Поиск

Предназначена для исследования химического состава жидких сред, мелкодисперсных неабразивных порошков и полимерных пленок. Метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения позволяет существенно упростить подготовку образцов и может использоваться для реализации экспресс-методик контроля качества продукции.

Лабораторный инфракрасный фурье-спектрометр ФСМ 2211 предназначен для проведения количественных и качественных исследований в ближнем ИК-диапазоне. Обладает всеми преимуществами метода спектрального БИК-анализа: высокой информативностью получаемых данных, быстротой и точностью измерений, не требует предварительной подготовки образцов и специального обучения персонала. Местоположение полос в инфракрасном спектре поглощения несет информацию о качественном составе образца, а интенсивность полос позволяет производить его количественный анализ, т.е. определять концентрацию (или другое свойство) соответствующего компонента. Это делается с помощью градуировочной модели, представляющей собой зависимость между показателем поглощения (пропускания) и концентрацией компонента (свойством образца). Градуировочная модель рассчитывается заранее по результатам проведения градуировки, которая заключается в регистрации спектров партии образцов с известными (установленными стандартными химическими методами) концентрациями компонентов или другими известными свойствами.

Тестер для контроля параметров полупроводниковых пластин ФСМ 1201П позволяет в соответствии с заданной оператором программой проводить автоматическое измерение плоскопараллельных полированных пластин кремния диаметром 76, 100, 125, 150 и 200 мм, размещаемых на измерительном столе. Время стандартного измерения в одной точке не более 20 с. Основные контролируемые параметры: концентрация междуузельного кислорода (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах (5×1015–2×1018)±5×1015 см-3 (SEMI MF1188); концентрация углерода замещения (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах: (1016–5×1017)±1016 см-3 (SEMI MF1391); радиальная неоднородность распределения кислорода в кремниевых пластинах (SEMI MF951); толщина эпитаксиальных слоев кремниевых структур типа n-n+ и p-p+ в пределах (0,5–10,0)±0,1 мкм, (10–200)±1% мкм (SEMI MF95); толщина эпитаксиальных слоев кремния в структурах КНС в пределах (0,1–10,0)±1% мкм; концентрация фосфора в слоях ФСС и бора/фосфора в слоях БФСС в пределах (1–10)±0,2 % вес.

Данная подставка позволяет использовать в спектрометрах ФСМ кюветы типа Specord и имеет соответствующие присоединительные размеры.

Предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне: для идентификации покрытий и определения их толщины.

Предназначена для установки в универсальный ИК фурье-спектрометр ФСМ для проведения анализа бензинов, включающего: определение концентрации бензола по ГОСТ Р 51930 (ASTM D4053, EN 238); определение концентрации оксигенатов по ГОСТ Р 52256 (ASTM D 5845).