Поиск

Технические характеристики: Спектральный диапазон, см-1 370-7800 Спектральное разрешение, см-1 1,0 (ФСМ 2201) и 0,5(ФСМ 2202) Отношение сигнал/шум (время измерения 1 мин в интервале 2100-2200 см-1 и разрешении 4 см-1) >60 000 Минимальное время получения одного полного спектра менее, с 1 Светоделитель KBr с покрытием на основе Ge Источник излучения Высокотемпературный металлокерамический Детектор Пироприемник DLATGS Размеры кюветного отделения, мм 150х190х170 Габаритные размеры, мм 520х370х250 Масса, кг. 28.

Предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне: для идентификации покрытий и определения их толщины.

Данная подставка позволяет использовать в спектрометрах ФСМ кюветы типа Specord и имеет соответствующие присоединительные размеры.

ФСМ 2211В основе спектрометра ФСМ 2211 — интерферометр типа Майкельсона, с самокомпенсацией, не требующий динамической юстировки. Технические характеристики: Спектральный диапазон, см-1 3700-12500 Спектральное разрешение, см-1 2 Отношение сигнал/шум (время измерения 1 мин в интервале 2100-2200 см-1 и разрешении 4 см-1) >60 000 Минимальное время получения одного полного спектра менее, с 1 Светоделитель CaF2 с многослойным покрытием на основе Ge Источник излучения Галогеновая лампа Детектор Фотодиод InGaAs фотодиод Si Размеры кюветного отделения, мм 150х190х170 Габаритные размеры, мм 520х370х250 Масса, кг. 28.

Лабораторный инфракрасный фурье-спектрометр ФСМ 2211 предназначен для проведения количественных и качественных исследований в ближнем ИК-диапазоне. Обладает всеми преимуществами метода спектрального БИК-анализа: высокой информативностью получаемых данных, быстротой и точностью измерений, не требует предварительной подготовки образцов и специального обучения персонала. Местоположение полос в инфракрасном спектре поглощения несет информацию о качественном составе образца, а интенсивность полос позволяет производить его количественный анализ, т.е. определять концентрацию (или другое свойство) соответствующего компонента. Это делается с помощью градуировочной модели, представляющей собой зависимость между показателем поглощения (пропускания) и концентрацией компонента (свойством образца). Градуировочная модель рассчитывается заранее по результатам проведения градуировки, которая заключается в регистрации спектров партии образцов с известными (установленными стандартными химическими методами) концентрациями компонентов или другими известными свойствами.

Для установки кварцевой кюветы типа СФ в спектрометр ФСМ используется держатель ДК 10-10, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Подставка для кювет ПК 50-75 предназначена для установки: кварцевой кюветы типа СФ в держателе ДК 10-10; кварцевой кюветы типа КФК в держателе ДК КФК; разборной кюветы КР1, разборной кюветы КР20, держателя пленок, держателя таблеток, держателя твердых образцов.

Тестер для контроля параметров полупроводниковых пластин ФСМ 1201П позволяет в соответствии с заданной оператором программой проводить автоматическое измерение плоскопараллельных полированных пластин кремния диаметром 76, 100, 125, 150 и 200 мм, размещаемых на измерительном столе. Время стандартного измерения в одной точке не более 20 с. Основные контролируемые параметры: концентрация междуузельного кислорода (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах (5×1015–2×1018)±5×1015 см-3 (SEMI MF1188); концентрация углерода замещения (толщина пластин 0,4–2,0 мм) в пределах: (1016–5×1017)±1016 см-3 (SEMI MF1391); радиальная неоднородность распределения кислорода в кремниевых пластинах (SEMI MF951); толщина эпитаксиальных слоев кремниевых структур типа n-n+ и p-p+ в пределах (0,5–10,0)±0,1 мкм, (10–200)±1% мкм (SEMI MF95); толщина эпитаксиальных слоев кремния в структурах КНС в пределах (0,1–10,0)±1% мкм; концентрация фосфора в слоях ФСС и бора/фосфора в слоях БФСС в пределах (1–10)±0,2 % вес.

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых непрозрачных образцов, в том числе, полимерных пленок и фрагментов, лакокрасочных покрытий, готовых лекарственных форм в виде таблеток, оптических деталей и полупроводниковых материалов. • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45° • Диаметр пятна фокусировки – 3 мм • Позволяет исследовать объекты произвольной формы и размера • При использовании минипресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)