عينة مقسم ДПЦ-100

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) Ratis لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3d الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على سبيل EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

الميزات القرار المكاني من 1 µ م انتقال / انعكاس قياس 532 نانومتر و 785 نانومتر ليزر في مجهر واحد برمجيات احترافية للتعرف التلقائي على المواد يسمح النطاق الطيفي الممتد بالتحليل المتزامن لإشعاع رامان والتلألؤ ، والذي يوفر معلومات أكثر أهمية حول الكائن قيد الدراسة

يتميز مطياف МС-1104 Е بالأداء العالي ودقة قياسات موسباور التي تحققت من خلال استخدام الهندسة "المضغوطة" ، فضلا عن استخدام وحدات الكشف عن التلألؤ الرنانة عالية الكفاءة والانتقائية ، والتي تعمل على تحسين دقة الطاقة لخطوط امتصاص الرنين بنسبة تصل إلى 30٪. تسمح تقنية تثبيت البرامج والأجهزة للمسار الطيفي الذي تم تطويره واستخدامه في مقياس الطيف بقياسات موسباور طويلة المدى دون تعديل يدوي. تسمح طريقة التعديل في نطاقات السرعة المحددة بزيادة حساسية القياسات وتعبيرها بشكل كبير وتقليل الوقت لتحديد حجم تأثيرات امتصاص الرنين عشرة أضعاف في دراسة انتقالات طور درجة الحرارة بتركيز منخفض لعناصر الرنين. يتم تطوير المكونات الإلكترونية لمقياس الطيف على أساس قاعدة عناصر حديثة باستخدام صفائف منطقية ومعالجات دقيقة قابلة للبرمجة. يتم دمج مسارات الطيف قابل للتعديل وإمدادات الطاقة عالية الجهد من المضاعف الكهروضوئي في وحدات الكشف ، وحدات سائق المغير والتخزين متعدد القنوات مصنوعة في معيار ISA وتقع في وحدة المعالج من الكمبيوتر. يتم إعداد ومراقبة جميع معلمات مطياف ومعالجة الأطياف المقاسة من نوافذ التشغيل لبرامج التحكم والمعالجة. منذ عام 2000 ، تم توفير أكثر من عشرة مطياف من هذا النوع للمنظمات العلمية الرائدة في روسيا والدول المجاورة. وتجدر الإشارة إلى أن واحدة من التطبيقات الصناعية القليلة من موسباور الطيفي هو تطوير وتوريد إلى فولغودونسك نب من МС-1104 М أساليب مصدقة ومطياف لرصد عمليات التآكل في دوائر التبادل الحراري للمفاعل مفاعل طاقة من الماء إلى الماء.(ВВЭР)-1000.

NTEGRA Prima تنفذ عدة طرق المسح الضوئي: عينة المسح الضوئي ، التحقيق المسح الضوئي والمسح المزدوج. في هذا الصدد ، يعد النظام مثاليا لفحص العينات الصغيرة ذات الدقة العالية جدا ، وكذلك العينات الكبيرة في نطاقات المسح حتى 100 * 100 * 10 ميكرون. يسمح الوضع الفريد *DualScan * بالقياسات في الحقول الكبيرة (200-200 ميكرون في المستوى الأفقي و 22 ميكرون في الاتجاه الرأسي) ، والتي يمكن أن تكون مفيدة في دراسة الخلايا الحية ومكونات الأنظمة الكهروميكانيكية الدقيقة. تقوم مستشعرات التحكم في التغذية المرتدة السعوية المدمجة بثلاثة محاور بتتبع الإزاحة الحقيقية للماسح الضوئي وتعويض العيوب الحتمية للسيراميك ، مثل اللاخطية والزحف والتباطؤ. للتلاعب وأنماط الطباعة الحجرية ، والتنسيق الدقيق من ناتئ في حقول صغيرة تصل إلى 10 1 10 نانومتر مطلوب ، والتي يتم توفيرها من قبل أجهزة الاستشعار المثبتة في АСМ NTEGRA Primaمع نسبة إشارة إلى الضوضاء عالية. NTEGRA Prima لديه المدمج في نظام بصري مع قرار من 1 أوكتم ، والتي من الممكن لمراقبة عملية المسح في الوقت الحقيقي

المواصفات الفنية: البعد البؤري (الإخراج): 750 مم الافتتاح النسبي (عند المدخل): 1/8 ، 9 طيف الدقة هو 0.015 و 0.0008 (إيشيل) نانومتر في الطول. عرض: 1.02 و 0.055 (إيشيل) نانومتر / مم الفرق: دقة طيفية عالية ، محيط مثالي للخطوط الطيفية.

تم تصميم محلل حجم الجسيمات Микросайзер 201 لقياس توزيعات في حجم الجسيمات في البيئة السائلة. يتراوح حجم الجسيمات: لنموذج 201А -من 0.2 إلى 300 ميكرون لطراز 201С -من 0.2 إلى 600 ميكرون المواصفات: كاشف-مصوفة الثنائي الضوئي عدد قنوات التسجيل 38 وحدة إعداد العينة SP-306:  حجم الغرفة هو 100 مل  جهاز تغذية العينة-مضخة الطرد المركزي  تردد الإشعاع بالموجات فوق الصوتية هو 50 كيلو هرتز  قوة الموجات فوق الصوتية-تصل إلى 200 واط (قابل للتعديل) إدارة-كمبيوتر شخصي الأبعاد (الطول -العرض - العلو) ، الوزن:  وحدة بصرية: للطراز 201А -670 * 335 * 200 مم ، 21 كجم   لطراز 201С -670 * 335 * 200 مم ، 23 كجم  وحدة تحضير العينات: SP -306-420 * 335 * 395 مم ، 20 كجم

تم تصميم مرشح المختبر لترشيح المعلقات بكثافة تصل إلى 5 جم/سم 3 في ظروف المختبر في الوضع الدوري. الخصائص التقنية 56ФТ أقصى ضغط للهواء المضغوط المستخدم ، كجم / سم 26 عدد أكواب الترشيح القابلة للاستبدال 1 حجم النظارات ، لتر 8 الأبعاد الكلية ، مم الطول 675 العرض 435 ارتفاع 804 الوزن ، كجم 53

يسيطر 14 محركات السائر عالية الدقة على جميع الأجزاء المتحركة من المجهر ، والبرمجيات الذكية تطمس الخط الفاصل بين الصورة البصرية و صورة التحقيق والمسح الضوئي . يوفر NEXT التكبير المستمر بدأ من الصور البصرية بانورامية 1 ملليمتر إلى القرار الذري ، والعمليات المتوسطة مثل تصويب الليزر لافتا إلى ناتئ ، وتحديد المواقع عينة ، "لينة" التغذية وتكوين تقنيات التحقيق والمسح الضوئي المتقدمة تحدث تلقائيا.

تم تصميم المثخن لتكثيف المعلقات بكثافة تصل إلى 5 جم/سم 3 في ظروف المختبر. الخصائص التقنية ل ـ55СГ الإنتاجية ، كجم / ساعة 0.5..5 قطر ضريبة القيمة المضافة ، مم 700 ارتفاع ضريبة القيمة المضافة ، مم 430 قوة القيادة ، كيلوواط 0.12 سرعة السكتة الدماغية ، دورة في الدقيقة 0.28-1 الأبعاد الكلية ، مم الطول 780 العرض 710 الارتفاع 1500 الوزن ، كجم 110

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur I يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

المواصفات الفنية: مخطط بصري: عدسة مرآة الأصلي الافتتاح النسبي: 1 / 4.9 البعد البؤري: 40 مللي متر تشتت خطي معكوس (متوسط) : 34.9 نانومتر / مم (حيود مقضب 600 شارع / مم) ، 17.8 نانومتر / مم (حيود مقضب 1200 شارع / مم) القرار الطيفي: < 0.8 نانومتر (حيود مقضب 600 شارع / مم) ، < 0.45 نانومتر (حيود مقضب 1200 شارع / مم)

مجهر رامان M532 يجمع بين قدرات محلل سريع “Enspectrum” R532 المحمولة رامان وU300M المجهر ، تكييفه لكلا انتقال و انعكاس القياسات. تتيح الوظيفة الواسعة لمجهر M532 العثور على جسيمات فردية بحجم 2-3 كتلة القصور لتحليلها من بين العديد من الجسيمات المماثلة ذات الخصائص الفيزيائية والكيميائية المتشابهة ، مما يفتح فرصا بحثية جديدة في إطار نظام رامان واحد. تضمن الدقة المكانية البالغة 1 كتلة القصور لمكعب والدقة الطيفية البالغة 4-6 سم -1 دقة قياس ممتازة واستنساخ النتائج. يسمح التصميم المدمج وقابلية نقل الأداة بتحليل عالي الجودة وفوري للمواد دون تحضير العينة ، مما يجعل مجهر M532 أداة لا غنى عنها لمجموعة واسعة من الدراسات. مزود بشريحة آلية (اختياري) بزيادات قدرها 0.36 كتلة القصور ، يقوم مجهر M 532 بمسح سطح العينة ، ويتعرف على المواد في الخلائط غير المتجانسة متعددة المكونات ويخلق صورة رسومية لشدة خطوط رامان المميزة في نقاط مختلفة على السطح (2D mapping) ، مما يجعل مجهر M 532 هو مجهر رامان الأكثر ربحية من حيث السعر والجودة في السوق العالمية

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). . فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان أو رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur Duos يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.). المجهري). . فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur Duos يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

الخصائص التقنية: المجهر: نيكون ني المجهر المباشر مع برج لمدة 6 العدسات الصغيرة ، مع إضاءة الصمام الثنائي للتشغيل في وضع مجال الضوء في الضوء المنعكس وكاميرا مراقبة الفيديو اللون*. يتم اختيار مجموعة العدسات بشكل فردي بناء على نوع العينات التي يتم قياسها. عقدة قطع (قطع) المرشحات ، وقياس مدى أطياف رامان: حافة قابلة للاستبدال تلقائيا * * * المرشحات التي توفر التشغيل في النطاقات التالية: 532 نانومتر: من 60 سم-1 إلى 4500 سم-1 633 نانومتر: من 60 سم-1 إلى 4500 سم-1 785 نانومتر: من 50 سم-1 إلى 2900 سم-1 مطياف: مطياف مسح عالي الكفاءة مع بصريات مصممة للنطاق: 400-1100 نانومتر.** شبكات الحيود: ما يصل إلى 4 شبكات مثبتة في برج الدقة الآلي: 2400 شتر/مم ، 1800 شتر/مم ، 1200 شتر/مم ، 600 شتر/مم. كاشف: حساسة للغاية باكثين كسد كاشف مع التبريد الحرارية. نطاق الحساسية الطيفية: 200-1100 نانومتر. عدد البكسل: 2048 * 122, حجم البكسل: 12 ميكرون, التبريد: حتى -40 C درجة مئوية أو كاشف سي سي دي 1600 * 200 مع تبريد يصل إلى -60 C درجة مئوية. الدقة الطيفية: 1.4 سم-1 (0.7 سم-1/بكسل) مع صريف 2400 شارع/مم أو ما يصل إلى 0.3 سم-1 مع صريف إيشيل (لليزر 532 نانومتر). الثقب متحد البؤر: تجميع آلي للأغشية متحد البؤر القابلة للاستبدال( الثقوب): 10 ميكرون ، 30 ميكرون ، 40 ميكرون ، 50 ميكرون ، 100 ميكرون ، 1000 ميكرون. الليزر: يمكن تركيب ما يصل إلى ثلاثة أنواع من الليزر بأطوال موجية 405 و 488 و 532 و 633 و 785 نانومتر مع تبديل آلي بالكامل***. عينة المسح الضوئي: الدقة الآلي س ص (شيز) الجدول مع مجموعة من الحركات من 100 * 75 ملم والحد الأدنى من الملعب من 100 نانومتر (س ص) و 20 نانومتر (ض) أو س ص (شيز) الجدول الآلي مع مجموعة من الحركات من 115 * 75 ملم مع التشفير. المعايرة التلقائية والتحقق من الصحة: المدمج في مصباح ني للمعايرة التلقائية للأداة. الضمان القياسي: فترة الضمان 24 شهرا. عمر ليزر مضمون: 10000 ساعة. إنجازات الإلكترونيات الضوئية وخبرة الشركة البالغة 25 عاما في مجال الأجهزة الطيفية والليزر. الخصائص التقنية: المجهر: نيكون ني المجهر المباشر مع برج لمدة 6 العدسات الصغيرة ، مع إضاءة الصمام الثنائي للتشغيل في وضع مجال الضوء في الضوء المنعكس وكاميرا مراقبة الفيديو اللون*. يتم اختيار مجموعة العدسات بشكل فردي بناء على نوع العينات التي يتم قياسها. عقدة قطع (قطع) مرشحات ، قياس نطاق أطياف رامان: حافة قابلة للاستبدال تلقائيا * * * مرشحات تضمن التشغيل في النطاقات التالية: 532 نانومتر: من 60 سم-1 إلى 4500 سم-1 633 نانومتر: من 60 سم-1 إلى 4500 سم-1 785 نانومتر: من 50 سم-1 إلى 2900 سم-1 مطياف: مطياف مسح عالي الكفاءة مع بصريات مصممة للنطاق: 400-1100 نانومتر.** شبكات الحيود: ما يصل إلى 4 شبكات مثبتة في برج الدقة الآلي: 2400 شتر/مم ، 1800 شتر/مم ، 1200 شتر/مم ، 600 شتر/مم. كاشف: حساسة للغاية باكثين كسد كاشف مع التبريد الحرارية. نطاق الحساسية الطيفية: 200-1100 نانومتر. عدد البكسل: 2048 * 122, حجم البكسل: 12 ميكرون, التبريد: حتى -40 C درجة مئوية أو كاشف سي سي دي 1600 * 200 مع تبريد يصل إلى -60 C درجة مئوية. الدقة الطيفية: 1.4 سم-1 (0.7 سم-1/بكسل) مع صريف 2400 شارع/مم أو ما يصل إلى 0.3 سم-1 مع صريف إيشيل (لليزر 532 نانومتر). الثقب متحد البؤر: تجميع آلي للأغشية متحد البؤر القابلة للاستبدال( الثقوب): 10 ميكرون ، 30 ميكرون ، 40 ميكرون ، 50 ميكرون ، 100 ميكرون ، 1000 ميكرون. الليزر: يمكن تركيب ما يصل إلى ثلاثة أنواع من الليزر بأطوال موجية 405 و 488 و 532 و 633 و 785 نانومتر مع تبديل آلي بالكامل***. عينة المسح الضوئي: الدقة الآلي س ص (شيز) الجدول مع مجموعة من الحركات من 100 * 75 ملم والحد الأدنى من الملعب من 100 نانومتر (س ص) و 20 نانومتر (ض) أو س ص (شيز) الجدول الآلي مع مجموعة من الحركات من 115 * 75 ملم مع التشفير. المعايرة التلقائية والتحقق من الصحة: المدمج في مصباح ني للمعايرة التلقائية للأداة. الضمان القياسي: فترة الضمان 24 شهرا. عمر ليزر مضمون: 10000 ساعة.

NTEGRA Spectra II هو بالفعل الجيل الثاني من نظام القياس الذي يوضح توحيد عالمين بنجاح: التحيل الطيفي لرومانف و مجهر القوة الذرية. من رسم الخرائط الإغاثة إلى التحليل الطيفي من دراسات الخواص الكهربائية والميكانيكية للقياسات البصرية مع قرار أقل من حد الحيود. الآن يمكن للعلماء إجراء تحليل فيزيائي كيميائي كامل للخصائص السطحية للعينة في وقت واحد. نتيجة لذلك ، يتمتع الباحثون بفرص غير محدودة لتطوير تقنياتهم المختبرية.

مسح مطياف رامان متحد البؤر مع خيار СЗМ الأبعاد المدمجة أتمتة كاملة للنظام التصميم الأصلي من مطياف فتحة عالية للجهاز مع الحد الأدنى من الخسائر البصرية. يتم تصنيع الدائرة متحد البؤر وفقا للمخطط الأصلي ، وتوفر أبعادا مدمجة وأقل انجرافات للعناصر البصرية. يوفر المجهر الضوئي المدمج البحث عن موقع مناسب للقياسات. تستخدم المكونات الميكانيكية الدقيقة والبصريات في التصميم. يمكن استخدامه في كل من المختبرات الصناعية والجامعات البحثية.