Приставка ПДП-1 для двухкристального картирования монокристаллических пластин

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-8Т – флагманская модель линейки стационарных рентгеновских дифрактометров АО «ИЦ «Буревестник». Он снабжен высокоточным широкоугольным вертикальным θ-θ гониометром с угловой воспроизводимостью 0,0001° и предназначен главным образом для исследования высокосовершенных кристаллических объектов (монокристаллов, эпитаксиальных пленок) в геометрии высокого разрешения.

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н) с вертикальным тета-тета гониометром и горизонтальным положением образца позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера.

Двухкристальный автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2П (DSO-2P) (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации монокристаллических пластин относительно поверхности кристалла, включая уточнение направления базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционной картины, получаемой при вращении источника рентгеновского излучения вокруг брэгговской оси, лежащей в плоскости поверхности образца.

Метод измерения основан на анализе дифракционной картины, получаемой при вращении источника рентгеновского излучения вокруг брэгговской оси, лежащей в плоскости поверхности образца.

Аппарат предназначен для анализа фазового состава и структурного состояния поликристаллических объектов различного происхождения.

МД-10 - рентгеновский дифрактометр, обеспечивающий неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ. Метод основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Измеряя углы и интенсивности дифракционных пиков можно определить параметры кристаллической решетки, провести качественный и количественный фазовый состав вещества, уточнить модификацию (фазу) конкретного соединения, например по базе данных типа JCPDS-ICDD.

Двухкристальный рентгеновский дифрактометр ДСО-1 (DSO-1) предназначен для автоматического измерения ряда структурных характеристик полупроводниковых пластин: структурного совершенства образцов по кривым качания, параметров решëтки, профиля деформации приповерхностной структуры и др. Он позволяет также определять ориентацию кристаллов.

Автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2В2 (DSO-2V2) (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации объëмных монокристаллов и пластин относительно поверхности кристалла, включая определение направления базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционной картины, получаемой при вращении источника рентгеновского излучения вокруг брэгговской оси, лежащей в плоскости поверхности образца.

Особенностью схемы рентгеновского дифрактометра POWDIX 600 является вертикальная θ-θ оптическая схема Брэгга-Брентано с неподвижным горизонтальным положением образца, что делает работу с порошкообразными материалами, гелями и др. субстанциями вязкой консистенции более практичной и удобной. Высокое разрешение детектора и точное позиционирование гониометра рентгеновского дифрактометра POWDIX 600 позволяют достичь точности лучше, чем +/- 0,02° (2θ) во всем угловом диапазоне. В дифрактометре POWDIX 600 охлаждение ренгеновской трубки производится с помощью встроенной системы, представляющей замкнутый водяной контур, техническое обслуживание которого может производить любой сотрудник лаборатории. Большое разнообразие типов держателей образцов (держатель для массивных образцов, держатель с вращением, бесфоновые кюветы) расширяет функциональные возможности дифрактометра POWDIX 600 и делает прибор неоценимым инструментом в научных исследованиях в области физики твердого тела, материаловедения, химии, геологии и других направлениях науки. Дифрактометр внесен в реестр средств измерений Российской Федерации.

Рентгеновский дифрактометр ДСО-2Г (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации монокристаллов кремния относительно поверхности кристалла, для полуавтоматического уточнения разориентации геометрической и кристаллографической осей, а также для ручного определения и автоматического уточнения ориентации базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционных отражений, получаемых при вращении маломощного источника рентгеновского излучения около анализируемой поверхности неподвижного монокристалла. При этом пространственное положение анализируемой поверхности определяется с помощью лазерного датчика расстояния.