Spectromètre à vide Favorit

Le principal avantage d'un spectromètre mobile est la possibilité de mesurer la composition des alliages non seulement en laboratoire sur des échantillons spécialement préparés, mais également directement dans un atelier ou un entrepôt sans couper le produit ou la pièce.

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la méthode à dispersion d'énergie (EDX). Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres.À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes,il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Le principe de fonctionnement du spectromètre est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation pré-construite, qui est la dépendance du contenu de l'élément à déterminer sur l'intensité mesurée.

Caractéristiques techniques: Système optique et distance phonique schéma optique de pashen-Runge avec le cercle de Rowland 500mm Polychromateur soufflé à l'argon (débit d'argon d'environ 0,05 l / min) 175-425 nm avec canal supplémentaire Gamme spectrale: sodium 589 nm (sur demande spéciale, l'extension de la gamme peut être comprise entre 175 et 850 nm) lotive soufflé par l'argon. Non-construction, il Existe des adaptateurs spéciaux pour l'analyse des barres et des fils Capteur (trépied à distance)sur demande poids du capteur à distance 1,2 ng, longueur de câble 2,5 m Trépied aérien en option sur commande spéciale Source d'excitation générateur SPARK-500 Conditions de fonctionnement température 15...30°C, humidité relative < 80% Exigences d'alimentation puissance 1 NVA, tension 220-22V 50HZ, monophasé avec mise à la terre Exigences de pureté de 99,998% d'argon. Le spectromètre dispose d'un filtre supplémentaire- Noah nettoie l'argon. Le cas échéant, le numéro de Livraison peut être allumé stand de nettoyage argon SOAR-1 Dimensions, mm (longueur, largeur, hauteur) 810x525 x 975 - version au sol, 810x525 x 430 - version de bureau Poids, kg. 80-version de plancher, 50-version de table. La plage de concentration mesurée est de 0,0001% ... dizaines % Erreur relative (en fonction de la concentration) 0,5%...5% Temps d'analyse 10...40 sept.

Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.). microsocopies). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Caractéristiques techniques: Gamme de concentrations mesurées 0,005% - dizaines % Gamme spectrale 178-410 nm Récepteurs d'émission de 4 détecteurs multiéléments Erreur relative (en fonction de la concentration) 1%...20% Temps d'analyse 10...40 s Exigences d'argon 99,998% Alimentation Secteur 2208 50 Hz, batterie Consommation électrique en mode analyse dot kW Poids de la console TG Poids du module optique 2.5 kg

Le diffractomètre à rayons x DRON-8T est le modèle phare de la gamme de diffractomètres à rayons x stationnaires de JSC petrevestnik. Il est équipé d'un goniomètre vertical grand angle de haute précision avec une reproductibilité angulaire de 0,0001° et est principalement destiné à l'étude d'objets cristallins hautement perfectionnés (monocristaux, films épitaxiaux) en géométrie haute résolution.

Les spectromètres sous vide sont conçus pour l'analyse express des alliages à base de fer, de cuivre, d'aluminium et d'autres métaux dans les usines et les laboratoires de recherche, y compris la détermination des éléments qui ont des lignes analytiques dans la région ultraviolette sous vide (VUV) (par exemple, S, P et C dans les aciers).

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. Le principe de fonctionnement du spectromètre est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation pré-construite, qui est la dépendance du contenu de l'élément à déterminer sur l'intensité mesurée. Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E-C combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la dispersion d'énergie (EDX), ainsi que l'échantillonnage adapté à l'analyse d'images de grande taille. La collimation du rayonnement primaire du tube à rayons x et la conception spéciale de l'alimentation en échantillons permettent d'analyser l'échantillon sur une surface de 1 cm2 par incréments de 1 mm et d'étudier ainsi la distribution des éléments sur la surface. Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes, il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Avec l'aide de cette modification du spectromètre, des examens médico-légaux et douaniers, des examens médico-légaux et médico-légaux, ainsi que des examens artistiques sont effectués.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur U permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).