تقسیم کننده نمونه DPTS-100

مشخصات فنی: فاصله کانونی: 200 میلیمتر باز شدن نسبی: 1/3. 6 وضوح طیف: 0.11 نانومتر (FEU) ، 0.12 نانومتر (دوربین دیجیتال (12 میکرومتر پیکسل)) پراکندگی خطی معکوس: 4.12 nm / mm یکی از ویژگی های متمایز طیف سنج تک رنگ MS200 بهترین دیافراگم است.

کیفیت نمایشگر نهایی با استفاده از جداسازی صوتی و ارتعاش داخلی ، تثبیت حرارتی ، بهترین حساسیت صنعت در سیستم ثبت نوری و طراحی منحصر به فرد سیستم اسکن پروب تضمین می شود که امکان دستیابی به وضوح اتمی در اندازه گیری های معمول را فراهم می کند. در پیکربندی اساسی ، 50+ تکنیک AFM در دسترس است ، از جمله روش هیبریدی ، که اجازه می دهد تا تمام مطالعات نانومکانیکی ، الکتریکی و مغناطیسی پیشرفته را انجام دهد. الگوریتم هوشمند Scantronictm برای بهینه سازی پارامترهای اسکن با یک کلیک ماوس ، اجازه می دهد تا اندازه گیری ارتفاع کامل با استفاده از روش مدولاسیون دامنه ، صرف نظر از تجربه اپراتور. بررسی خودکار چند نمونه با استفاده از یک رابط کاربری ساده برای ایجاد یک سناریوی اسکن نقطه به نقطه و یک پایگاه داده برای تصاویر ذخیره شده به دست آمده. کنترل نمونه ها با ابعاد تا 200×200 میلیمتر و ضخامت تا 40 میلیمتر در هر نقطه از سطح با دقت موقعیت 1 میکرون. گزینه های سفارشی سازی گسترده: نصب تجهیزات نوری اضافی ، توسعه دارندگان نمونه تخصصی ، ترکیب با سیستم حمل و نقل ، اتوماسیون اندازه گیری ها و تجزیه و تحلیل داده ها مطابق با نیازهای مشتری.

NanoEducator II ، علیرغم فشرده سازی و سهولت کار ، از تمام تکنیک های اساسی نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل اسکن پشتیبانی می کند ، بنابراین می توان از آن برای هر اندازه گیری و آزمایش معمول AFM و STM در تحقیقات علمی استفاده کرد. به عنوان مثال ، نتایج برخی از آزمایشات در کاربردهای مختلف علمی نشان داده شده است: تحقیق سازه های اتمی بررسی نانوساختارهای فلزی بررسی ساختارهای مغناطیسی تحقیق در مورد اجسام پلیمری تحقیق در مورد اجسام بیولوژیکی تحقیق در مورد نانومواد کربن

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) مجهز به نگهدارنده های سنج تخصصی و تجهیزات نوری لازم برای انجام تحقیقات با استفاده از اثر نزدیک میدان. میکروسکوپ نوری نزدیک میدان بر اساس استفاده از خواص میدان نزدیک (evanescent) است که امکان غلبه بر حد پراش میکروسکوپ نوری کلاسیک را فراهم می کند. تمام میکروسکوپ های نزدیک میدان شامل چندین عنصر طراحی اساسی هستند: یک کاوشگر; سیستم حرکت سنج نسبت به سطح نمونه در امتداد مختصات 2 (X-Y) یا 3 (X-Y-Z) (سیستم اسکن); سامانه ثبت نام; سیستم نوری

Nt-MDT S. I. NTEGRA II را معرفی می کند ، نسل دوم محبوب ترین AFM جهان. با ویژگی های اضافی و توابع پیشرفته ، سطح بی سابقه ای از مدولاریت و انعطاف پذیری را فراهم می کند و به یک شریک واقعی محقق تبدیل می شود. هوشمند ، سریع ، قابل اعتماد ، دقیق و بدون شک آسان برای استفاده. برای از بین بردن تأثیر یک محیط پر سر و صدا ، NTEGRA II در یک کابینت استاندارد عرضه می شود که کنترل دما ، جداسازی صوتی و ارتعاش را فراهم می کند. این ترکیب ماهیت واقعی NTEGRA II را به عنوان پایدارترین AFM در جهان نشان می دهد و باعث کاهش دمای کمتر از 0.2 نانومتر در دقیقه می شود.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این ضخیم کننده برای ضخیم کردن سیستم تعلیق با تراکم تا 5 گرم در سانتی متر مکعب در شرایط آزمایشگاهی طراحی شده است. ویژگی های فنی 55SG بهره وری ، کیلوگرم در ساعت 0.5..5 قطر مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 700 ارتفاع مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 430 قدرت درایو ، kW 0.12 سرعت سکته مغزی ، rpm 0.28-1 ابعاد کلی ، میلی متر طول 780 عرض 710 ارتفاع 1500 وزن ، کیلوگرم 110

مشخصات فنی: فاصله کانونی (خروجی): 350 میلیمتر دیافراگم نسبی (ورودی): 1/3. 8 پراکندگی خطی معکوس: 2.37 nm / mm

فیلتر آزمایشگاهی برای فیلتراسیون سیستم تعلیق با تراکم تا 5 گرم در سانتی متر مکعب در شرایط آزمایشگاهی در حالت دوره ای طراحی شده است. ویژگی های فنی 57 فوت حداکثر فشار هوای فشرده مورد استفاده ، kg / cm2 6 تعداد لیوان فیلتر قابل تعویض 1 حجم عینک ، l 4 ابعاد کلی ، میلی متر طول 695 عرض 395 ارتفاع 765 وزن ، کیلوگرم 42

ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت دستاوردهای اپتو الکترونیک و 25 سال تجربه شرکت در زمینه ابزار طیف و لیزر. ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت

مشخصات فنی: حساسیت: تشخیص قله سیلیکون درجه سوم وضوح فضایی: جانبی (XY) < 1 μm محوری (Z) < 2 μm حداقل مرحله اسکن جدول نقشه برداری 2 بعدی: 100 نانومتر دوربین مداربسته تصویری: رنگی (حداقل 5 مگاپیکسل) با قابلیت ذخیره تصاویر در کامپیوتر

ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

"Inspectre" Mixsplitter® یک ابزار رامان بسیار کارآمد برای اسکن خودکار و تشخیص عناصر مخلوط پودر ، تعلیق و تعلیق با دقت تا 1 ٪ است. در نتیجه اسکن ، کاربر اطلاعاتی در مورد اجزای مخلوط و درصد آنها دریافت می کند. Mixsplitter" Inspector "بر اساس میکروسکوپ Olympus CX21 و تحلیلگر اکسپرس" Inspector " r532 قابل حمل رامان توسعه یافته است. این سیستم مجهز به یک اسلاید موتوری برای اسکن سه مختصات نمونه است. نرم افزار حرفه ای به شما اجازه می دهد تا به طور خودکار اندازه گیری های طیف را با اسکن گام به گام نمونه انجام دهید ، و همچنین مواد ناشناخته را شناسایی کنید و نتایج تجزیه و تحلیل داده های آماری را تولید کنید. در حالی که روش های پیچیده کروماتوگرافی/طیف سنجی جرم کروماتو اجازه تجزیه و تحلیل مخلوط ها را فقط در شرایط آزمایشگاهی می دهد و نیاز به زمان و منابع قابل توجهی دارد ، Mixsplitter "Inspectre" اسکن را در 1500 مرحله در تنها 30 دقیقه در یک مکان کاربر پسند انجام می دهد.

ویژگی های فنی: نوع ، مدل: مستقیم نیکون اکلیپس Ni-U لنزهای میکرو: 100x NA-0.95 ، 40x NA-0.75 ، 20x NA-0.50 و غیره. عینک: 10x (اختیاری 12.5 x ، 15x) میز موتور دار: برای مدل های SRMSp و srm محدوده حرکتی XY موقعیت قابلیت بازتولید موقعیت دقت حداقل مرحله X=114 میلیمتر ، Y=75 میلیمتر < 0.5 میکرون 0.06 میکرون / 1 میلیمتر 0.02 میکرون دستی z-فوکوس: Z- حرکت محور حساسیت مکانیزم تمرکز 10 میلیمتر 0.1 میلی متر/انقلاب اسکنر Z: محدوده سفر لنز حداقل مرحله قابلیت بازتولید 80 میکرون 50 نانومتر < 6 نانومتر دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا: Peltier خنک شده (-20 درجه سانتیگراد نسبت به دمای محیط) نوع سنسور اندازه پیکسل ADC خنک کننده دوربین دیجیتال رنگی Ccd 4/3" ، 2048 x 2048 پیکسل 7.4 × 7.4 میکرون 14 بیت ، سرعت تا 16 فریم در ثانیه عنصر Peltier دوربین فیلمبرداری دیجیتال با وضوح بالا: بدون خنک کننده نوع سنسور اندازه پیکسل ADC دوربین دیجیتال رنگی Ccd 1/2" ، 2048 x 1536 پیکسل 3.2 × 3.2 میکرون 10 بیت ، 12 فریم در ثانیه سرعت ورودی لیزر: برجک اتوماتیک سه موقعیت

اسکن طیف سنج رامان کانفوکال با گزینه SPM ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).