Поиск

Прибор работает в средней ИК-области спектра, имеет оптический порт для ввода излучения от внешнего источника, оснащен системой продувки инертным газом. Технические характеристики: Спектральный диапазон, см-1 370-7800 Спектральное разрешение, см-1 0,1 Отношение сигнал/шум (время измерения 1 мин в интервале 2100-2200 см-1 и разрешении 4 см-1) >60 000 Минимальное время получения одного полного спектра менее, с 1 Количество каналов измерения 2 Светоделитель KBr с покрытием на основе Ge Источник излучения Высокотемпературный металлокерамический или внешний Детектор DLATGS, охлаждаемое фотосопротивление PbSe Размеры кюветного отделения, мм 200х190х170 Габаритные размеры, мм 540х490х250 Масса, кг. 36.

Предназначена для исследования химического состава жидких сред, мелкодисперсных неабразивных порошков и полимерных пленок. Метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения позволяет существенно упростить подготовку образцов и может использоваться для реализации экспресс-методик контроля качества продукции.

Применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.

Для установки кварцевых кювет типа КФК в спектрометр ФСМ используется держатель ДК КФК, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Малогабаритный ИК фурье-спектрометр с интегрированными приставками и двумя детекторами, включая высокочувствительный охлаждаемый МСТ. Режимы работы: пропускание и отражение, НПВО, измерения с помощью оптоволоконных зондов (возможны варианты исполнения с одной или двумя парами встроенных коннекторов). Доступно подключение ИК микроскопа, телескопа для регистрации спектров внешнего излучения. Спектрометр может использоваться как переносной, и применяется, в том числе, для экспресс-мониторинга технологических процессов, контроля качества жидкостей в резервуарах и магистралях, при проведении поточных анализов биологических объектов, дистанционном газовом анализе. Установка предназначена для создания высококачественных изображений на различных материалах и обеспечивает изготовление резиновых клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.

Описание

Создана на базе инновационной платформы «Штрих», в основу которой заложена уникальная система управления, аппаратное и программное обеспечение которой целиком разработано специалистами нашей компании.
Установка предназначена для создания высококачественных изображений на таких материалах как резина, металл, пластик и обеспечивает изготовление клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.
Применяемый в установке волоконный лазер в сочетании с системой гальванометрических сканаторов обеспечивает высокое качество гравировки в статическом режиме, не требует водяного охлаждения и специального обслуживания.
При сборке системы используются только проверенные и сертифицированные детали, что гарантирует особенно длительный срок эксплуатации без дополнительных вложений.

Особенности:

Двухкоординатная высокоточная система позиционирования образцов, с помощью которой осуществляется перемещение предметного стола вдоль осей Х, Y. В результате работы системы позиционирования и последовательного гравирования фрагментов изображения, можно обрабатывать с высокой точностью заготовки с размерами до 200 × 300 мм в автоматическом режиме по заданной оператором программе обработки;
Алгоритм автоматической послойной гравировки с использованием высокоточного механизма перемещения сканирующей головы по Z-координате позволяет формировать высокодетализированные 3D-изображения глубиной до 5 мм в металлических заготовках (сталь, латунь, алюминий, титан и др.);
Длительный процесс послойной гравировки глубоких 3D-изображений (возможно десятки часов) обеспечивается без участия оператора благодаря автоматическому алгоритму;
Установка снабжена встроенной системой удаления продуктов горения из зоны воздействия лазерного излучения, в результате чего, обеспечивается отсутствие запахов и защита сканирующего объектива от продуктов выработки, что особенно важно при гравировке резины и пластиков;
Корпус установки полностью закрывает зоны обработки и распространения лазерного излучения, а гравировка производится по заданной оператором программе в автоматическом режиме при закрытых кожухах установки. Такая конструкция установки позволяет ее отнести к лазерным приборам 1 класса опасности.

Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ.

Держатель пленок ДП предназначен для фиксации образцов полимерных пленок.

Применяются для исследования жидкостей, в том числе - растворов с низкими концентрациями • Имеют разборную конструкцию, позволяющую использовать поставляемые в комплекте прокладки разной толщины • Материал окон – ZnSe (возможен заказ окон из SiO2 и KBr) • Материал прокладок – тефлон (фторопласт) • Толщина прокладок – 0.022 мм, 0.1 мм и др

Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

Новая разработка серии «ИнфраЛЮМ» Широкий спектр приставок: «ИнфраЛЮМ ФТ-08» предлагает полный спектр оптических аксессуаров компаний «Pike Technologies» и «Specac», адаптированных для установки в кюветное отделение спектрометра, в том числе: Приставка МНПВО (многократно нарушенного полного внутреннего отражения); Приставка НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения); Приставка диффузного отражения; Многоходовая газовая кювета; ИК-микроскоп и другие. Простота в использовании интуитивно понятное и простое в использовании ПО; максимально удобный для работы дизайн корпуса; максимально большое и удобное для установки приставок кюветное отделение; возможность самостоятельного запуска прибора. Особенности оптико-электронного тракта «ИнфраЛЮМ ФТ-08» запатентованная конструкция интерферометра, нечувствительного к разъюстировкам; герметичное оптическое отделение с автоматической системой контроля влажности и температуры оптической и электронной систем; источник излучения со сроком службы до 5 лет. Технические характеристики: Рабочий спектральный диапазон, см-1 от 400 до 7800 Спектральное разрешение, см-1, не более 0,7 Предел абсолютной погрешности шкалы волновых чисел, см-1 ±0,05 Отношение сигнал/шум (среднеквадратический) для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1 для разрешения 4 см-1 и времени накопления 60 с, не менее 40000 Предел отклонения линии 100 %-ного пропускания от номинального значения для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1, % ±0,2 Уровень положительного и отрицательного псевдорассеянного света, вызванного нелинейностью фотоприемной системы, % ±0,25 Время установления рабочего режима спектрометров, ч, не более 2 Время непрерывной работы спектрометров, ч, не менее 8 Среднее время одного сканирования (частота сканирования 7,14 кГц), с, не более: максимальное спектральное разрешение - 6 спектральное разрешение 16 см-1 – 0,8 Питание спектрометров от сети переменного тока: напряжение питания, В 220 ±22 частота, Гц 50 ±1 Потребляемая мощность, В×А, не более 65 Габаритные размеры, мм, не более 580х550х340 Масса, кг, не более 32 Средняя наработка на отказ, ч, не менее 2500 Средний срок службы спектрометра, лет, не менее 5

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)