EVRAZSAMP ESC Prélèvement d'échantillons à faible teneur en carbone

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.

Usage: Échantillonnage pour l'analyse chimique, spectrale, etc. du métal fondu Applications: convertisseurs d'oxygène, fours à arc électrique, fours à induction, aspirateurs, godets en acier, godets de remplissage, etc. Type de sonde de prélèvement: avec un moulage - en forme d'ovale, cercle Plage de température de fonctionnement (selon le type de sonde): 1460°C à 2020°C Temps de sélection: 3 à 5 sec Longueur du tube: 100 à 1500mm (d'autres longueurs sont disponibles sur demande) Bouchon de laitier: Acier, carton, aluminium Désoxydant: sans désoxydant, aluminium, zirconium, titane

Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Piezostolic à balayage plan parallèle. Le dispositif est un corps métallique monolithique (en alliage de haute qualité, généralement en aluminium), dans lequel l'électroérosion et d'autres méthodes d'usinage de précision sont formés des canaux pour les actuateurs piézocéramiques, des éléments mobiles de la table, etc. cette conception offre une excellente linéarité et une planéité du mouvement, contrairement aux scanners classiques basés sur des piézotubes, dont la surface de balayage est une sphère. En outre, les scanners à plan parallèle présentent une résistance mécanique élevée par rapport aux piézotubes fragiles.

Microscope à sonde à balayage (SPM) équipé de porte-sondes spécialisés et du matériel optique nécessaire pour effectuer des études en champ proche. La microscopie optique en champ proche est basée sur l'utilisation des propriétés du champ proche (evanescent), ce qui permet de surmonter la limite de diffraction de la microscopie optique classique. Tous les microscopes à champ proche comprennent plusieurs éléments de conception de base: sonde; système de déplacement de la sonde par rapport à la surface de l'échantillon selon les 2ème (x-Y) ou 3ème (x-y-Z) coordonnées (système de balayage); système d'enregistrement; système optique.

Microscope À Sonde À Balayage Automatisé Certus Standard V est une version améliorée de la série SPM Standard. La principale différence qualitative est l'automatisation complète du microscope, l'utilisation de composants mécaniques plus avancés, la présence d'un scanner plus avancé pour numériser l'échantillon, la possibilité de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.

Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Visualisation et mesure des grains et des défauts de la structure des matériaux, résolution des atomes (prix Nobel 1986), remplacement des microscopes métallographiques et électroniques Augmentation: de X2 mille à X10 millions. Plage de mesure: 0.2 nm à 30 µm Tous les modes de base (STM, contact et vibro-AFM), et plus de 25 modes supplémentaires.

Spectromètre Raman confocal à balayage avec option SPM Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé à la fois dans les laboratoires industriels et dans les universités de recherche.

Le spectromètre est conçu pour mesurer les intensités des lignes analytiques des éléments chimiques et, en les recalculant, déterminer la concentration massique des éléments de P(15) à U(92) contenus dans un échantillon analysé. Le processus d'analyse, depuis l'ensemble de données et leur traitement jusqu'à l'obtention des résultats sous la forme d'un tableau des concentrations des éléments définis, est automatisé et exécuté à l'aide d'un ordinateur personnel. Le spectromètre peut être utilisé dans divers domaines de la science et de la technologie (écologie, biologie, médecine, agriculture, industrie alimentaire, géologie, industrie minière, géophysique, surveillance sanitaire et épidémiologique, etc.).

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur U permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Conçu pour effectuer des études complètes des propriétés de surface par microscopie optique, spectroscopie et microscopie à sonde à balayage. Il permet d'obtenir des spectres complets de diffusion Raman et / ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM. La conception du complexe Centaur I HR permet de travailler à la fois avec des méthodes séparées (par exemple, avec la microscopie à force atomique) et de combiner des méthodes (ASM-Raman, laser confocal et ASM).

Microscope à sonde à balayage (SPM) d'entrée de gamme La numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Light sur des microscopes optiques traditionnels (directs ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers des modifications

Microscope à sonde à balayage (SPM), combiné avec un microscope optique direct et inversé de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; Microscope optique inversé (Olympus IX 71 de base) pour l'affichage d'un objet d'étude et le guidage de la sonde sur l'objet d'étude ou le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.