Plasmatron à arc double jet "Torche"

Le spectromètre est conçu pour effectuer une analyse spectrale quantitative et qualitative de diverses substances et matériaux (poudres, métaux, solutions) dans les usines et les laboratoires de recherche. Le spectromètre est compact en raison de la disposition verticale du système optique Paschen-Runge. Il se compose de deux analyseurs MAES avec 10 rangées de photodiodes installées dans un cercle d'un rayon de 520 mm, d'un réseau de diffraction concave non classique, d'une table spéciale avec un ordinateur intégré et d'une source d'excitation spectrale.

Ce spectromètre de petite taille est un excellent outil pour résoudre les problèmes de contrôle d'entrée et de démontage des métaux et des alliages, et peut également être utilisé dans le processus éducatif dans les établissements d'enseignement supérieur et secondaire. Caractéristiques techniques: Système optique basé sur un réseau concave non classique à champ plat, avec purge à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l/min). Gamme spectrale 178-410 nm. Récepteurs d'émission 4 détecteurs linéaires multi-éléments. Gamme de concentrations mesurées 0,01% - dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 5%...30% Temps d'analyse 10...40 s Poids 24 kg Dimensions 625x420x260 mm Exigences d'alimentation tension 220±22 V, 50 Hz, monophasé avec mise à la terre. Puissance ne dépassant pas 1 kVA Exigences relatives à l'argon teneur en argon au moins 99,998%

Caractéristiques techniques Volume de la chambre de travail, litres 50 Température maximale, °C 1250 Dimensions de la chambre de travail (longueur x largeur x hauteur), mm 500x400x250 Puissance installée, kW 12,0 Paramètres du réseau d'alimentation 380 V / 50 Hz / 3 phases Chargement vertical Poids, kg 260

Machine pour la préparation des électrodes en graphite cratère-2. Dans la machine, deux types de coupeurs peuvent être installés simultanément, par exemple sur un cratère et un cône.

Pendant le fonctionnement, le générateur de vapeur d'échantillons métalliques» Aspect " fournit: gestion de tous les instruments du complexe d'analyse spectrale des émissions atomiques - analyseur MAES, générateur "boule de Foudre", inclusion de dispositifs externes; une décharge unipolaire d'étincelle est excitée entre la contre-électrode de tungstène et la surface des échantillons étudiés-des lingots de métaux précieux ou d'autres échantillons métalliques; l'intensité de l'érosion de la surface de l'échantillon est régulée en modifiant la fréquence et la puissance des impulsions d'étincelles générées par un générateur d'étincelles semi-conducteur contrôlé par ordinateur; la stabilité et la qualité de la recherche sont contrôlées par un spectromètre intégré via une fibre optique; le flux réglable d'argon de haute pureté traverse la zone de décharge des étincelles dans la chambre de décharge scellée, capte les particules de l'échantillon obtenues par l'érosion des étincelles de la surface et les transporte sous forme d'aérosol dans la zone du mélangeur / pulvérisateur du brûleur du plasma à couplage inductif du spectromètre à émission optique; le débit d'argon de haute pureté est alimenté, contrôlé et ajusté par un régulateur de débit massique contrôlé par microprocesseur dans la plage de 0,5 à 3 l/min stabilité de l'alimentation 0,01 l/min.

Caractéristiques techniques: Gamme de concentrations mesurées 0,005% - dizaines % Gamme spectrale 178-410 nm Récepteurs d'émission de 4 détecteurs multiéléments Erreur relative (en fonction de la concentration) 1%...20% Temps d'analyse 10...40 s Exigences d'argon 99,998% Alimentation Secteur 2208 50 Hz, batterie Consommation électrique en mode analyse dot kW Poids de la console TG Poids du module optique 2.5 kg

Le complexe d'émission atomique Grand Potok est conçu pour la détermination expresse de la composition d'échantillons de poudres d'origine naturelle et industrielle ; il comprend un spectromètre Grand, une installation Potok et des équipements auxiliaires pour la préparation des échantillons.

Les spectromètres sous vide sont conçus pour l'analyse express des alliages à base de fer, de cuivre, d'aluminium et d'autres métaux dans les usines et les laboratoires de recherche, y compris la détermination des éléments qui ont des lignes analytiques dans la région ultraviolette sous vide (VUV) (par exemple, S, P et C dans les aciers).

Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.

Les spectromètres sous vide sont conçus pour l'analyse express des alliages à base de fer, de cuivre, d'aluminium et d'autres métaux dans les usines et les laboratoires de recherche, y compris la détermination des éléments qui ont des lignes analytiques dans la région ultraviolette sous vide (VUV) (par exemple, S, P et C dans les aciers).

Le spectromètre est conçu pour mesurer les intensités des lignes analytiques des éléments chimiques et, en les recalculant, déterminer la concentration massique des éléments de P(15) à U(92) contenus dans un échantillon analysé. Le processus d'analyse, depuis l'ensemble de données et leur traitement jusqu'à l'obtention des résultats sous la forme d'un tableau des concentrations des éléments définis, est automatisé et exécuté à l'aide d'un ordinateur personnel. Le spectromètre peut être utilisé dans divers domaines de la science et de la technologie (écologie, biologie, médecine, agriculture, industrie alimentaire, géologie, industrie minière, géophysique, surveillance sanitaire et épidémiologique, etc.).

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche