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入门级扫描探针显微镜(SPM) 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得表面的图像，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 扫描头的开放式设计允许以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 模块化配置可以将Certus Light扫描探针显微镜安装在传统的光学显微镜上（直立式或倒置式），并与光学仪器相结合，升级为Certus标准版、Certus光学版和Centaur版本

紧凑的尺寸 全自动化系统 原创光谱仪设计 装置具有最小光学损失的高亮度 共焦电路根据原始设计图制成，提供了紧凑的尺寸和光学元件的最小漂移 内置的光学显微镜提供寻找测量点的简单方法 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（Raman或Raman CR）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）和SPM（AFM）图像。 Centaur u的设计可以使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）和技术的组合（包括联合扫描场，AFM/拉曼研究等）。

扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

NTEGRA Prima是一款具备原子级分辨的高端科研型原子力显微镜。NTEGRA代表N个integration，即NTEGRA作为开放的原子力显微镜平台，在具备了形貌、电学、磁学、力学、刻蚀、操纵等SPM技术的同时，还能根据用户的潜在需求配备相应的部件或提供最佳的自由搭建空间。例如：近场光学、拉曼/荧光光谱联用、外加磁场、声学原子力等功能。得益于开放式平台的设计，这些功能只需要升级相应部件，无需更换基座、控制箱、软件等。大大提升了仪器的潜力，丰富了用户的科研手段！

NTEGRA AURA是在真空中使用扫描探针显微镜技术的高效研究装置，使其能够比同类高真空系统更快地达到运行状态，在这种真空条件下Q值在1分钟内能增长10倍！尺寸紧凑和易于维护是仪器重要的优势。

扫描探针显微镜 Certus Light V是扫描探针显微镜的一个紧凑版本，具有最低的功能和成本。 与基本版本Certus Light的主要区别在于样品扫描和更精确的供应系统。 该设备由读取悬臂状态的磁头，多功能平面扫描仪，供应系统和磁头安装组成。 该装置的操作是直接由主体中内置的最小配置的电子控制的，即该设备是单体设备。它可以通过平板电脑使用Android操作系统的专用软件进行远程控制。

观察和测量材料结构中的晶粒和缺陷，分辨率精确到原子（1986 年诺贝尔奖），替代金相显微镜和电子显微镜： 放大倍数：从 2000 倍到 1000 万倍。 测量范围：0.2 毫微米 至 30 微米 所有基本（STM、接触和振动 AFM）模式，以及超过 25 种附加模式”

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱，共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图），扫描探针显微镜（AFM）图像。 Centaur Duos的设计允许使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）以及技术的组合（包括联合扫描场、AFM/拉曼研究等)

它的设计用于通过光学显微镜，光谱学和扫描探针显微镜对表面性质的复杂研究。 它能够获得完整的拉曼散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I HR的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它能够获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I 的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）.

纳米领域的跨学科研究：AFM +共聚焦拉曼+ SNOM + TERS SPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪的集成。由于尖端增强了拉曼散射，因此可以以高达10 nm的分辨率进行光谱/显微镜