Installation à arc électrique pour l'analyse d'échantillons de poudre par méthode d'injection par injection "Potok"

L'unité de commande électronique EG 5000 est la Dernière modification de la série de contrôleurs EG. Conçu pour contrôler les microscopes à sonde à balayage, les dispositifs de positionnement nano, toutes les modifications. Les principales caractéristiques distinctives sont: Utilisation du puissant FPGA Cyclone V, permettant un traitement plus rapide des données et des signaux de commande. Un PC intégré avec un système d'exploitation Linux installé PERMET d'unifier le système et d'éviter les complications lors de l'installation et de la mise à jour du LOGICIEL.

Conçu pour contrôler le fonctionnement des positionneurs piézoélectriques, tels que la table de balayage Ratis et le mouvement à axe unique Vectis., ou un autre dispositif piézo-électrique. Caractéristique générale: Unité centrale de traitement 32 bits; RISC Interface avec PC USB 2.0 Autres interfaces RS 232, RS485, SYNC I / O Sorties haute tension Tension -10..150 V Bruit < 5 ppm Nombre de canaux 3 Bit DAC (convertisseurs numérique-analogique)18 bits

Le scanner est un corps métallique monolithique (en alliage de haute qualité, généralement en aluminium), dans lequel l'électroérosion et d'autres méthodes d'usinage de précision sont formés des canaux pour les actuateurs piézocéramiques, des éléments mobiles de la table, etc. cette conception offre une excellente linéarité et une planéité de déplacement, contrairement aux scanners classiques basés sur des piézotubes, dont la surface de balayage est une sphère. En outre, les scanners planaires parallèles ont une résistance mécanique élevée par rapport aux piézotubes fragiles.

La caméra vidéo et les servos des porte-électrodes intégrés au trépied sont conçus pour maintenir automatiquement l'espace interélectrode pendant le processus d'évaporation de l'échantillon grâce à l'analyse informatique en temps réel de l'image de décharge d'arc, ainsi qu'au réglage initial de cet espace par rapport à l'axe optique. Les porte-électrodes sont refroidis à l'eau à l'aide d'une unité de refroidissement à cycle fermé.

Le transmetteur piézoélectrique à axe unique est conçu pour déplacer et positionner différents dispositifs le long d'un axe. En particulier, pour déplacer les lentilles le long de l'axe optique afin de changer la position de mise au point par rapport à la surface des échantillons ou des objets dans le volume de l'échantillon. En outre, ces progrès sont un élément essentiel des microscopes confocaux 3D. En combinaison avec les mouvements à deux coordonnées travaillant dans le plan XY, de tels systèmes permettent d'obtenir une image confocale tridimensionnelle complète de divers objets.

Atomiseur télécommandé d'échantillons de poudre avec changement automatique d'échantillon de type tourelle avec excitation d'arc du spectre. Il se compose d'un trépied automatique "Carousel" pour l'analyse spectrale d'arc et d'un générateur d'analyse spectrale "Ball Lightning"-40A, entièrement compatible avec le système expert logiciel ATOM et l'analyseur MAES.

Un dispositif pour préparer des échantillons de métal pour l'analyse spectrale. Pour préparer des échantillons de métal, du papier de verre ou du papier d'une taille donnée et d'un matériau abrasif est utilisé.Vitesse de rotation 1500 tr/min. L'arrêt rapide du moteur est assuré par une unité de commande automatique. Il existe une version dans un corps en matériaux composites avec deux disques, chacun pouvant avoir son propre type d'abrasif installé.

Le plasmatron est conçu pour l'analyse spectrale par émission atomique directe d'échantillons de poudre. Les atomes sont excités dans un plasma d’arc d’argon à courant continu. Les faibles influences de la matrice et les faibles limites de détection permettent d'utiliser cette source d'excitation pour l'analyse d'une variété d'échantillons, à la fois avec des matrices minérales et organiques.

Le générateur est conçu pour produire un arc électrique et une décharge par étincelle dans les installations d'analyse spectrale d'émission atomique. Le générateur est conçu spécifiquement pour être utilisé dans l'analyse spectrale d'échantillons de composition complexe pour la détermination simultanée des impuretés et des composants d'alliage dans une large gamme de concentrations.

La source laser est conçue pour exciter les spectres d'émission atomique lors de l'analyse spectrale de haute qualité de roches solides - métaux, minéraux, verres et autres.
La source est basée sur un laser YAG:Nd à deux impulsions avec commutation Q électro-optique, fonctionnant à une longueur d'onde principale de 1064 nm. La durée de chaque impulsion ne dépasse pas 10 ns et le délai entre elles est réglable de 0 à 60 ms.
La capacité d'un faisceau laser à se concentrer sur une zone de 300 à 1000 microns permet de réaliser une microanalyse d'inclusions, d'effectuer un balayage bidimensionnel d'une surface ou d'analyser localement des échantillons sans pratiquement aucun dommage à la surface. Un avantage significatif d’une source laser est sa rapidité et l’absence de préparation spéciale d’échantillons pour une large gamme de matériaux conducteurs et non conducteurs.
L'observation visuelle et le pointage du faisceau sur l'échantillon sont effectués à l'aide d'un microscope stéréoscopique intégré au système, ainsi que d'une caméra vidéo numérique haute résolution avec transfert d'image vers un ordinateur.
Le déplacement de la platine de l'instrument avec un échantillon fixe est possible à la fois manuellement pour le réglage et à l'aide de moteurs pas à pas en deux coordonnées pendant l'analyse, ce qui permet un balayage de la surface et un enregistrement du spectre lié à une image vidéo. L'installation peut être utilisée avec tous les appareils spectraux - "Grand", "Aspect", "Express", "Kolibri-2", STE-1, DFS-458, MFS-8, PGS-2 et autres. La source laser est conçue pour exciter les spectres d'émission atomique lors de l'analyse spectrale de haute qualité de roches solides - métaux, minéraux, verres et autres.
La source est basée sur un laser YAG:Nd à deux impulsions avec commutation Q électro-optique, fonctionnant à une longueur d'onde principale de 1064 nm. La durée de chaque impulsion ne dépasse pas 10 ns et le délai entre elles est réglable de 0 à 60 mks.
La capacité d'un faisceau laser à se concentrer sur une zone de 300 à 1000 microns permet de réaliser une microanalyse d'inclusions, d'effectuer un balayage bidimensionnel d'une surface ou d'analyser localement des échantillons sans pratiquement aucun dommage à la surface. Un avantage significatif d’une source laser est sa rapidité et l’absence de préparation spéciale d’échantillons pour une large gamme de matériaux conducteurs et non conducteurs.
L'observation visuelle et le pointage du faisceau sur l'échantillon sont effectués à l'aide d'un microscope stéréoscopique intégré au système, ainsi que d'une caméra vidéo numérique haute résolution avec transfert d'image vers un ordinateur.
Le déplacement de la platine de l'instrument avec un échantillon fixe est possible à la fois manuellement pour le réglage et à l'aide de moteurs pas à pas en deux coordonnées pendant l'analyse, ce qui permet un balayage de la surface et un enregistrement du spectre lié à une image vidéo. L'installation peut être utilisée avec tous les appareils spectraux - "Grand", "Aspect", "Express", "Kolibri-2", STE-1, DFS-458, MFS-8, PGS-2 et autres.

En collaboration avec l'instrument optique, le préfixe FEP-10 est utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de divers matériaux sur la base des caractéristiques de graduation construites sur des échantillons standard. Caractéristiques techniques: Type de photodétecteurs récepteurs CMOS linéaires à plage dynamique élevée. Nombre de photodétecteurs 3...12 Dimensions de l'élément photosensible (Pixel) , µm. 7x200 Nombre de pixels sur une règle CCD 4096 Longueur du spectre enregistré par une règle CCD, MM. 29 Longueur totale du spectre enregistré, mm. jusqu'à 340

L'analyseur MAES est un moyen moderne de mesure des intensités des raies spectrales et de calcul ultérieur des concentrations des éléments déterminés.