Рентгеновский дифрактометр ДСО-2В2М (DSO-2V2M) для уточнения ориентации кристаллов

Аппарат предназначен для анализа фазового состава и структурного состояния поликристаллических объектов различного происхождения.

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н) с вертикальным тета-тета гониометром и горизонтальным положением образца позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-8Т – флагманская модель линейки стационарных рентгеновских дифрактометров АО «ИЦ «Буревестник». Он снабжен высокоточным широкоугольным вертикальным θ-θ гониометром с угловой воспроизводимостью 0,0001° и предназначен главным образом для исследования высокосовершенных кристаллических объектов (монокристаллов, эпитаксиальных пленок) в геометрии высокого разрешения.

Особенностью схемы рентгеновского дифрактометра POWDIX 600 является вертикальная θ-θ оптическая схема Брэгга-Брентано с неподвижным горизонтальным положением образца, что делает работу с порошкообразными материалами, гелями и др. субстанциями вязкой консистенции более практичной и удобной. Высокое разрешение детектора и точное позиционирование гониометра рентгеновского дифрактометра POWDIX 600 позволяют достичь точности лучше, чем +/- 0,02° (2θ) во всем угловом диапазоне. В дифрактометре POWDIX 600 охлаждение ренгеновской трубки производится с помощью встроенной системы, представляющей замкнутый водяной контур, техническое обслуживание которого может производить любой сотрудник лаборатории. Большое разнообразие типов держателей образцов (держатель для массивных образцов, держатель с вращением, бесфоновые кюветы) расширяет функциональные возможности дифрактометра POWDIX 600 и делает прибор неоценимым инструментом в научных исследованиях в области физики твердого тела, материаловедения, химии, геологии и других направлениях науки. Дифрактометр внесен в реестр средств измерений Российской Федерации.

Характеристики температурной камеры ТК-1200 для дифракционных исследований: Материал корпуса - Нержавеющая сталь Материал рентгенпрозрачных окон - ПМА, графит Рентгенпрозрачность окон (Cu Kα) ~63,5% Материал кюветы - Оксид алюминия Глубина кюветы - 0.2, 0.5, 0.9 мм Вращение образца/Колебание - от 0° до 360° со скоростью от 0°/с до 180°/с Диапазон рабочих температур - от +25°С до + 1200°С Точность определения температуры ±2°С Точность поддержания температуры ±0,5°С Угол дифракции, 2θ - от -1° до 152° Возможность работы в вакууме, давление <10^(-6) бар (вакуумное оборудование поставляется отдельно). Конструкция ТК-1200 позволяет осуществлять контролируемое вращение образца вокруг собственной оси на 360° в плоскости образца, тем самым давая возможность изучить анизотропию внутренних напряжений. Вращение (колебание) самого образца внутри температурной камеры осуществляется за счет шагового двигателя. Опционально возможна установка как на θ-θ гониометр, так и на θ-2θ (горизонтально и вертикально). Для регистрации спектров возможно использование таких детекторов как сцинтиляционный, полупроводниковый, позиционно-чувствительный. Опционально возможно исполнение исполнение данного устройства для работы при различных температурах, механических и электрических воздействиях в разных средах. Возможно изготовление температурных камер в различных исполнениях: ТК-500 (температурный диапазон +25 – +500 °С), ТК-600 (температурный диапазон -160 – +600 °С), ТК-900 (температурный диапазон +25 – +900 °С) , ТК-1500 (температурный диапазон +25 – +1500 °С), а также с различными конструкциями держателя для Ваших образцов.

Двухкристальный рентгеновский дифрактометр ДСО-1 (DSO-1) предназначен для автоматического измерения ряда структурных характеристик полупроводниковых пластин: структурного совершенства образцов по кривым качания, параметров решëтки, профиля деформации приповерхностной структуры и др. Он позволяет также определять ориентацию кристаллов.

Автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2-01 (рис.1) предназначен для автоматического измерения брэгговского угла заданного отражения от монокристалла. Дифрактометр позволяет проводить измерения на субмиллиметровых образцах произвольной формы, в частности, на кристаллических измерителях максимальной температуры (ИМТК).

Рентгеновский дифрактометр ДСО-2Г (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации монокристаллов кремния относительно поверхности кристалла, для полуавтоматического уточнения разориентации геометрической и кристаллографической осей, а также для ручного определения и автоматического уточнения ориентации базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционных отражений, получаемых при вращении маломощного источника рентгеновского излучения около анализируемой поверхности неподвижного монокристалла. При этом пространственное положение анализируемой поверхности определяется с помощью лазерного датчика расстояния.

Двухкристальный автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2П (DSO-2P) (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации монокристаллических пластин относительно поверхности кристалла, включая уточнение направления базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционной картины, получаемой при вращении источника рентгеновского излучения вокруг брэгговской оси, лежащей в плоскости поверхности образца.

Приставка ПДП-1 с пятью степенями свободы к рентгеновскому дифрактометру ДРОН-3(4, 6, УМ1) предназначена для автоматического картирования монокристаллических пластин и эпитаксиальных структур по дифракционным характеристикам двухкристальных кривых качания. Приставка ПДП-1 включает в себя модернизацию гониометра ГУР-8 или ГУР-9 (два шаговых двигателя, два угловых датчика и новый редуктор), новую стойку рентгеновской трубки, новую стойку коллиматора (монохроматора), оригинальный сцинтилляционный детектор на новом кронштейне, специализированный компактный блок управления и оригинальное программное обеспечение.

Автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2В2 (DSO-2V2) (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации объëмных монокристаллов и пластин относительно поверхности кристалла, включая определение направления базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционной картины, получаемой при вращении источника рентгеновского излучения вокруг брэгговской оси, лежащей в плоскости поверхности образца.

МД-10 - рентгеновский дифрактометр, обеспечивающий неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ. Метод основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Измеряя углы и интенсивности дифракционных пиков можно определить параметры кристаллической решетки, провести качественный и количественный фазовый состав вещества, уточнить модификацию (фазу) конкретного соединения, например по базе данных типа JCPDS-ICDD.