دستگاه قطبیده-قطبینه سنج PKS-250M

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) مجهز به نگهدارنده های سنج تخصصی و تجهیزات نوری لازم برای انجام تحقیقات با استفاده از اثر نزدیک میدان. میکروسکوپ نوری نزدیک میدان بر اساس استفاده از خواص میدان نزدیک (evanescent) است که امکان غلبه بر حد پراش میکروسکوپ نوری کلاسیک را فراهم می کند. تمام میکروسکوپ های نزدیک میدان شامل چندین عنصر طراحی اساسی هستند: یک کاوشگر; سیستم حرکت سنج نسبت به سطح نمونه در امتداد مختصات 2 (X-Y) یا 3 (X-Y-Z) (سیستم اسکن); سامانه ثبت نام; سیستم نوری

مشخصات فنی: طرح نوری: اصلی با تفریق واریانس محدوده طول موج عملیاتی (راندمان گریتینگ > 40٪): 190-560 نانومتر باز شدن نسبی (در ورودی): 1/3. 6 فاصله کانونی (خروجی): 160 میلیمتر نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 10-7 وضوح طیفی (عرض شکاف ورودی و متوسط 0.22 میلی متر) : 1.3 نانومتر

ویژگی های فنی: طرح نوری: طرح تپه ای اصلاح شده با آینه های پارابولیک جبران آستیگماتیسم: بله کانال های طیف مستقل: 2 باز شدن نسبی (در ورودی): 1/4. 2 فاصله کانونی: 270 میلیمتر نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 2.5 x 10-5 بزرگنمایی افقی: 1.09 نانومتر ویژگی: تنظیم خودکار طول موج

پیکربندی اساسی میکروسکوپ سنج اسکن سرتوس ، طراحی شده برای حل طیف گسترده ای از وظایف تحقیقاتی و تحلیلی. اسکن موازی هواپیما در امتداد محورهای X ، Y و Z به شما اجازه می دهد تا یک تصویر از سطح را بدست آورید و ویرایش تصویر بعدی را با حداقل تحریف و از دست دادن اطلاعات انجام دهید; اسکن با هر دو پروب (یک اسکنر معمولی در داخل سر اسکن Certus) و یک اسکنر نمونه XYZ فوق سریع. اتصال هواپیما-موازی کاوشگر به نمونه مشکل اتصال دستی پر زحمت کاوشگر به نمونه را حل می کند. عرضه توسط سه تکیه گاه موتوری انجام می شود; طراحی باز سر اسکن امکان مشاهده سطح نمونه آزمایش را در زاویه 0-90 درجه ، نصب دستگاه ها و تجهیزات اضافی فراهم می کند; پیکربندی ماژولار اجازه می دهد تا میکروسکوپ سنج اسکن استاندارد Certus بر روی میکروسکوپ های نوری سنتی (مستقیم یا معکوس) نصب شود ، همراه با دستگاه های نوری و به تغییرات نوری Certus و Centaur ارتقا یابد.; تکنیک های اساسی SPM اجرا شده است. برای تغییر حالت عملکرد میکروسکوپ پروب اسکن (به عنوان مثال ، تغییر از عملیات در حالت میکروسکوپ نیروی اتمی به حالت میکروسکوپ تونل اسکن) ، کافی است نگهدارنده پروب را تغییر دهید.

این طراحی شده است برای انجام مطالعات جامع از خواص سطح با استفاده از میکروسکوپ نوری ، طیف سنجی و اسکن میکروسکوپ پروب. این اجازه می دهد تا به دست آوردن پراکندگی کامل رامان و/یا طیف های فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM. طراحی مجموعه منابع انسانی Centaur I به شما امکان می دهد با هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ نیروی اتمی) و ترکیب تکنیک ها (Afm-Raman ، لیزر کنفوکال و AFM) کار کنید.

مشخصات فنی: طرح نوری: لنز آینه اصلی باز شدن نسبی: 1/4. 9 فاصله کانونی: 40 میلیمتر پراکندگی خطی معکوس (متوسط): 34.9 nm / mm (شبکه دیفرانکشن 600 str/mm) ، 17.8 nm / mm (شبکه دیفرانکشن 1200 str / mm) وضوح طیفی: < 0.8 نانومتر (گریتینگ دیفرانکشن 600 str / mm) ، < 0.45 نانومتر (گریتینگ دیفرانکشن 1200 str/mm)

ویژگی های فنی: طرح نوری: یک جفت مونوکروماتورهای چرنی-ترنر با تفریق پراکندگی محدوده طول موج: 185 نانومتر - 60 میکرون باز شدن نسبی (در ورودی): 1/3. 8 فاصله کانونی: 300mm و 350mm نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 5 x 10-7 وضوح طیف: 0.07 نانومتر

میکروسکوپ سنج اسکن Certus Light V یک نسخه جمع و جور از SPM با حداقل عملکرد و هزینه است. تفاوت اصلی با نسخه اصلی Certus Light اسکن نمونه و سیستم تأمین دقیق تر است. این دستگاه شامل یک سر خواندن وضعیت کانتی لیور ، یک اسکنر مسطح چند منظوره ، یک سیستم تامین و نصب سر است. این دستگاه با حداقل پیکربندی یک واحد کنترل الکترونیکی که مستقیما در بدنه اصلی ساخته شده است کار می کند ، یعنی دستگاه یک بلوک است. امکان کنترل از راه دور دستگاه از طریق رایانه لوحی با استفاده از نرم افزار تخصصی برای سیستم عامل Android وجود دارد.

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur U اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

مشخصات فنی: فاصله کانونی: 1000 (2*500)میلی متر دیافراگم نسبی: 1/5. 9 وضوح طیف: 0.013 نانومتر (FEU) ، 0.017 نانومتر (دوربین دیجیتال (12 میکرومتر پیکسل)) پراکندگی خطی معکوس: 0.78 nm / mm تفاوت: وضوح طیف بالا و سطح نور محیط پایین.

مشخصات فنی: فاصله کانونی (خروجی): 350 میلیمتر دیافراگم نسبی (ورودی): 1/3. 8 پراکندگی خطی معکوس: 2.37 nm / mm

14 موتور پله ای با دقت بالا تمام قسمت های متحرک میکروسکوپ را کنترل می کنند و نرم افزار هوشمند خط بین تصاویر نوری و SPM را محو می کند. NEXT بزرگنمایی مداوم از تصاویر نوری پانورامیک میلیمتری تا وضوح اتمی را فراهم می کند و عملیات میانی مانند اشاره لیزر به کانتی لیور ، موقعیت نمونه ، تغذیه "نرم" و پیکربندی تکنیک های پیشرفته SPM به طور خودکار رخ می دهد.

ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

مشخصات فنی: فاصله کانونی: 520 میلی متر باز شدن نسبی: 1/5. 4 یک ویژگی متمایز: نسبت دیافراگم / وضوح طیف.