Поиск

Дефектоскоп позволяет осуществлять сплошной контроль полимерных, эпоксидных и эмалевых покрытий трубопроводов диаметром от 219 до 1420 мм и выборочный контроль полимерных, эпоксидных, эмалевых и битумных покрытий трубопроводов любого диаметра. Дефектоскоп обеспечивает выявление локальных сквозных дефектов изоляционных покрытий трубопроводов с сухой поверхностью. Дефектоскоп позволяет осуществить сплошной контроль В дефектоскопе использован электроискровой метод контроля. Дефектоскоп рассчитан для работы при: - температуре окружающего воздуха, C - от минус 30 до плюс 50; - относительной влажности при температуре +25C, % - 98; - атмосферном давлении, кПа - от 84,0 до 106,7. Технические характеристики. Испытательное напряжение, кВ до 40 Минимальный диаметр выявляемых дефектов, мм 0,6±0,2 Диапазон рабочих температур,°С -30…+50 Электропитание -от встроенной аккумуляторной батареи напряжением 12В -от внешнего источника питания постоянного тока напряжением 12 В Время непрерывной работы, ч 8 Время установления рабочего режима, мин 1 Габаритные размеры, мм, не более: - блока управления и контроля 200 x 158 x 91 - трансформатора высоковольтного 410х ф90 Масса, кг, не более,: - блока управления и контроля 2,5 - трансформатора высоковольтного 1,5 Сигнализация о дефекте световая и звуковая Комплект поставки: Сумка Чемодан Зарядное устройство Заземлитель Блок электронный Магнит Щупы для сплошного контроля- 5шт 0 – 400 мм; 1 – 650 мм; 2 – 735 мм; 3 – 840 мм; 4 – 980 мм. Щупы для локального контроля - 3шт ВТ-1 Трансформатор высоковольтный Штырь Удлинитель щупа Держатель Втулка Ниппель - 4шт комплект документации (паспорт, руководство, калибровка)

Прибор подходит для решения широкого спектра задач в области биологии, медицины, фармацевтики, материаловедения, нано- и биотехнологий. Он является незаменимым инструментом при проведении доклинических исследований на пути внедрения передовых лекарств, при осуществлении неинвазивного мониторинга развития социально-значимых заболеваний, мониторинга эффективности иммуно- и генной терапии, для научных исследований в области регенеративной медицины. В том числе – для in vivo мониторинга роста опухолей, исследований различных заболеваний и воспалений, изучения морфологии органов, фармакокинетики, а также экспрессии генов у животных и растений.

Одно и много пиксельные детекторы размером от 3×3×1.5 до 15×15×7.5 и 20×20×5 мм3, работающие в токовом, счетном и спектральном режимах в диапазоне энергий от 10 кэв до 1.5 мэв. Представляют собой полированные со всех сторон прямоугольные монокристаллы с двумя золотыми электродами. Удельное сопротивление, ρ, от 10в10 омсм до 10в11 омсм. Произведение подвижности на время жизни электронов, µτ, от (4-6)×10в-4 до (1-2)×10в-3. Итоговая стоимость зависит от: объем кристалла (25000\см3) + тип резки + тип нанесения электродов + тип монтажа. Под заказ возможен любой вариант.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения. Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов.

Технические характеристики: Матричный ПЗС, Back-Thinned или Front-Illuminated Диапазон длин волн от 200 до 1100 нм Скорость считывания до 1 МГц Диапазон установки времени накопления от 10 мкс до 7.5 ч Динамический диапазон камеры: не менее 10000

Технические характеристики: Чувствительность: детектирование кремниевого пика третьего порядка Пространственное разрешение: латеральное (XY) < 1 мкм аксиальное (Z) < 2 мкм Минимальный шаг сканирования стола для 2D картирования: 100 нм Видеокамера наблюдения: цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере

Технические характеристики: Получение конфокальных 2D и 3D изображений: сканирование, накопление и сохранение данных. Отображение CARS, Рамановских или люминесцентных спектров. Различные методы калибровки спектров, в том числе с помощью встроенной калибровоч-ной лампы в качестве источника реперных линий. 2-х/ 3-х мерное представление данных. Обработка изображений: Коррекция изображений. Метрическая и статистическая обработка изображений, произвольные сечения. Цифровая фильтрация, изменение размеров и поворот изображения. Обработка спектров: Вычитание широкополосного фона (background correction). Математические операции: сложение, вычитание, деление, произведение и т. д. Сглаживание несколькими способами. Поиск и определение максимумов (пиков) спектральных линий. Режимы сканирования: Point, XY, XZ, YZ и XYZ. Способы сканирования: гальваносканер: 2D скоростные изображения; гальваносканер + Piezo-Z сканер: 3D скоростные изображения; автоматизированный стол: 2D изображения; автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D изображения; гальваносканер + автоматизированный стол: 2D панорамные изображения; гальваносканер + автоматизированный стол + Piezo-Z сканер: 3D панорамные изображения.

Техническая зарактеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп с турелью на 6 микро-объективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого/тёмного поля в отраженном свете и цветной видеокамерой. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Спектрометр: Высокоэффективный спектрометр с фиксированным положением решетки. Исходя из типа измеряемых образцов предлагаются два варианта дифракционной решётки для обеспечения оптимального регистрируемого диапазона и спектрального разрешения. Детектор: Высокочувствительный линейный детектор. Диапазон спектральной чувствительности от 200 до 1100 нм. Количество пикселей: 4096, размер пиксела: 7х200 мкм. Лазер: DPSS лазер с длиной волны 532±0.1 нм, мощность 50 мВт. Опционально: диодный лазер с длиной волны 785±0.1 нм, мощность 130 мВт с оптическим изолятором. Чувствительность: Детектирование кремниевого пика третьего порядка. Разрешение: Пространственное: латеральное (XY) < 1 мкм; аксиальное (Z) < 2 мкм. Видеокамера: Цветная (не менее 5 Мп) с возможностью сохранения изображения на компьютере. Сканирование образца: Опционально. Прецизионный автоматизированный ХУ столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм.

Техническая характеристика: Линейный InGaAs сенсор Диапазон длин волн от 0.9 до 2.55 мкм Скорость считывания до 416 кГц Диапазон установки времени накопления от 1 мс до 7.5 ч Динамический диапазон камеры: не менее 5000 Термоэлектрическое охлаждение фотоприемника

Гель-документирующая система для флуоресцентного анализа агарозных, полиакриламидных гелей и визуализации хемилюминесцентных Western Blot сигналов. Совместима с трансиллюминаторами разных производителей (при наличии их у заказчика), либо поставляется с трансиллюминатором (в т.ч. по выбору заказчика). Возможность манипуляции с образцом внутри светоизолированного объема и в процессе регистрации сигнала камерой.

Устройство УНМ-2000/6000 может также применяться для контроля качества стального проката и сварных швов. Принцип работы средства магнитопорошкового контроля Портативный прибор УНМ-2000/6000 семейства «Манул» представляет собой магнитопорошковый дефектоскоп, обеспечивающий проведение измерений способом приложенного поля (СПП) и способом остаточной намагниченности (СОН) с использованием постоянного, переменного и импульсного тока с заданными параметрами. Внешние намагничивающие устройства, входящие в комплект – соленоиды, электромагниты, контактные устройства для подключения кабелей – позволяют производить продольное, поперечное и циркулярное намагничивание исследуемого объекта. На контролируемую поверхность наносится специальный магнитный порошок, сухой или в виде эмульсии. Неоднородности магнитного поля в местах дефектов приводят к скоплению частиц порошка, таким образом «проявляя» скрытую картину. Особенности конструкции и преимущества порошкового дефектоскопа УНМ-2000/6000: В семействе «Манул» устройство УНМ-2000/6000 способно обеспечивать наибольший ток намагничивания (до 6000 А в импульсном режиме), что позволяет контролировать изделия, имеющие большую массу или размеры, а также, изготовленные из магнитотвердых сплавов; Прибор может быть включён в состав автоматизированных стендов контроля качества: имеются сетевые интерфейсы (LAN, Bluetooth, Wi-Fi) для подключения; микропроцессорное управление обеспечивает хранение и воспроизведение параметров намагничивания и размагничивания, протоколирование результатов контроля, автоматическое размагничивание; Конструкция модульная, допускает внесение изменений для реализации индивидуальных пожеланий заказчика; Полностью соответствует ГОСТ Р 56512-2015, ГОСТ Р 53700-2009 (ИСО 9934-3:2002), ГОСТ Р 50.05.06-2018, ГОСТ Р ИСО 10893-5-2016, ГОСТ ISO 17638-2018 , РД 34.17.102-88, РД-13-05-2006 и иных российских и зарубежных стандартов в части требований, предъявляемым к намагничивающим устройствам и магнитопорошковым дефектоскопам; Одобрено к использованию отраслевыми нормативными документами, в частности, на предприятиях РЖД. Область применения Приборы магнитопорошкового контроля широко применяются в самых различных отраслях промышленности, строительства и транспорта, от сталелитейных и трубопрокатных заводов до организаций, занимающихся эксплуатацией и ремонтом машин, механизмов и транспортных средств. Магнитопорошковые дефектоскопы относятся к средствам неразрушающего контроля и поэтому могут применяться для обнаружения дефектов в изделиях и сооружениях, работающих под давлением, в том числе на предприятиях химической и нефтегазовой промышленности, а также при эксплуатации трубопроводов. В частности, приборы для проведения контроля магнитопорошковым методом, хорошо зарекомендовали себя на предприятиях РЖД и метрополитена, занимающихся эксплуатацией и ремонтом подвижного состава, в том числе для контроля валов, колёс и колёсных пар, редукторов, рессор, сцепных устройств и других нагруженных узлов и деталей. Технические характеристики: Токи намагничивания: Переменный, Импульсный, Выпрямленный (только для соленоида и электромагнита) Погрешность измерения тока намагничивания – не более 10%. Характеристики импульсного тока: Частота следования однополярных импульсов тока при намагничивании и разнополярных импульсов тока при размагничивании – (2±0,2) Гц. Длительность импульсов тока – не менее 1,5 мс. Магнитные характеристики соленоида: Максимальное переменное магнитное поле в центре одиночного соленоида – не менее 100 А/см. Максимальное переменное магнитное поле на оси в центре между двумя соленоидами, расположенными на расстоянии 200мм, - не менее 60 А/см. Максимальное постоянное магнитное поле в центре одиночного соленоида – не менее 80 А/см. Максимальное постоянное магнитное поле на оси в центре между двумя соленоидами, расположенными на расстоянии 200мм, - не менее 50 А/см. Значения токов намагничивания: Максимальный переменный ток намагничивания в размотанном кабеле 6 м × 50 мм2 и на электроконтактах – не менее 2000 А. Максимальный импульсный ток намагничивания в размотанном кабеле 4 м × 10 мм2 и на электроконтактах – не менее 6000 А. Диапазон регулировки тока в соленоидах и электромагните – от 0,5 до 4,5 А. Характеристики электромагнита: Максимальное переменное магнитное поле в воздушном зазоре электромагнита при межполюсном расстоянии: - 140 мм – не менее 75 А/см; - 40 мм – не менее 300 А/см. Максимальное постоянное магнитное поле в воздушном зазоре электромагнита при межполюсном расстоянии: - 140 мм – не менее 100 А/см; - 40 мм – не менее 400 А/см. Режим работы: Режим работы – циклический: намагничивание/пауза. Время намагничивания регулируется в пределах от 1 до 40 с. Время размагничивания регулируется в пределах от 5 до 60 с. Размагничивание деталей производится в автоматическом режиме. Время установления рабочего режима – не более 15 с. Продолжительность непрерывной работы – не менее 8 часов. Параметры электропитания: Питание устройства осуществляется от сети переменного тока напряжением 220 В частотой 50 Гц. Потребляемая от сети мощность – не более 5 кВА. Габаритные характеристики: Габаритные размеры устройства (ш×в×г) – не более 267×245×465 мм. Масса устройства – не более 50 кг. Прочие характеристики: Средняя наработка на отказ – не менее 12500 ч. Среднее время восстановления работоспособности – не более 6 ч. Средний срок службы устройства – не менее 10 лет. соответствие стандартам Полностью соответствует требованиям ГОСТ Р 56512-2015, ГОСТ Р 53700-2009 (ИСО 9934-3:2002), ГОСТ Р 50.05.06-2018, ГОСТ Р ИСО 10893-5-2016, ГОСТ ISO 17638-2018, РД 34.17.102-88 и РД-13-05-2006 в части требований, предъявляемым к намагничивающим устройствам и магнитопорошковым дефектоскопам. Распознавание подключаемой нагрузки Автоматическое распознавание типов подключаемой нагрузки: кабелей, соленоидов и электромагнита Управление током подключаемой нагрузки Позволяет управлять током подключаемых электромагнита переменного/постоянного тока и соленоидов. Комплект поставки: 1 Электроконтакт с кабелем, сечение 50 мм2, длина 3м 2 Кабель соленоида, длиной 3м 3 Кабель соленоида, длиной 0,5м 4 Кабель намагничивающий, сечение 10 мм2, длина 6м 5 Кабель намагничивающий, сечение 50 мм2, длина 6м 6 Соленоид - 2шт 7 Электромагнит ручной 8 Тележка 9 Силовой блок УНМ 2000/6000

Техническая характеристика: Тип, модель (могут быть использованы другие типы инвертированных или прямых микроскопов): инвертированный Nikon Ti-S или прямой Nikon Ni-U Стол: диапазон перемещения точность (1 мм перемещения) XY воспроизводимость минимальный шаг автоматизированный 114 х 75 мм 0.06 мкм ± 1 мкм 0.02 мкм Микрообъективы: 100х NA-0.95 40х NA-0.75 20х NA-0.50 и другие Z-сканер: диапазон перемещения объектива минимальный шаг воспроизводимость пьезосканер 80 мкм 50 нм < 6 нм Видеокамера высокого разрешения: сенсор АЦП цифровая цветная ПЗС-камера 1/2″, 2048 x 1536 пикселей 10 бит, скорость 12 кадров/сек Ввод лазерного излучения: трёхпозиционная автоматизированная турель