NANO SKAN TEKHNOLOGIYA

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它能够获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I 的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）.

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱，共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图），扫描探针显微镜（AFM）图像。 Centaur Duos的设计允许使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）以及技术的组合（包括联合扫描场、AFM/拉曼研究等)

扫描探针显微镜（SPM）与直接和倒置研究级的光学显微镜相结合。 专设计用于光学和原子力显微镜研究。 Certus 是XYZ三维扫描探针显微镜头，用于获取AFM图像（一般为地形）和/或将探针可以定位在样品表面; Ratis是定位和扫描装置(XY(Z)piezostolic) 显微镜视野追踪样品定位和/或扫描样品; 正置光学显微镜（Olympus BX51为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 倒置光学显微镜（Olympus IX71为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 镜头机械Z字行运动; 用于Vectus镜头的单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场3d图像; 样品定位装置，用于选择表面上或在体积中的某个区域; EG-3000单个控制器，控制该系统的所有部分; NSpec软件。

扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

带有SPM功能的扫描共聚焦拉曼光谱仪 尺寸小 全自动化系统 光谱仪原创设计 仪器保持高亮度的同时，保证最小光学的损失 共焦电路根据原始方案制成，超小体积和光学元件的最小漂移。 内置的光学显微镜提供了易于搜索的测量点. 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

入门级扫描探针显微镜(SPM) 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得表面的图像，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 扫描头的开放式设计允许以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 模块化配置可以将Certus Light扫描探针显微镜安装在传统的光学显微镜上（直立式或倒置式），并与光学仪器相结合，升级为Certus标准版、Certus光学版和Centaur版本

扫描器是金属仪器（由优质合金制成，通常是铝），其中用于压电陶瓷致动器的通道、平台的移动元件等是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。 这种设计提供了极好的线性和运动的平面性，不同于传统的基于压电的扫描仪，这个扫扫描面是一个球体。 此外，与脆性压电管相比，平面平行扫描仪具有较高的机械强度。