ИКАППИК

Высокоскоростная сканирующая микроскопия ионной проводимости Бесконтактное исследование живых клеток в естественной физиологической среде Измерение механических свойств в широком диапазоне жесткостей Patch-clamp измерения с нанометровой локализацией Комбинация с оптическими методиками

Лазерный модуль (473 нм и 635 нм) Детекторный модуль (для 473 нм и 635 нм) Дополнительный канал для Piezo Control Sustem Объектив Пьезо Настройка конфокального модуля на другую длину волны.

Сканирующий ион-проводящий микроскоп (СИПМ) Универсальный контроллер ICAPPIC с двухканальным усилителем ионного тока ICAPPIC Z-столик с ручным позиционированием нанопипетки по осям XY ICAPPIC XY-столик с ручным грубым позиционированием образца по осям XY ICAPPIC Стенд для столиков XY и Z с экраном Фарадея ICAPPIC 3-канальная система управления пьезо. Активные каналы: X, Y, Z Моторизация Z-ступени ICAPPIC (опционально) Моторизация XY-ступени ICAPPIC (опционально) Высокоскоростной дополнительный модуль для Z-столика и дополнительный канал без обратной связи для системы управления пьезо (опционально) Надстройка для наномеханического картирования (опционально) Инвертированный оптический микроскоп Дополнение для patch-clamp.