Поиск

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Подставка для кювет ПК 50-75 предназначена для установки: кварцевой кюветы типа СФ в держателе ДК 10-10; кварцевой кюветы типа КФК в держателе ДК КФК; разборной кюветы КР1, разборной кюветы КР20, держателя пленок, держателя таблеток, держателя твердых образцов.

Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ.

Прибор работает в средней ИК-области спектра, имеет оптический порт для ввода излучения от внешнего источника, оснащен системой продувки инертным газом. Технические характеристики: Спектральный диапазон, см-1 370-7800 Спектральное разрешение, см-1 0,1 Отношение сигнал/шум (время измерения 1 мин в интервале 2100-2200 см-1 и разрешении 4 см-1) >60 000 Минимальное время получения одного полного спектра менее, с 1 Количество каналов измерения 2 Светоделитель KBr с покрытием на основе Ge Источник излучения Высокотемпературный металлокерамический или внешний Детектор DLATGS, охлаждаемое фотосопротивление PbSe Размеры кюветного отделения, мм 200х190х170 Габаритные размеры, мм 540х490х250 Масса, кг. 36

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

• Состоит из сопряженного с фурье-спектрометром зеркального телескопа и прожектора с ИК излучателем • Используется для регистрации спектров газовых и аэрозольно-газовых смесей на трассах длиной до 100 метров • Диаметр главного зеркала телескопа 170 мм • Угловое поле зрения +/- 3 град. • В комплект может быть включен дополнительный отражатель

Технические характеристики: Рабочий спектральный диапазон, см-1 от 400 до 7800 Спектральное разрешение, см-1, не более 0,7 Предел абсолютной погрешности шкалы волновых чисел, см-1 ±0,05 Отношение сигнал/шум (среднеквадратический) для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1 для разрешения 4 см-1 и времени накопления 60 с, не менее 40000 Предел отклонения линии 100 %-ного пропускания от номинального значения для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1, % ±0,2 Уровень положительного и отрицательного псевдорассеянного света, вызванного нелинейностью фотоприемной системы, % ±0,25 Время установления рабочего режима спектрометров, ч, не более 2 Время непрерывной работы спектрометров, ч, не менее 8 Потребляемая мощность, В×А, не более 65 Габаритные размеры, мм, не более 580х550х340 Масса, кг, не более 32 Средняя наработка на отказ, ч, не менее 2500 Средний срок службы спектрометра, лет, не менее 5

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Предназначена для измерения отражающей способности твердых образцов и анализа покрытий методом отражения с углом падения, близким к нормальному. С помощью этой приставки можно определять отражающую способность оптических элементов, антибликовых покрытий и пр.

Жидкостная кювета с регулируемой толщиной слоя исследуемой жидкости выполнена в виде оптико-механической приставки, устанавливаемой в кюветный отсек спектрометра ФТ-801. Содержит фокусирующую оптику, съемные держатели двух окон-подложек диаметром 10 мм и два регулировочных винта, выведенных на верхнюю панель корпуса приставки и предназначенных для выставления требуемого зазора между окнами. Жидкость любой степени вязкости предварительно наносится в виде небольшой капли на нижнее окно и затем, в процессе плавного сближения окон равномерно заполняет зазор между ними. Вращая регулировочные винты и наблюдая в режиме он-лайн за спектром пропускания, пользователь имеет возможность задать нужную толщину слоя жидкости, ориентируясь по общей выраженности всего спектра или по интенсивности конкретных полос поглощения. При наличии калибровки, которую легко создать с помощью программы ZaIR 3.5 по нескольким образцам с известной концентрацией, кювета позволяет проводить количественные измерения. Кювета незаменима при анализе смесей, содержащих примеси в малых пропорциях. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 50 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 16 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Минимальный объем исследуемой жидкости, мм3 1 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Габаритные размеры, мм 200×90×160 Масса, кг 1,1 На рисунке приведены несколько спектров вязкой смазки «Буксол», иллюстрирующие процесс подбора толщины слоя образца между окнами. Процесс измерений обладает высокой экспрессностью и воспроизводимостью, используются недорогие сменные окна-подложки, систему легко настраивать и очищать, для получения качественных спектров требуется очень небольшое количество пробы.