Поиск

Confotec® NR500 – это высокопрецизионный, полностью автоматизированный 3D сканирующий лазерный конфокальный Рамановский микроскоп со спектрометром. Преимущества лазерного Рамановского конфокального микроскопа Confotec® NR500 Одновременный / многофункциональный анализ: Рамановские измерения; люминесцентные измерения; измерения лазерного отражения и пропускания; трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете; трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения; информация о спектральных и поляризационных свойствах образцов. Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм; осевое до 500 нм. Широкий спектральный диапазон: 785 нм: спектральный диапазон 50 — 3700 см-1; 633 нм: спектральный диапазон 60 — 6700 см-1; 488 нм: спектральный диапазон 150 — 10000 см-1. Одновременное использование до 5-ти лазеров путем автоматического переключения необходимых компонентов внутри системы микроскопа. Система сканирования наряду со старт-стопным режимом сканирования позволяет осуществлять быстрое сканирование (1000 х 1000 точек за 3 секунды) с регистрацией сигнала с помощью ФЭУ. Площадь сканирования: 130 х 130 мкм. Специальный блочный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками: спектральное разрешение до 0.006 нм; астигматизм менее 5 мкм. Возможность использования инвертированных (inverted) и прямых (up‑right) микроскопов. Наличие телескопа с переменным увеличением для согласования с входными зрачками микро объективов от 3 до 12 мм. Поляризационные измерения. Высокая чувствительность при низкой мощности лазерного возбуждения (от мкВт до мВт). Модуль отражения для одновременного получения 3D изображения в отраженном свете. Измерения на пропускание. Полностью автоматизированное управление всеми устройствами системы. Блочная, жесткая, стержневая конструкция обеспечивает высокую временную и температурную стабильность. Отсутствие оптических волокон, ухудшающих оптические параметры (пропускание, волновой фронт, поляризацию). Наличие кольцевого освещения для комбинации со сканирующим атомно-силовым микроскопом.

Техническая зарактеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп с турелью на 6 микро-объективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого/тёмного поля в отраженном свете и цветной видеокамерой. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Спектрометр: Высокоэффективный спектрометр с фиксированным положением решетки. Исходя из типа измеряемых образцов предлагаются два варианта дифракционной решётки для обеспечения оптимального регистрируемого диапазона и спектрального разрешения. Детектор: Высокочувствительный линейный детектор. Диапазон спектральной чувствительности от 200 до 1100 нм. Количество пикселей: 4096, размер пиксела: 7х200 мкм. Лазер: DPSS лазер с длиной волны 532±0.1 нм, мощность 50 мВт. Опционально: диодный лазер с длиной волны 785±0.1 нм, мощность 130 мВт с оптическим изолятором. Чувствительность: Детектирование кремниевого пика третьего порядка. Разрешение: Пространственное: латеральное (XY) < 1 мкм; аксиальное (Z) < 2 мкм. Видеокамера: Цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере. Сканирование образца: Опционально. Прецизионный автоматизированный ХУ столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым и инвертированным оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). микросокопии). . Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur Duos позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля. Оптическая микроскопия ближнего поля основана на использовании свойств ближнего (эванесцентного) поля, что позволяет преодолеть дифракционный предел классической оптической микроскопии. Все ближнепольные микроскопы включают несколько базовых элементов конструкции: зонд; система перемещения зонда относительно поверхности образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам (система развертки); регистрирующая система; оптическая система.

С микроскопом ФемтоСкан X возможно получать одновременно несколько изображений с разрешением до 4096х4096 и рекордной скоростью (до 8 секунд на 1 кадр). За счет использования современного процессора FPGA достигается одновременная обработка независимых каналов обратной связи на частоте 1 МГц.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.

Принцип действия микроскопа основан на применении фотоэлектрических преобразователей перемещений с линейными шкалами, которые позволяют производить отсчет перемещений координатного стола с выводом результата на устройство цифровое отсчетное. Инструментальные микроскопы могут оснащаться видеосистемой для вывода изображения на монитор компьютера и программным обеспечением для автоматизированной обработки результатов измерения.

Режимы сканирования: ион-проводящая микроскопия атомно-силовая микроскопия силовое картирование литография резистивная микроскопия электростатическая микроскопия магнитная микроскопия cканирующая туннельная микроскопия

Рамановский Микроскоп М532/785 предназначен для получения увеличенных изображений мелких деталей структуры образцов, а также для измерения спектральных характеристик образца по спектрам рамановского рассеяния и фотолюминесценции. Функционал прибора М532/785 предназначен для задач спектральной идентификации и анализа состава микрочастиц и прочих микро-структурированных объектов и субстанций, а за счет системы с двумя лазерами 532 нм и 785 нм – идентификация под различные задачи. Особенности Пространственное разрешение 1 μм Измерение в режиме пропускания / отражения Лазер 532 нм и 785 нм в одном микроскопе Профессиональное ПО для автоматического распознавания веществ Расширенный спектральный диапазон позволяет одновременно анализировать Рамановское излучение и люминесценцию, что дает больше важной информации об изучаемом объекте Преимущества Полнофункциональная Рамановская система высокого класса по привлекательному и более эффективному соотношению цены и качества Небольшие размеры и портативность Анализ в сверхмалых дозах, основанный на собственной технологии SERS.

Комплекс Certus Optic I предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микросокопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционирования зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; классический инвертированный оптический микроскоп для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; цифровая видеокамера для визуализации наблюдаемого изображения на компьютере и фиксации изображений; единый СЗМ контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Микроскоп МБС-10 предназначен для наблюдения как объемных предметов, так и тонких пленочных и прозрачных объектов, а также препарировальных работ. Область применения: ботаника, биология, медицина, минералогия, криминалистика, археология, машиностроение, приборостроение и другие области науки и техники.