Поиск

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах

Стереоскопический микроскоп МБС-10М предназначен для наблюдения как объёмных предметов, так и тонких плёночных и прозрачных объектов, а также препарировальных работ.

Трихинеллоскоп компьютерный ТК-1 предназначен для передачи изображения препарата из предметной плоскости в плоскость матрицы цифровой камеры и через разъём USB-2.0 на монитор компьютера.

Интерактивный микроскоп МЦИ-1 представляет собой портативное универсальное устройство для измерения и документирования изображения при помощи компьютера. Обеспечивает получение цифровых изображений различных предметов с высоким разрешением.

Предназначен: для фотометрических исследований в проходящем, отраженном свете и в свете люминесценции, а также для исследований в поляризованном свете микрообъектов и микроучастков макрообъектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 50 – 1000 Спектральный диапазон регистрации, нм Зеркального отражения Диффузного отражения Пропускания (оптической плотности) Люминесценции 350 – 900 380 – 760 350 – 900 400 – 700 Минимальный размер фотометрируемого участка, мкм 1 Количество фотометрических диафрагм, шт. 6 Визуальная насадка бинокулярная Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Увеличение насадки, крат 1 Регулируемое межзрачковое расстояние 55-75 Окуляры, крат 10 Освещение - проходящий свет - классическое по Келлеру, - сверху - свет, падающий через объектив, - от наклонного осветителя Тип коррекции объективов Микрофлюары, стигмахроматы Объективы (увеличение) 5/0,1 ∞/- 10/0,25Л∞/ - 20/0,45Л ∞/0,17 40/0,65Л ∞/0,17 100/1,30Л МИ ∞/0,17 (ирис) Револьверное устройство крепления объективов Четырехгнездное, вращение в любом направлении Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 76х26 Конденсор числовая апертура 0,9 Источник света лампа галогенная 9 В 70 Вт, лампа ртутная HBO 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блоки питания настольного типа, для галогенной лампы - регулировка яркости Габаритные размеры: микроскопа, мм 260х550х730 БУСМ-10 320х350х160 Блоков питания ртутной и галогенной лампы 242х125х71 Масса прибора, кг 30

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения. Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов.

Предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Технические характеристики: Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax, Rz и толщины пленок, мкм 0,1 – 0,8 Видимое увеличение микроскопа, крат 500 Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Видимое увеличение окуляр, крат 15 Линейное поле зрения в пространстве предмета, мм 0,3 Перемещение предметного столика, мм 0 - 10 в продольном и поперечном направлениях, вращение столика Цена деления шкал барабанов микрометрических винтов столика, мм 0,005 Цена деления шкалы барабана микрометрического винта фокусировочного механизма, мм 0,002 Освещение белым или монохроматическим светом Источник света светодиод белого свечения Винтовой окулярный микрометр, крат 16 ( МОВ-1-16) Фотоэлектрический окулярный микрометр ФОМ-2-16х* Источник питания сеть переменного тока напряжением 220В, частотой 50Гц через настольный блок питания Габаритные размеры, не более, мм 300х300х420 Масса, не более, кг 30

Предназначен для совместной работы с компьютером и обеспечивает возможность наблюдения на дисплее компьютера прозрачных и непрозрачных малоразмерных объектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 10х – 100х (плавное изменение) Поле зрения, мм 20 (при 10х) – 2 (при 100х) Разрешаемый размер, мкм 8 Видеоматрица 1,4 CMOS VGA 640x480 Подсветка Светодиодная (верхняя и нижняя) 11 градаций яркости Функция измерения линейных размеров + Интерфейс USB 1.1 Программное обеспечение µSOFT View™ Системные требования для подключения к компьютеру Windows 98, 2000, XP, Vista и 7 Процессор Pentium IV, Celeron, AMD Athlon или выше RAM 128 Мб и более Свободное пространство на жестком диске не менее 20 Мб Привод CD ROM USB порт Источник питания сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц Габаритные размеры, мм 120х170х250 Масса, не более, кг 0,5

Прибор более высокого уровня с предельной чувствительностью и дополнительным набором функций, позволяющих расширить возможности при проведении спектральных исследований: · револьверный механизм с 4 сменными объективами – зеркальный ИК 15Х, НПВО, линзовый 4Х, линзовый 10Х; · регистрация спектров в режимах зеркального и диффузного отражения, пропускания и НПВО; · повышенная чувствительность, позволяющая регистрировать спектры микрообъектов с размерами от 5 мкм; · встроенная панель управления с расширенными функциями; · система автоматизированного картирования; · прямоугольная щелевая диафрагма выполнена из специального стекла – после выделения фрагмента пользователю доступно для просмотра и остальное поле зрения, что значительно упрощает фотометрирование протяженных поверхностей с локальными неоднородностями; · специализированное программное обеспечение для управления микроскопом и обработки результатов. Для работы с ИК микроскопом требуется жидкий азот.