наблюдения стереоскопического изображения объектов в отражённом свете. Микроскоп комплектуется кольцевым светодиодным осветителем, обеспечивающим бестеневое освещение объекта. Питание кольцевого осветителя осуществляется от электрической сети переменного тока напряжением (220±10%) В, частотой 50 Гц.

Микроскоп МБС-10 предназначен для наблюдения как объемных предметов, так и тонких пленочных и прозрачных объектов, а также препарировальных работ. Область применения: ботаника, биология, медицина, минералогия, криминалистика, археология, машиностроение, приборостроение и другие области науки и техники.